Изобретение относится к быстродействующим детекторам с использованием встречно-штыревых электродов.
Цель изобретения повышение быстродействия фотодетектора с шириной электрода не менее 0,5 мкм при сохранении его эффективности.
На фиг. 1 и 2 представлена конструкция фотодетектора.
Устройство содержит встречно-штыревую систему электродов 1, размещенную в активном слое слоистой полупроводниковой структуры 2 и образующие с ним контакты металл-полупроводник 3, фоточувствительная область 4.
Фотодетектор работает следующим образом.
При освещении оптическим излучением фоточувствительной области 4 образуется фототок, который является комбинацией электронов и дырок, фотогенерированных в обедненной области обратно смещенного контакта. Этот ток через развязывающую емкость подводится к полезной нагрузке R, создавая на ней измеряемый сигнал, при этом быстродействие фотодетектора с шириной электродов менее 0,5 мкм увеличивается при сохранении его эффективности, если высота электродов не превышает его ширины, а величина межэлектродного t зазора выбрана из соотношения
t -εD где ε0,05;
R сопротивление нагрузки фотодетектора;
Vsat дрейфовая скорость фотогенерированных носителей;
ε s относительная диэлектрическая проницаемость полупроводникового материала;
L апертура встречно-штыревой системы электродов.
Изобретение иллюстрируется следующим примером. На поверхности эпитаксиального GaAs, выращенного на полуизолирующей подложке, методами планарной технологии с применением процессов электронной литографии была изготовлена фотодиодная структура с встречно-штыревым расположением электродов из Тl с размерами L=100 мкм, ширина электрода D=1 мкм, высота h=0,5 мкм, t=1,9 мкм. При подаче импульса длительностью в 7 нс от полупроводникового лазера с длиной волны излучения λ0,85 мкм быстродействие составило 26 пс, что в ≈1,5 раза меньше, чем у прототипа.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
ФОТОДЕТЕКТОР | 1991 |
|
SU1820795A1 |
ФОТОДЕТЕКТОР | 1990 |
|
SU1753901A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИФФУЗИОННОЙ ДЛИНЫ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ И ТЕСТОВАЯ СТРУКТУРА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2012 |
|
RU2501116C1 |
Быстродействующий фотодетектор | 1991 |
|
SU1800506A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | 1980 |
|
SU822705A1 |
СВЧ ФОТОДЕТЕКТОР ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2018 |
|
RU2676187C1 |
Фотодетектор с управляемой передислокацией максимумов плотности носителей заряда | 2019 |
|
RU2723910C1 |
ФОТОДЕТЕКТОР | 2003 |
|
RU2240631C1 |
ДВУХЦВЕТНЫЙ ФОТОПРИЕМНИК С ЭЛЕКТРОННЫМ ПЕРЕКЛЮЧЕНИЕМ ДИАПАЗОНОВ | 1991 |
|
SU1823722A1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ДАТЧИК УЛЬТРАФИОЛЕТОВОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2006 |
|
RU2292609C1 |
Изобретение относится к быстродействующим фотодетекторам оптического диапазона волн и может найти применение при создании быстродействующих приемников излучения для оптических систем передачи информации. Сущность изобретения: в известном фотодетекторе с встечно штыревой системой контактных электродов, образующих с активным слоем полупроводниковой структуры контакты металл-проводник с шириной контактного электрода D не менее 0,5 мкм и не превышающей ширины межэлектродного зазора t высота электрода не превышает его ширины, причем величина межэлектродного зазора выбрана из соотношения t где ε 0,05; R сопротивление нагрузки фотодетектора, Ом: Vsat скорость насыщения фотогенерированных носителей, м/с: εs - относительная диэлектрическая проницаемость полупроводникового материала; L апертура встречно штыревой системы контактов. 2 ил.
ФОТОДЕТЕКТОР с встречно-штыревой системой электродов, размещенных в активном слое слоистой полупроводниковой структуры и образующих с ним контакты металл-полупроводник, причем ширина электрода (D) не превышает величины межэлектродного зазора (t), отличающийся тем, что, с целью повышения быстродействия фотодетектора с шириной электрода не менее 0,5 мкм при сохранении его эффективности, высота электрода не превышает его ширины, причем величина межэлектродного зазора выбрана из соотношения
где ε = 0,05 ;
где R сопротивление нагрузки фотодетектора;
vsat дрейфовая скорость фотогенерированных носителей;
εs относительная диэлектрическая проницаемость полупроводникового материала;
L апертура встречно-штыревой системы электродов.
Авторское свидетельство СССР N 1570572, кл | |||
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1995-09-20—Публикация
1991-01-22—Подача