Изобретение относится к области электроизмерительной техники.
Известен способ определения амплитуды наносекундных импульсов с помощью компенсационного вольтметра на туннельном диоде.
Особенностью предлагаемого способа является то, что исследуемые импульсы подают на вольтметр несколько раз, причем при каждом последующем измерении параллельно туннельному диоду подключают конденсатор определенной .емкости, а искомую амплитуду определяют по алгебраической сумме измеренных компенсирующих токов, взятых с коэффициентами, зависящими от величины подключаемых емкостей.
Это позволяет повысить точность определения амплитуды и расширить диапазон длительностей исследуемых импульсов.
На чертеже представлена блок-схема устройства для производства измерений по описываемому способу.
Исследуемые импульсы с генератора 1 через резистор 2 поступают на туннельный диод 3, начальный ток которого устанавливают с помощью резистора 4. Генератор 5 импульсов сброса, служит для возвращения туннельного диода в исходное состояние. Индикация состояния туннельного диода осуществляется схемой 6 индикации.
Измерительный прибор 7 измеряет величину компенсирующего тока //. Измерения проводят несколько раз, последовательно подключая параллельно туннельному диоду конденсаторы 8, 9, 10... Из измеренных значений токов //,, //2, //3 ... составляют комбинацию
If ,
где AI - коэффициенты, зависящие от величины емкостей Ci, €2, Сз конденсаторов 8, 9, 10.
Иредмет изобретения
Способ определения амплитуды наносекундных импульсов с помощью компенсационного вольтметра на туннельном диоде, отличающийся тем, что, с целью повышения точности
измерений и расщирения диапазона длительностей, исследуемые импульсы подают на вольтметр несколько раз, причем при каждом последующем измерении параллельно туннельному диоду подключают конденсатор определенной емкости, а искомую амплитуду определяют по алгебраической сумме измеренных компенсирующих токов, взятых с коэффициентами, зависящими от величины подключаемых емкостей.
-. 
