СПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ ПО МАССАМ Советский патент 1966 года по МПК G01N27/62 H01J49/26 

Данное изобретение относится к способам анализа ионов по массам с примепением индикатора парциальных давлений «фарвитрон.

Известны снособы анализа ионов по массам с примепением фарвитрона, в которых изменение частоты ионизации от времени осуш,ествляется по линейному закопу. При этом отсутствует пропорциональность между высотами пиков иа экране осциллографа и величинами соответствующих им парциальных давлений анализируемых газов.

По предложенному способу изменение частоты ионизации от времени осуществляется

по закону а-, где постоянные а и b выбираются при градуировании прибора; при этом число колебаний ионов выбирается в пределах линейной зависимости выходного сигнала датчика от числа колебаний ионов.

Благодаря этому достигается одинаковое число колебаний ионов каждой массы в процессе регистрации сигнала.

Изменение частоты ионизации от времени по предложенному закону осуществляется геператором качающейся частоты, сигнал с которого подается на ионизирующий электрод.

Предмет изобретения

1.Способ анализа ионов по массам с применением индикатора парциальных давлений

0 «фарвитрон, отличающийся тем, что, с целью осуществления одинакового числа колебаний ионов каждой массы в процессе регистрации сигнала, изменение частоты ионизации от вре5мени осуществляют по закону а -, где постоянные а и b выбирают при градуировке прибора.

2.Сиособ по п. 1, отличающийся тем, что число колебаний понов выбирают в пределах

0 линейной зависимости выходного сигнала датчика от числа колебаний ионов.