Способ измерения средней полусферической освещенности Советский патент 1930 года по МПК G01N21/47 

Описание патента на изобретение SU17795A1

ДХя установления величин, :характеризущщих в том или ином отношении KftHfeство освещения в данной точке L освещаемого простра нства, авторы предлагают измерять среднюю освещенность на полусфере достаточно малого радиуса с центром в данной точке. Для этого 1редлагается приспособление, в котором испытательная пластинка, освещен ность ,kO,efi измеряется люксметром, помещена известным образом под полусферой из рассеивающего материала, воспри имающёго световой поток извне, тогда .как .в нижней части приспособления обеспечена световая непроницаемость. Средняя (полусфери еская .освещенность найдется привведении коэфициента рассеивающей оболочки.

На чертеже фиг 1 - схема, поясняющая п{)едлагаемый способ, фиг. 2-схема приспособления (вид сбоку). ,

Е есть Ьсвещенность наэЛгменте полусферы радиуса г- центр которой расположен в данной точке О, то величина вредней полусферической освещенности JE/i пред. 2 0 (интегрирование распространяется по всей полусфере).

Пусть имеется некоторая частЪ абвгде сферической оболочки из светорассеивающего материала (фиг. 1), при чем снаружи освещается только верхняя полусфера бег. Теория показывает, чТО если рассеяние светавнутренней поверхностью оболочки происходит по закону, косинуса, то освещенность на всей внутренней поверхности сферы, а также во всех точках сферической поверхности аед, будет одинакова, а именно:

.Е/,

где К-крэфициент пропорциональности, зависящий Ът свойств рассеивающей оболочки. Поэтому измерение средней полусферической освещенности -Ед может быть сведено к измерению освещенности , получающейся от освещения полусферы w« на частях дг или а6 оболочки, или же в точках, расположенных по сферической поверхности аед, не принадлежащих оболочке. Самое измерение освещенности можно производить любым фотометром, визируя 1 аждую асть нижней полусфер } баейг непосредственно, или же визируя изрбражание этой части, получаемое при помощи призм, зеркал и т- п., /в зависимости от конструкции фотометра и сооб

Похожие патенты SU17795A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВЫХ КООРДИНАТ СОЛНЦА И РЕАЛИЗУЮЩЕЕ ЕГО УСТРОЙСТВО 2013
  • Захаров Андрей Игоревич
  • Прохоров Михаил Евгеньевич
  • Жуков Александр Олегович
RU2555216C2
ОСВЕТИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ НА ПОВЕРХНОСТИ ГОРЛОВИНЫ ЕМКОСТИ 2005
  • Колле Оливье
RU2397477C2
Способ измерения индикатрис яркости светорассеивающих покрытий 1989
  • Танташев Марат Вахабович
  • Холопов Геннадий Константинович
SU1651168A1
ИНТЕГРИРУЮЩАЯ СФЕРА ДЛЯ ИНФРАКРАСНОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА 2003
  • Ильясов С.Г.
RU2251667C2
ПРОЕКЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ НА ПОЛУСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ 1996
  • Гинзбург В.А.
  • Гуттовская А.К.
  • Перминова Н.В.
RU2135956C1
Световой колодец 2019
  • Стерхов Алексей Иванович
RU2727991C1
Устройство для измерения пространственной освещенности 1990
  • Локшин Владимир Григорьевич
  • Тон Юрий Давидович
  • Клейман Эммануил Ихилевич
SU1798633A1
Радиометр 1990
  • Лочехин Владимир Сергеевич
SU1793272A1
Голографический способ измерения амплитуды колебаний объекта 1981
  • Гусев Владимир Георгиевич
  • Ащеулов Евгений Анатольевич
SU1004772A1
Фотометр 1981
  • Баранов Владимир Кузьмич
  • Беляев Юрий Михайлович
  • Браславская Марина Валентиновна
  • Дубров Дмитрий Альфредович
  • Иванов Александр Павлович
  • Суворов Олег Дмитриевич
  • Холявин Олег Борисович
SU1193541A1

Иллюстрации к изобретению SU 17 795 A1

Реферат патента 1930 года Способ измерения средней полусферической освещенности

Формула изобретения SU 17 795 A1

SU 17 795 A1

Авторы

Гершун А.А.

Зеленков В.А.

Даты

1930-09-30Публикация

1929-12-22Подача