Известно, что ситалл - оптически прозрачное структурированное стекло - ранее не применялся в качестве оптически чувствительного материала нрн ноляризационно-оптическом методе исследования напряжений.
Ситалл, обладающий более высокой механической прочностью и существенно меньшим краевым эффектом в сравнении с известными оптически чувствительными материалами, предлагается использовать при поляризационно-онтическом методе исследования напряжений.
Все прочностные характеристики ситалла гораздо выще, чем у эпоксифтамала, чаще всего употребляемого при исследовании напряжений. Поэтому ситалл применяют при значительно больших нагрузках.
При напряжениях выще предела упругости ранее применявшихся материалов исследование их было или невозможно, или требовало трудоемкого и приближенного моделирования.
Следовательно, применение оптически прозрачного ситалла в поляризационно-оптическом методе исследования напряжений расширяет возможности самого метода, а также упрощает проведение испытаний.
длительностью около сек. При этом и обоих случаях картина интерференционных полос соответствует распределению снловых полей в образце, например картина остаточных напряжений в образце из прозрачного ситалла после приложения динамической сосредоточенной нагрузки.
Величина нагрузки в точке приложения превосходила предел прочности ситалла, поэтому поляризационно-оптическая картина искажена механическими сколами. Вокруг точки приложения поляризационно-онтическая картина представляет собой проекцию эллипсоида разности главных напряжений (в виде четырех лепестков). В каждом отдельном случае (в зависимости от степени структурирования и состава) оптическая постоянная может быть определена по числу полос от калибровочной нагрузки аналогично методам определения длины полосы для применяющихся в настоящее время оптически активных материалов.
Сказанное относится ко всем видам прозрачных ситаллов и связано с формированием определенной структуры при их изготовлении.
