Способ изготовления контактных столбиков для межсоединений интегральных схем Советский патент 2008 года по МПК H01L21/28 

Похожие патенты SU1769635A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НАКОПИТЕЛЬНОГО КОНДЕНСАТОРА ЭЛЕМЕНТА ПАМЯТИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ 1990
  • Турцевич Аркадий Степанович[By]
  • Красницкий Василий Яковлевич[By]
  • Довнар Николай Александрович[By]
  • Родин Георгий Федорович[By]
  • Наливайко Олег Юрьевич[By]
RU2110870C1
Способ изготовления контактов интегральных схем 1990
  • Турцевич А.С.
  • Довнар Н.А.
  • Красницкий В.Я.
SU1766208A1
МЕЖЭЛЕМЕНТНЫЕ СОЕДИНЕНИЯ 1990
  • Турцевич А.С.
  • Довнар Н.А.
  • Родин Г.Ф.
  • Козачонок Г.М.
  • Малышев В.С.
SU1825236A1
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СИСТЕМЫ МНОГОУРОВНЕВОЙ МЕТАЛЛИЗАЦИИ НА ОСНОВЕ ВОЛЬФРАМА ДЛЯ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ 2015
  • Бенедиктов Александр Сергеевич
  • Игнатов Павел Викторович
  • Гвоздев Владимир Александрович
RU2611098C1
ДЕТЕКТОРЫ ПАДЕНИЯ И СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПАДЕНИЙ 2009
  • Бальдус Хериберт
  • Хартсен Якоб Р.
  • Шлумбом Штефан
  • Деккер Роналд
  • Де Граф Паскаль
  • Ван Вен Николас Й.А.
  • Схиппер Альфонсус Т.Й.М.
RU2559933C2
Ячейка сегнетоэлектрической памяти 2016
  • Красников Геннадий Яковлевич
  • Орлов Олег Михайлович
  • Воронов Даниил Дмитриевич
  • Иванов Сергей Владимирович
  • Итальянцев Александр Георгиевич
RU2649622C1
УСТРОЙСТВО ОТОБРАЖЕНИЯ 2009
  • Мориваки Хироюки
RU2464647C1
ПАРОГАЗОВАЯ СМЕСЬ ДЛЯ ОСАЖДЕНИЯ ВОЛЬФРАМА НА КРЕМНИЙ 1991
  • Турцевич А.С.
  • Красницкий В.Я.
  • Андреев П.Е.
  • Трубинова Т.Н.
  • Сасновский В.А.
  • Сарычев О.Э.
SU1823712A1
ПОДЛОЖКА ДЛЯ УСТРОЙСТВА ОТОБРАЖЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ОТОБРАЖЕНИЯ 2009
  • Мориваки Хироюки
RU2465656C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО УСТРОЙСТВА 1997
  • Ли Джо-Янг
  • Ким Ки-Нам
RU2176423C2

Реферат патента 2008 года Способ изготовления контактных столбиков для межсоединений интегральных схем

Способ изготовления контактных столбиков для межсоединений интегральных схем, включающий формирование слоя кремния на боковых поверхностях контактного окна в диэлектрическом слое, расположенном на полупроводниковой кремниевой подложке с созданными активными и пассивными элементами и первым проводящим слоем, селективное осаждение вольфрама и нанесение второго проводящего слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения выхода годных интегральных схем и снижения трудоемкости за счет сокращения длительности процесса формирования контактного столбика, слой кремния формируют до полного заполнения контактного окна, а осаждение вольфрама проводят из парогазовой смеси гексафторида вольфрама с инертным газом при соотношении ингредиентов 1/50-1/3 при 400-550°C и давлении 35-266 Па в течение 30-120 мин.

SU 1 769 635 A1

Авторы

Турцевич А.С.

Красницкий В.Я.

Сасновский В.А.

Турцевич В.В.

Сарычев О.Э.

Даты

2008-01-20Публикация

1991-01-22Подача