ПДТКНТНО- •»IИ Советский патент 1966 года по МПК G02B21/14 

Известные микроскопы, применяемые для исследования малоконтрастных объектов, как правило, работают на основе использования свойств поляризованного света и требуют поэтому применения специальной оптики (объективов, конденсоров, предметных стекол и т. д.).

Предлагаемый микроскоп дает возможность исследовать малоконтрастные объекты в любой области спектра с помощью оптики, применяемой в обычных микроскопах, а также получать переменный фазовый контраст или интерференционный контраст с идеальной волной сравнения в неполяризованном свете. Кроме того, обеспечивается возможность измерения оптической разности хода лучей, вносимой излучаемым объектом.

Эти преимущества достигаются тем, что между объективом с вынесенным нри помощи дополнительной линзовой системы зрачком выхода объектива и окуляром микроскопа установлен интерферометр, например, типа Маха-Цендера, в ветви которого введены устройства для изменения фаз и амплит д интерферирующих пучков - соответствуюгцие диафрагмы и компенсационные пластинки в зависимости от поставленной задачи.

онного контраста с идеальной волной сравнения.

Между оптической системой линз 1, служащей для переноса зрачка выхода объектива

микроскопа (объектив на чертел ах не показан), установлен интерферометр, например, типа Маха-Цендера, состоящий из зеркал 2, 3j 4, 5. Зеркала 2 и 5 полупрозрачные, а 3 и 4 алюминированные.

Пучок лучей, выходящий из системы линз /, делится зеркалом 2 на два, один из которых идет но направлеппю к зеркалу 3, а другой- к зеркалу 4. После отражения от зеркал 3, 4 эти пучки снова соединяются в один зеркалом 5, интерферируя друг с другом.

Для изменения разности хода в интерферирующих пучках в одной из ветвей интерферометра установлена стеклянная пластинка 6, а для регулировки интенсивности этих пучков

предусмотрена пластинка 7, установленная в другой ветви интерферометра. На одной из новерхностей пластинкп 7 нанесен фотометрический клин.

Изображение объекта, даваемое объективом и оптической системой линз /, получается в плоскости 8 и рассматривается с помощью окуляра 9.

го зрачка объектива, вводятся апертурные диафрагмы 10 и //. Форма диафрагмы 10 подобна форме фазового кольца фазовых объективов, а диафрагма 11 является ее дополнением, т. е. прозрачным местам первой соответствуют непрозрачные места второй и наоборот. Если диафрагмы 10 и 11 соответственно совмещены с изображением диафрагмы, находяи1ейся в фокальной плоскости конденсатора (иа чертежах не показан) п имеюи1,ей форму диафрагмы 10, то в одной ветви интерферометра световой пучок состоит только из прямо нрошедгнего света, а в другой - из диафрагмированного. Соединяясь, пучки иптерферируют и совместно с объективом микроскопа дают фазовокоитрастное изображение исследуемого объекта. Контраст в изображении может быть положительным нлн отрицательным в зависимости от величины и знака разности хода в интерферирующих пучках.

При работе микроскопа по схеме интерференционного контраста в одну из ветвей интерферометра, в плоскость вынесенного выходного зрачка объектива, помещается диафрагма 12 (см. фиг. 2) в- виде малого круглого отверстия, или ирозрачного кольца, или любого другого вида. В случае совмещения диафрагмы 12 с изображением диафрагмы, находящейся в фокальной плоскости конденсора и имеющей такую же форму, диафрагма 12 нри определенных размерах будет центром дифракционной волны. В этом случае по одной ветви интерферометра будет распространяться дифракциоппая волна, т. е. волна сравнения, а по другой - реальная, искан ;енная изучаемым объектом. Соединяясь, эти две волны интерферируют, и изображение изучаемого объекта наблюдается в интерференционном контрасте.

В обеих схемах микроскопа изменение разности хода в интерферирующих иучках обеспечивается наклоном стеклянной пластинки

6,а регулировка интенсивностей - пластинкой

7,на одной из поверхностей которой нанесен фотометрический клин.

Оптическая разность хода, вводимая изучаемым объектом, оценивается но величине наклона пластинки 6 относительно падающих на нее лучей.

Объединение фазовоконтрастной и интерференционной схем в одном микроскопе дает

возможность переходить от одного метода к другому нри наблюдении одного и того же участка объекта.

Предмет изобретения

1.Микроскоп для наблюдения малоконтрастных объектов, содержащий объектив, окуляр, конденсор, дополнительную линзовую систему для переноса выходного зрачка объекти ва п устройство для получения фазового или интерференционного контраста, отличающийся тем, что, с целью наблюдения малоконтрастных объектов в переменном фазовом или интерференционном контрасте в любой области спектра неноляризованного света с помощью оптики, нрименяемой в обычных микроскопах, в нем между объективом с дополнительной линзовой системой для переноса зрачка выхода объектива и окуляром установлен интерферометр, например типа Маха-Цендера, в ветви которого введены устройства в виде апертурных диафрагм и компенсационных пластинок для нзменения фаз и амплитуд интерферирующих пучков.

2.Микроскоп но п. 1, отличающийся тем, что, с целью изменения в широком диапазоне соотношений интенсивности прямо прощедшего и диафрагмированного пучков лучей, обеснечивающих получение неременного фазового контраста в необходимой области спектра неполяризованного света, апертурная диафрагма в одной ветви интерферометра установлена в плоскости вынесенного зрачка объектива между пластинкой, на одной из поверхностей которой нанесен фотометрический клин, и отражающим зеркалом, а анертурная диафрагма в другой ветви-между отражающим зеркалом и комненсациопной пластинкой, прнчем непрозрачным местам одной из диафрагм соответствуют прозрачные места другой.

3.Микроскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью паблюдепия объектов в интерференционном контрасте с идеальной волной

сравнения, в нем анертурная диафрагма в виде, например, отверстия установлена в одной из ветвей интерферометра в плоскости вынесенного зрачка объектива меладу полупрозрачным зеркалом и нластпнкой, иа одной из поверхностей которой нанесен фотометрический клин.

:

д