Изобретение относится к масс-спек- трометрии и может быть использовано при элементном анализе ионных пучков.
Цель изобретения - повышение разрешающей способности и расширение диапазона анализируемых масс.
На фиг. 1 изображена схема устройства для реализации предлагаемого способа; иа фиг. 2 - график функции у « U(t), где U - потенциал отражающего поля, t - время.
Устройство содержит источник 1, представляющий собой плоский конденсатор, состоящий из электрода 2 и сетки 3.
Из источника 1 частицы направляются через сетку 3 в первое бесполевое
пространство 4. После пролета бесполевого пространства частицы разделяются а ионные пакеты с определенным отношением и далее попадают в отражающую систему 5, где на них действует отражающее поле.
Находясь в отражающем поле, частицы одного ионного пакета, отразившись , приобретают различные энергии на выходе из него, причем те частицы, которые имели большую по сравнению с другими частицами пакета энергию, приобрели меньшую энергию, а более медленные частицы приобрели большую энергию. Отражающая система 5 состоит из сетки 6, через которую проходят ионы, и пластины 7, на кото 1
со
СП
О
31
рую подается переменный электрический потенциал в виде последовательности импульсов для последовательности пакетов с определенным отношением jv /g«. Время подачи импульсов 1-го сорта определяется как
t,
1 U2e;g;
Временная протяженность пакетов растет с ростом протяженности беспо- левого пространства и определяет длительность подаваемых импульсов как
-, № р. 1т
bt и&Н2е7дё Т)
После того, как пакеты были подвергнуты воздействию электрического поля в отражающей системе 5, они направляются в бесполевое пространство 8, где их временная протяженность сокращается по мере движения, и сфокусированные таким образом пакеты ионов попадают на детектор 9.
Потенциал отражающего поля выбирается .таким, чтобы быстрые и медленные частицы одного ионного пакета с отношением tiiV/g имея начальный разброс по энергиям, получали различные приращения энергии после отражения, причем Аи - AU ДР, где AUU - приращение энергии частиц, которые .имели в первом бесполевом пространстве меньшую скорость, а Ди - приращение энергии частиц, имевших большую скорость. Таким образом, конкретной величине АЕ ставится в соответствие определенный вид функции U(t). Величина, реализующая это соответствие - функционал вида
. «жЬ ф.
где А и В - величины, зависящие от
та;.Ј, Ь
В этом случае временная протяженность пакета на входе в отражающее поле компенсируется временной протяженностью пакета при пролете второго бесполевого пространства. Временная протяженность пакета ионов при прохождении пролетного пространства равна
at; тэ Т2Е74Г
ue
ТЗЕТГГ ТТ
где 1 - длина бесполевого пространства4,
7375604
4 6- величина энергетического рразброса частиц одного ионного пакета А 6 6г - 6, j
ES
- средняя энергия
2. + Ј
..
частиц пакета ионов , 62, Ј - энергия быстрой и медлен- ной частиц.
ot- - S t 81 - разница во временных протяженностях пакета ионов на входе в отражающее поле и на выходе из него оценивается как
5
St 2Smf
a gr+Teт-i T§)2
где S - протяженность отражающего полевого пространства
(фиг.2).
За начальный момент времени t О принимается момент образования ионов в источнике 1, между электродом 2 и J сеткой 3. Все времена отсчитываются от этого момента.
Ширина пакета иочов на входе в отражающую систему определяется из следующих соображений. Пусть t1} t - времена пролета пространства 4 (от источника ионов до системы отражения) частицами одного пакета, обладающими энергиями Е и Еа, причем Е , где ДЕ - разброс по энергиям частиц одного па- 5 кета. Время
, т i m
Ч - Ч2Ё7
а i,2).
Тогяаг-
6t.tf-t, , ). N/ iЈ л(Ё7
Учитывая, что Ег - Ј - ЬЕ, и Е Е + Lz./2 получим Е, Ё1 + UE / и Е В. - ДЕ ,/2. Подставляя значения Е и в выражения для u t и преобразуя го, получим Формулу 1И
ut -
UE,
: Е
1 - Tggr
(1)
Приравнивая второй сомножитель в правой части равенства (1) к & Е ( & Е, Е|) , получим
t ni Ab to &Е (2)
Так как fl t fit - Л tB Д t, &te, то, приравнивая значение шири5I
,ны пакета до отражения At и после него ut6, можно определить величину разброса частиц по энергиям ДЕ, который необходимо создать для фокусировки частиц в плоскости детектора.
Рассмотрим общий случай, когда длина дрейфового пространства L до системы отражения и длина Ьг дрейфового пространства от системы отражения до детектора не равны. В этом случае
Ег № АЕ(г-
Е, Е„
Г1
(3)
где Е4 - средние энергии одного пакета ионов до систе мы отражения и после нее.
В случае, если Ц 1., ДЕ4
, - - . S/
1Ег/Е), 1 Afji, откуда при выполннии условий 1Г - Е, , UEj« Ej (i 1,2) следует, чтоДЕгк.ДЕр В это случае вид функции, описывающей зависимость потенциала, подаваемого « электрод отражающей системы от времени, находится из равенства
t+&Ufctfl
ti+ui
J U(t)dt
t
- J U(t)dt 0 (4)
е
if
s & t - ширина пакета ионов на
входе в отражающую систеj.му;
момент времени, в который частица пакета ионов с наибольшей скоростью (быстрая частица) достигает системы отражения,
At , At - времена пребывания быстрой и медленной (частицы с наименьшей скоростью) частиц - в системе отражения. В случае ДЕ,/ &Ег, А.Е1 - &Е2 АЕа, это равенство записывается в
-з
ВИДе tf+Atut
tV
ДЕ. - f U(t)dt - | U(t)dt
Э-й-4 v
+. +AfJ.
где
AE,
&E,
ьЧ
При этом получим
тт. л. 1 Ji: Л
u;fc т Le -u7375606
Так как длина бесполевого дрейфл- вого пространства должна быть выбрана с условием, что временной промежуток между пакетами, образующийся в проi цессе дрейфа, должен быть большем, чем временная протяженность пакетл в области фокусировки, т.е.
At
2 it ,
dm m
np
dm «
(6)
то для длины L получим: U-R
где
m
R - IT - fl
dm U Ч IP
(7)
Формула изобретения
Способ времяпролетной масс-спек- трометрии, заключающийся в последовательном разделении однозарядных частиц в первом бесполевом пространстве на пакеты ионов с определенной массой, направлении частиц в отражающее попе, отклонении частиц в отражающем поле, направлении во второе бесполевое пространство и последующей регистрации выходного сигнала, отличающийся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и расширения диапазона анализируемых масс, потенциал отражающего поля UJ для пакетов ионов определенной массы выбирают из условия
1 Л8{ .&t; Г At Y
и; - ъ Iе - 1j ,
где u€j - начальный разброс по
энергиям частиц в пакете ионов (Дж), А & 1/Јt;
I т 2
ut, -jfa piri Д временная протяженность пакета на входе в систему отраже- ния, с ,
|4- - Ренен
ная протяженность пакета на выходе из системы отражения , с ,
L - протяженность бесполевого пространства, удовлетворяющая неравенству
LiRra S ,
г -- -п
S - протяженность отражающего поля, м;
1737.5608
Ј - средняя энергия пакета
ионов, Дж;
m - масса частицы, кг; t - время, с; е - заряд электрона, К.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ВРЕМЯПРОЛЕТНОЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИИ | 1990 |
|
RU2020646C1 |
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР | 2005 |
|
RU2295797C1 |
Времяпролетный масс-спектрометр с многократным отражением | 1989 |
|
SU1725289A1 |
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР | 2001 |
|
RU2239910C2 |
Способ масс-анализа ионов | 1990 |
|
SU1758705A1 |
Времяпролетный масс-спектрометр | 1982 |
|
SU1095272A1 |
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР | 2008 |
|
RU2381591C2 |
Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре | 1988 |
|
SU1691905A1 |
Способ формирования массовой линии ионов во времяпролетном масс-спектрометре | 2016 |
|
RU2644578C1 |
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР | 1967 |
|
SU198034A1 |
Использование: относится к масс- спектрометрии. Сущнрстъ изобретения: в источнике 1 ускоренные ионы направляются в первое бесполевое пространство. Разделенные на пакеты ионы под- вегаются воздействию переменного во времени отражающего поля. После прохождения второго бесполевого пространства ионы фокусируются в плоскости детектора. 2 ил. ел
to/af
t
Thortnard N., Payne M.G., Wright M.C | |||
and Schitt H.W | |||
Noble gas atom cainting using RIS and TOF- mass spectrometry | |||
Inst | |||
Phys | |||
Cent | |||
Контрольный стрелочный замок | 1920 |
|
SU71A1 |
ЖЭТФ, 1973, т.бА, вып.I, c.82-89 | |||
Мамырин Б.А., Каратаев В.И., Шпикк Д.В., Загулин В.А | |||
Масс-рефяек- трон | |||
Новый безмагнитный времяпролет- ный масс-спектрометр с высокой разрешающей способностью | |||
( СПОСОБ ВРЕМЯПРОЛЕТНОЙ МАСС-СПЕК- ТРОМЕТРИИ |
Авторы
Даты
1992-05-30—Публикация
1989-03-09—Подача