СПОСОБ КОНТРОЛЯ СТЕКЛЯННЫХ КРУГОВЫХ ЛИМБОВ Советский патент 1966 года по МПК G01D13/12 

Известны способы контроля стеклянных круговых лимбов, заключающиеся в освещении контролируемого и эталонного лимбов и перенесении изображений штрихов этих лимбов с номощью самостоятельных оптических систем в .измерительную нлоскость с последующим измерением положений указанных изображений. Предложенный способ отличается от известных тем, что о качестве контролируемого лимба судят по положению в пространстве изображений щтрихов контролируемого и эталонного лимбов относительно стереознака, нанесенного на сетках о суляров измерительных микроскопов с нараллельнымн онтическими осями. Это позволяет ускорить процесс контроля. Па чертеже представлена онтическая схема устройства для осуществления опнсываелюго способа. Устройство содержит два измерительных микроскопа (с параллельными онтическнмн осями) с объективами /, стеклянными пластинками 2, размещенными в плоскости изображений объективов, и окулярами 3. Па пластинки нанесены стереознаки н бнссекторы, которые служат для правильной установки контролируемого н эталонного лимбов между собою. Плоскость стереознаков и биссекторов является передней фокальной плоскостью окуляров. Ромбические призмы 4 служат для установки окуляров стереомикроскопа соответственно расстоянию между глазами наблюдателя, а ромбические призмы 5 - для получения необходимого расстояния, зависящего от диаметров лимбов, так как требуется разместить перед микроскопической системой лимбы диаметром до 200 мм, а расстояние между центрами нх должно соответствовать расстоянию между центрами объектнвов. Между объективами и плоскостью их изображений помещены плоскопараллельные пластины 6. Одна из пластин имеет возможность поворота (наклона) в плоскости измерений и служит в качестве измерительного компенсатора. Осветительное устройство состоит пз конденсоров 7 и светофильтров 8 зеленого цвета. Свет от источников света 9 проходит через конденсоры, светофильтры и освещает необходимые участки лимбов 10. Два пучка лучей о г освещенных делений лимбов попадают в микроскопы н в плоскости расположения пластинок дают изображения этих делений. С помощью окулярной части стереомикроскопа изобрал ения делений лимбов, а также стереознаки, нанесенные на пластинках, рассматрнваются наблюдателем. Увеличение микроскопов должно быть около 50. При рассматривании через стереоскопический микроскоп деления эталонного (левого) и проверяемого (правого) лимбов, а также правый п левый знаки сливаются, что дает простра-нственное впечатление одного стереознака относительно видимых делений одного лимба. Полученный стереоэффект позволяет производить пространственную (по глубине) оценку расположения отдельных делений лимба относительно стереознака. В случае точного изготовления делений лимба их изображения относительно стереознака будут казаться расположенными в пространстве в одной нлоскостн. При неточном изготовлении того или иного деления или ряда делений (штрихов) они будут казаться в пространстве ближе или дальше (глубже) стереознака. Это значит, что одноименные деления эталонного и проверяемого лимбов (если счет вести от условно выбранного пулевого деления) взаимно смеш;ены па величину ошибки, которая измеряется с помощью наклона (поворота) плосконараллельной пластины. Пластина смеш,ает (компенсирует) изображение видимых делений контролируемого лимба на величину ошибки. Отсчет величины ошибки (неточности изготовления) производится но барабану микрометрического винта, который связан (без мертвого хода) с наклоном пластнны. При повороте микровинта на одно деление барабана происходит смеш,ение изображения на величину 0,0001 млг.

Эталонный и контролируемый лимбы имеют условно нулевые или базовые деления (штрихи), относительно которых производится их установка на столе прибора. Стол содержит крестообразные направляющие, при помощи которых передвигается во взаимоперпендикулярных направлениях так, чтобы любые деления лимбов можно было подводить под объективы микроскопов. Плоскость верхней части подвижного стола относительно оптических осей микроскопов составляет угол 90°. На этой плоскости в специальные гнезда вставляются оправы с лимбами, которые вручную должны поворачиваться в своих гнездах. Кроме этого, одна из оправ с лимбом имеет точный поворот с помощью микровинта.

Эталонный и контролируемые лимбы со своими оправами должны иметь возможность передвижения в одной и той же плоскости на

неб1мьщие расстояния. Эталонный лимб - винтом точной наводки но направлению вверх - вниз, а правый - вправо - влево.

Весь бинокулярный микроскоп должен поступательно перемещаться, обеспечивая наведение микросконов на резкость относительно плоскости делений лимбов.

Контроль делений, раснолол :енпых в правом и левом секторах лимба, можно производить только после поворота оправ с эталонным и контролируемым лимбами на 90° и повторной точной нх выверки так, чтобы при стереоскопнческом измерении одни и те же деления, расположенные нод углом 45°, давали те же самые отсчеты на барабане измерительного компенсатора, что и нрн измерениях после первичной установки и выверки. Для исключения вторичной установки и выверки лимбов и для возможности контроля любого деления и участка лимба с одной установки и выверки ли.мбов можно в оптическую систему стереомикроскона ввести призму Пехана, расноложив ее в ходе лучей между ромбическими призмами и пластинами измерительного компенсатора. Поворот призмы Пехана относительно оси, параллельной осям микроскопов на 45°, позволяет поворачивать изображения лимбов на 90°; тем самым отпадает необходимость поворота лимбов на 90° и вторичная выверка их.

Предмет изобретения

Способ контроля стеклянных круговых лимбов, заключающийся в освещении контролируемого и эталонного лимбов и неренесепии изображений штрихов этих лимбов с помощью самостоятельных оптических систем в измерительную плоскость с последующим измерением положений указанных изображений, отличающийся тем, что, с целью ускорения процесса контроля, о качестве контролируемого лимба судят по положению в пространстве изображений штрихов контролируемого и эталонного лимбов относительно стереознака, нанесенного на сетках окуляров измерительных микроскопов с параллельными оптическими осями.