Селективный интерференционный светофильтр Советский патент 1992 года по МПК G02B5/28 

светофильтра и исключает побочные максимумы.

Коэффициент отражения светофильтра равен произведению коэффициентов отражения отдельных фильтрующих устройств, и контур рабочей полосы светофильтра получается перемножением ординат контуров составляющих. Для уничтожения побочных максимумов важно, чтобы первый минимум одного фильтрующего устройства попал на первый побочный максимум другого фильтрующего устройства, т. е. контуры полос от- ражения составляющих фильтрующих устройств должны быть сдвинуты один относительно другого на расстояние ЛЯ от минимума до первого побочного максимума.

При интерференции N пучков света с одинаковыми амплитудами ближайший к главному максимуму минимум получается при разности фаз

AIn

UMHH

N

(1)

Первый побочный максимум находится при разности фаз

Омакс (2)

Тогда разность фаз AS между ближайшим к главному максимуму минимумом и первым побочным максимумом будет

(3)

л

А б -Омакс Омин - |

ДА Ао

(4)

Соответствующая такой разности фаз разность длин води будет Ар 2Л 2 N

где АО - длина волны, используемая при изготовлении фильтрующего устройства;

N - число отражающих слоев фильтрующего устройства.

Так как угол , то можно записать

Отсюда

f

Др ДА(-) ,(6)

Подставляя (4) в (6), получаем

W

dA d p

™(г)

Из фиг. 3 вытекает,

что производная

находится в пределах

150 нм/рад

dA

dA

350 нм/рад.

Подставляя полученные данные для в (7), находим предельные значения

d (p для угла

10

15

20

25

30

35

40

45

50

55

10 3-10

-з

- 1

AoN 3AoN , нм

Этот угол можно задавать, плавно поворачивая одно из фильтрующих устройств относительно другого. Угол между выходной гранью отражательной призмы основного фильтрующего устройства и входной гранью призмы дополнительного фильтрующего устройства в плоскости боковой грани призмы будет равен изменению угла падения света на устройство.

Селективный интерференционный светофильтр состоит из двух фильтрующих устройств, каждое из которых состоит из отражательной призмы, на катетных гранях которых в оптическом контакте находятся интерференционные отражательные светофильтры из чередующихся полуволновых прозрачных и взаимно идентичных отражающих полупрозрачных слоев, полученных методом стоячих волн при засветке фотопластинки типа ЛОИ 2 светом гелий-неонового лазера ЛГ-36 с АО 644 нм.

Оба фильтрующих устройства установлены последовательно одно за другим так, что грань отражательной призмы АВ первого фильтрующего устройства расположена параллельно грани А в второго фильтрующего устройства (фиг. 1). На полученный такимобразомселективныйинтерференционный светофильтр направляется коллимированный пучок белого света от лампы накаливания. Потом плавно поворачивается одно из фильтрующих устройств для небольшой перестройки его рабочей полосы.

Формула изобретения

Селективный интерференционный светофильтр, содержащий фильтрующее устройство из отражательной призмы с углами 90°, 60°, 30° и светофильтра из чередующихся полуволновых прозрачных слоев и взаимноидентичныхотражающихполупрозрачных слоев, расположенных на катетной грани призмы в оптическом контакте с ней, отличающийся тем, что, с це/ эЮ увеличения контрастности светофильтра и сужения контура его полосы, в него введено дополнительное фильтрующее устройство, идентичное вышеуказанному, установленное входной гранью отражательной призмы квазипараллельно выходной грани основной отражательной призмы, при этом угол Д (рад) между указанными гранями в плоскости боковой грани призмы выбран из условия

10 3 AoN 1 A

где N - число отражающих слоев фильтрующего устройства;

АО - длина волны светофильтра, нм.

-за -го -я о ю го J0 40 /

(Оиг 2

10

15

20

JM

Фиг.З