СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СРАВНИТЕЛЬНЫХ МАГНИТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ЭЛЕКТРОМАГНИТОВ ЭЛЕКТРОННОГО Советский патент 1969 года по МПК H05H13/04 G01R33/02 

Изобретение относится к вспомогательной аппаратуре ускорительной техники.

Известны способы измерения сравнительных магнитных характеристик электромагнитов электроного синхротрона, основанные на сравнении показаний датчиков с подмагничиванием, установленных в соответствующих точках исследуемого и эталонного электромагнитов.

С целью повышения точности измерения и быстроты отсчетов предлагается пропускать через обмотки подмагничнвания в соответствующих точках измерения токи, пропорциональные полям подмагничивания эталонного электромагнита, а по токам, пропорциональным отличию исследуемого электромагнита, которые установятся в дополнительных обмотках датчиков, судят о значении магнитного иоля и его градиента.

Сущность предлагаемого способа заключается в следующем.

1. При измерении сравнительных магнитных характеристик элементов электромагнита используют три блока с общим питанием (фиг. 1):

а)исследуемый блок или соответствуЕОЩий пакет в этом блоке;

2. Измерения осуществляют с помощью пяти пермаллоевых датчиков. Один из нпх Д/ устанавливают неподвижно в зазоре опорного блока п фиксируют уровень поля, при котором проводятся измерения. Остальные четыре датчика- измерительные, с несколькими обмотками подмагнич 1вания. Датчики Л2, ДЗ и Д4, Д5 иопарно располагают в пдентичных точках зазоров эталонного п исследуемого блоков.

3. В датчиках, расположенных в исследуемом блоке, создают поля подмагничивания, равные соответствующим значениям поля в аналогичных точках зазора эталонного блока. 4. Импульсы всех датчиков совмещают во

времени путем изменения токов в обмотках подмагничивания измерительных датчиков. При этом токи подмагничивания в дополнительных обмотках датчиков Д4 и Д5 оказываются пропорциональными отличию в измеряемых точках исследуемого блока от эталонного по полю и градиенту поля.

В качестве прпмера на фиг. 2 изображен один из возможных вариантов схемы питания обмоток подмагничивания датчиков. Значения

напряженности магнитного поля Я в точках расположения датчиков имеют индексы, аналогичного номерам датчиков (например, //i - напряженность магнитного поля в точке расположения датчиков Д1 и т. д.). При совмекаждого датчика равно соответствующему внешнему полю. Если принять постоянные всех обмоток подмагничивания датчиков одинаковыми, то Н, /1, HZ h,

Яз /2 + /3, Я4 ЕЕН /2 + /4,

Я5 /2 + /3 + /4 + /5.

Целью сравнительных магнитных измерений является определение величины отличия исследуемых блоков электромагнита от эталонного по полю и градиенту поля

Д (5 - //) - (3 - ff)

АЯ Я4 - Яа,

Дг

где Аг - расстояние между измерительными

датчиками в одной паре. Заменив значения поля на пропорциональные им токи подмагничивания, получаем

,.

Следовательно, при использовании схемы соединений обмоток подмагничивания датчиков, изображенной на фиг. 2, для определения АЯ и AG достаточно совместить импульсы всех датчиков и измерить токи /4 и /5.

Предлагаемый способ измерения сравнительных магнитных характеристик элементов электромагнита имеет следующие преимущества перед известными:

1.Повышается точность измерений и умень-шаются требования к стабильности режима питания электромагнита, благодаря измерениям поля и градиента поля в идентичных точках зазоров эталонного и исследуемого блоков в одном цикле изменения магнитного поля.

2.Уменьшается трудоемкость измерений п ускоряется обработка их результатов благодаря непосредственному измерению токов, пропорциональных отличиям исследуемого блока от эталонного по полю и градиенту поля.

Предмет изобретения

Способ измерения сравнительных магнитных характеристик электромагнитов электронного синхротрона, основанный на сравнении показаний датчиков с подмагничиванием, установленных в соответствующих точках исследуемого и эталонного электромагнитов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и сокращения времени измерения, через обмотки подмагничивания в соответствующих точках измерения пропускают токи, пропорциональные полям подмагничивания эталонного электромагнита, а по токам, установившимся в дополнительных обмотках датчиков, пропорциональным отличию исследуемого электромагнита, судят о значении магнитного поля и его градиента.

Система ли пания

3/ ef17pOf OSf u/noOnoflHuiJ S/ion Зтсглонный ifao/t i/cc/ et ye t /u f/io

f H i/fiofrfop с oSnaJef ifa импуаосов