Известны устройства для измерения среднего значения обратного тока полупроводниковых диодов при динамических измерениях, содержащие интегрирующий элемент и измерительное устройство. Такие устройства чувствительны к помехам, которые интегрируются одновременно с измеряемым током и искажают результаты измереиий.
Предлагаемое устройство отличается тем, что к интегрирующему элементу подсоединены аподы стабилитронов, катоды которых соединены вместе и через соиротивление подсоединены к источнику сииусоидального напряжения. Такое выполнение устройства повышает помехоустойчивость.
На чертеже приведена схема устройства.
К интегрирующему элементу 1 подсоединены аноды стабилитронов 2, катоды которых соединены вместе и через сопротивление 3 подсоединены к источнику синусоидального напряжения 4. Позицией 5 обозначен измерительный диод; 6 - разделительные диоды; 7 - измерительное устройство.
Такое подключение стабилитронов приводит к тому, что в каждый полупериод синусоидального напряжения происходит разряд, интегрирующего устройства с одновременным снятием
накопленного за счет помехи значения. Таким образом интегрирующий элемент накапливает зиачение измеряемого тока в каждый полупериод, в то же время зиачение помехи каждый полупериод снимается с интегрирующего элемента.
Предмет изобретения
Устройство для измерения среднего значения обратного тока полупроводниковых диодов при динамических измерениях, содержащее интегрирующий элемеит и измерительное устройство, отличающееся тем, что, с целью новышеиня помехоустойчивости, к интегрирующему элемеиту подсоединены аноды стабилитронов, катоды которых соединены вместе и через соиротивление подключены к источнику синусоидального напряжения.
I.J
