СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ Советский патент 1967 года по МПК G01B11/16 

Известный способ измерения малых деформаций заключается в использовании интерференционной картины, нолученной в результате смещения двух лучей монохроматического света от одного источника - прямого луча и луча, отраженного от зеркала, закрепленного на исследуемом объекте.

При осупл,ествленни этого способа измерепня требуются громоздкая оптическая система и ж есткие опоры для уменьшения вибрационных ногрешпостей; дистанционные измерения деформаций невозможны; измерение динамических деформаций возмол но лишь при синусоидальном их характере.

Предлагаемый способ состоит в том, что световой поток от монохроматического источника .направляют по двум световодам, например стеклянным волокпам, из оптически чувствительного материала, например полимер)1ых СМОЛ. Один световод на измерительной базе жестко связан с контролируемым объектом, а второй имеет с объектом тепловой контакт. На выходе световодов потоки лучей соединяют в один и измеряют его интенсивиость, по которой определяют величину деформации жестко закрепленного участка световода, а следовательно, и деформацию исследуемого тела.

Для исключения температурных погрешностей измерения оба световода ставят в одинаковые тепловые условия, например располагают рядом. Способ поясняется чертенком.

Световой поток от монохроматического источника света направляют по двум световодам 2 и 3. Световод 3 жестко связан с контролируемым изделием 4 на участке 5, где измеряют деформацию. Вышедшие потоки лучей из световодов фокусируются объективом 6. По измененню интенсивности потока лучей судят о величине деформации исследуемого тела.

Перед началом измерений взаимное расположение выходных концов световодов относительно объектива подбирают таким образом, чтобы в фокусе объектива Световые волны были, наиример, в противофазе, т. е. разность хода лучей по обоим световодам равна иечетиому числу полуволн.

При деформации исследуемого образца, например, в -результате приложен 1Я силы, световод 3 на закрепленном участке удлиняется,

фазовые соотношения световых волн на входе фотоустройства изменяются, суммарная амплитуда будет отличаться от нулевого значения. Измерения, проводимые описываемым спорядка 0,01 длины волны использованного света. Кроме того, тетнм способом можно измерять деформац,ии в различных условиях, з том числе мн оготб ёчныа. и дистанционные, и с помощью- s§jpnKif аых устройств.

Пре-дшет .изобретения

Способ измерения деформаций, основанный на использовании интерференции монохроматического света, разделенного на два луча,

отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, световой поток направляют в два световода из оптически чувствительного материала, один из которых на измерительной базе жестко связан с контролируемым объектом, а второй имеет с объектом тепловой контакт, и соединяютВыходящие из световодов лучи в общий световой поток, по интенсивности которого определяют величину измеряемой деформации.