СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОТНОСТИ СРЕДЫ ИЛИ РАССТОЯНИЯ ОТ ПРИБОРА ДО ПОВЕРХНОСТИ СРЕДЫ Советский патент 1969 года по МПК G01N23/06 

Изобретение относится к способам измерения плотности среды или расстояния от прибора до поверхности среды (высоты, уровня) с использованием ядерного излучения.

Известны способы измерения плотности, использующие зависимость (прямую или обратную) интенсивности рассеянного измеряемой средой гамма-излучения от плотности среды (восходящая и нисходящая ветви характеристики).

Недостатком этих способов является ограничение диапазона измерения пределами восходящего или нисходящего участка калибровочной кривой.

Предложенный способ отличается от известных тем, что, с целью расширения диапазона измерений и повышения точности, контроль измеряемого параметра ведут в области максимальной интенсивности рассеянного излучения. Для этого одновременно с регистрацией рассеянного излучения изменяют базовое расстояние до нахождения области максимальной интенсивности излучения, например, путем перемещения источника или приемника параллельно поверхности контролируемой среды. При этом для регулирования ширины экстремальной области источник и детектор можно коллимировать. Так как положение экстремального значения калибровочной кривой при найденном базовом расстоянии для заданной

энергии источника не зависит от активности источника, то контроль ведут по положению пика. Положение пика на калибровочной кривой сохраняется при изменении как вещественного состава (для легких материалов), так и активности источника излучения.

Измерение плотности среды или расстояния от датчика до поверхности среды осуществляют по найденному базовому расстоянию. Для

этого можно пользоваться калибровочными кривыми или градуировкой шкалы прибора в непосредственных единицах плотности (высоты, уровня).

15

Предмет изобретения

Способ измерения плотности среды или расстояния от прибора до поверхности среды путем облучения контролируемой среды потоком гамма-квантов и регистрации рассеянного излучения иа базовом расстоянии от источника, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона измерений и повыпления точности,

одновременно с регистрацией излучения изменяют указанное базовое расстояние до нахождения области максимальной интенсивности рассеянного излучения, фиксируют найденное базовое расстояние, и по его величине судят об