Анализатор спектра электрических сигналов Советский патент 1992 года по МПК G01R23/16 

Изобретение относится к технике анализа спектра электрических сигналов.

Цель изобретения - расширение области анализируемых частот и повышение точности измерения.

На чертеже представлена структурная схема устройства.

Анализатор содержит лазерный источник 1 света, формирователь 2 пучка света, призму 3, на отражающую грань которой нанесена пленка 4 магнитооптического материала (MOM), анализатор 5, Фурье-объектив 6, фоторегистратор 7, магнитную ленту 8 с блоками 9 и 10 записи и протяжки и износостойкое диэлектрическое покрытие 11.

Устройство работает следующим образом.

На магнитную ленту записывается исследуемый сигнал. Блок 10 протяжки протягивает магнитную ленту с сигналограммой под пленкой MOM. Поля рассеяния сигна- лограммы наводят в пленке MOM структуру намагниченности, аналогичную сигналогд(р + в)-д((р-0)

2U2Ln

Acos(fp + 0) Я cos (р-в)

О

где р- угол распространения света,

б - скачок фаз при полном внутреннем отражении,

в- угол дифракции, 10 L - толщина покрытия, А-длина волны света, л - показатель преломления. В этом случае за счет сдвига фаз в износостойком слое компенсируется изменение 15 АЧХ, обусловленное этим сдвигом и за счет этого расширяется диапазон анализируемых частот и повышается точность измерения.

20 Формула изобретения

Анализатор спектра электрических сигналов, состоящий из источника лазерного излучения, формирователя пучка излучения, призмы полного внутреннего отражения, на

рамме. )Ьвет лазерного источника 1 расши- 25 отражающей грани которой расположена

ряется формирователем 2 и пройдя через призму 3 освещает пленку 4 MOM, где дифрагирует на индуцированной структуре намагниченности. Продифрагировавшие лучи попадают в износостойкое покрытие 11. За счет того, что лучи распространяются под разными углами, между ними возникает разность фаз. После полного внутреннего отражения и прохождения покрытия 11 в

пленка магнитооптического материала, поляризатора, Фурье-объектива и фоторегистратора, расположенных последовательно на ходу луча света, фоторегистратор в фо- 30 калькой плоскости объектива, магнитной ленты с блоком протяжки и записи, соприкасающейся с пленкой, отличающий- с я тем, что, с целью расширения диапазона анализируемых частот и повышения точнопленка магнитооптического материала, поляризатора, Фурье-объектива и фоторегистратора, расположенных последовательно на ходу луча света, фоторегистратор в фо- 30 калькой плоскости объектива, магнитной ленты с блоком протяжки и записи, соприкасающейся с пленкой, отличающий- с я тем, что, с целью расширения диапазона анализируемых частот и повышения точнообратном направлении лучи света вновь по- 35 сти измерения, призма содержит дополни- падают в MOM и дифрагируют. Лучи, про- дифрагировавшие после первого и второго прохода MOM, интерферируют. Поскольку разность фаз, возникшая при полном внутреннем отражении, компенсирована ело- 40 ем диэлектрика, амплитуды лучей складываются и прекращается перекачка энергии между порядками дифракции, в результате чего выравнивается АЧХ. После этого продифрагировавшие лучи выхо- 45 дят из призмы 3, проходят анализатор 5, Фурье-объектив 6 и формируют в его фокальной плоскости спектр электрического сигнала. Фоторегиетратор 7 производит считывание спектра,. 50

При этом толщина диэлектрического покрытия должна удовлетворять условию

Составитель А.Орлов РедакторТехред М.Моргентал

тельно прозрачное износостойкое покрытие, нанесенное на пленку магнитооптического материала, толщина которого удовлетворяет условию

а (р + 0) -д(р-в)

2 U2 U

A cos ((р + в ) A cos (p- в)

где у -угол распространения света;

б - скачок фаз при полном внутреннем отражении;

в- угол дифракции;

L - толщина покрытия;

А- длина волны света;

п - показатель преломления.

Корректор Н.Тупйца

д(р + в)-д((р-0)

2U2Ln

Acos(fp + 0) Я cos (р-в)

где р- угол распространения света,

б - скачок фаз при полном внутреннем отражении,

в- угол дифракции, L - толщина покрытия, А-длина волны света, л - показатель преломления. В этом случае за счет сдвига фаз в износостойком слое компенсируется изменение АЧХ, обусловленное этим сдвигом и за счет этого расширяется диапазон анализируемых частот и повышается точность измерения.

Формула изобретения

Анализатор спектра электрических сигналов, состоящий из источника лазерного излучения, формирователя пучка излучения, призмы полного внутреннего отражения, на

отражающей грани которой расположена

пленка магнитооптического материала, поляризатора, Фурье-объектива и фоторегистратора, расположенных последовательно на ходу луча света, фоторегистратор в фо- калькой плоскости объектива, магнитной ленты с блоком протяжки и записи, соприкасающейся с пленкой, отличающий- с я тем, что, с целью расширения диапазона анализируемых частот и повышения точности измерения, призма содержит дополни-

сти измерения, призма содержит дополни-

в

тельно прозрачное износостойкое покрытие, нанесенное на пленку магнитооптического материала, толщина которого удовлетворяет условию

а (р + 0) -д(р-в)

2 U2 U

A cos ((р + в ) A cos (p- в)

где у -угол распространения света;

б - скачок фаз при полном внутреннем отражении;

в- угол дифракции;

L - толщина покрытия;

А- длина волны света;

п - показатель преломления.

Корректор Н.Тупйца

Изобретение относится к технике анализа электрических сигналов. Цель изобретения - расширение диапазона анализируемых частот и повышение точности измерения. Анализатор содержит лазерный источник (1) света, формирователь 2 пучка света, призму 3 полного внутреннего отражения, на отражающей грани которой расположена пленка 4 магнитооптического материала (MOM), поляризатор 5, Фурье- объектив 6 и фоторегистратор 7, расположенные последовательно по ходу луча света. На MOM нанесено износостойкое покрытие 11, толщина которого удовлетворяет условию д(рв) - 6(р - в} 2U2Urnert Acos(J + 0) Acos(-0) Ae угол распространения света в покрытии, 0- угол дифракции, L - толщина покрытия, д - сдвиг фаз при полном внутреннем отражении. 1 ил. Ё VJ VI (Л С СО N3