Предлагаемый способ относится к области электроизмерений.
Известен четырехзондовый способ измерения переходного удельного сопротивления полупроводниковых материалов путем подключения источника постоянного тока к торцам образца материала, измерения тока в цепи образца и падения напряжения на всем образце и между подсоединенными к нему зондами.
Отличие описываемого способа заключается в том, что наносят на полупроводник контакты в количестве не менее четырех, измеряют падение напряжения между двумя внутренними контактами при подключении внешних к источнику питания и при подключении одного внутреннего и одного внешнего контактов к источнику питания, а затем по известной формуле вычисляют удельное переходное сопротивление.
Такое отличие позволяет значительно повысить точность измерения и упростить способ, сделав его независимым от величины плош,ади, контактов и расстояния между ними.
На чертеже представлена схема устройства, которая поясняет описываемый способ, где /d и /(2 - ключи; 1 и 2 - позиции ключей; 3, 4, 5 6 - контакты определенной площади, нанесенные на поверхность полупроводника.
Пропуская постоянный ток заданной величины / через два внешних контакта 3 и 6, определяют падение напряжения на двух внутренних контактах 4 и 5.
, где - сопротивление полупроводника между контактами 4 5. В этом случае ключи К} и /Со находятся в позиции /. Затем измеряют переходное сопротивление контакта и сопротивление материала между контакта: 1и 4 и 5.
L /(/ n-|-/ к): где величину падения напряжения на соответствующем переходном контактном сопротивлении В этом случае ключ К переключается в позицию 2 для контакта 4 и соответственно затем для контакта 5, ключ Да переключается в позицию 2, а ключ К возвращается в позицию /.
Зная величину и площадь контакта S определяют величину удельного переходного контактного сопротивления 5 (o.u-c.ijs).
Предмет изобретения
Способ определения удельного переходного сопротивления между полупроводником и нанесенными на его поверхность контактами известной площади, основанный на четырехзондовом методе, отличающийся тем, что, с целью повыпления точности измерения, наносят на полупроводник контакты в количестве не ме3 ,
между двумя внутренними контактами при подключении внешних к источнику питания и при подключении одного внутреннего и одного
внешнего контактов к источнику питания, а затем по известной формуле вычисляют удельное переходное сопротивление.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ измерения параметров области полупроводникового слоя | 1981 |
|
SU1068847A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ | 1973 |
|
SU363934A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОМИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ | 1987 |
|
SU1823709A1 |
Устройство для определения удельного объемного электрического сопротивления полимерных материалов | 1986 |
|
SU1372252A1 |
Устройство для определения удельного электрического сопротивления лакокрасочного покрытия в электролите | 2024 |
|
RU2820040C1 |
Способ дистанционного определения места ослабления электрического контакта между последовательно включенными элементами электроустановки | 2023 |
|
RU2819139C1 |
Способ определения удельного электросопротивления полупроводников с помощью инфракрасной оптики | 2020 |
|
RU2750427C1 |
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ АНОДА АЛЮМИНИЕВОГО ЭЛЕКТРОЛИЗЕРА | 2018 |
|
RU2686570C1 |
Измеритель удельного электросопротивления углеграфитовых изделий | 1988 |
|
SU1597767A1 |
Устройство для неразрушающего измерения удельного сопротивления листовых материалов | 1978 |
|
SU737870A1 |
Даты
1969-01-01—Публикация