ИЛТЕСТИО- -ц^ ^''' ТЕХНИЧЕСКАЯ БИБЛИОТЕКА Советский патент 1970 года по МПК G02B1/02 

Описание патента на изобретение SU274417A1

Известны способы определения полярности кристаллов: химический - по фигурам травления и рентгеноструктурный - по сравнению /С-краев поглощения. Эти способы очень трудоемки и не дают возможности определять полярность сильнолегированных кристаллов.

Предложенный способ отличается тем, что на кристалл направляют параллельный пучок света определенной формы и сравнивают размытие участков контура кристалла светового потока, рассеянного симметрично неравными ребрами кристалла. Такое отличие позволяет ускорить и упростить процесс измерения и определять полярность сильнолегированных кристаллов.

Сущность способа заключается в том, что с помощью света сравнивают кривизну ребер ПО и 110 реального кристалла без обработки. Так как эти ребра для кристаллов, имеющих структуру сфалерита, симметрично неравны, они рассеивают свет в различной степени.

При этом способе применяют параллельный пучок света определенной формы поперечного сечения, например круглый; сравнивают степень нарушения резкости двух (соответствующих вышеназванным ребрам) участков контура отраженного пучка света; используют симметрично неравные ребра грани.

к полярным кристаллам, которые принадлежат к структурным типам, отличающимся от структурного типа сфалерита. Кроме граней куба, могут быть использованы и другие, ребра которых симметрично неравны.

Для определения полярности кристаллов данным способом пользуются двукружным гониометром Гольдшмита.

Полярность кристаллов определяют следующим образом.

На грань -куба кристалла направляют параллельный пучок света (в видимой области спектра), который визуально наблюдают после отражения. Контуры отраженного пучка размываются ребрами грани куба. Сравнивают степени размытия контура отраженного пучка двумя перпендикулярными ребрами, одно из которых является обЩим ребром грани куба и грани одного тетраэдра, другое - общим ребром той же грани куба и грани другого тетраэдра. Если ребра разной длины, то пучок света перекрывают шторками таким образо-м, чтобы освещенные участки ребер были одинаковой длины. Если на грани куба имеются какие-либо вицинали, то часть освещающего их пучка также перекрывают шторками с соблюдением равенства освещенных участков ребер. Тот тетраэдр является положительным (при работе с кристаллами фосфида галлия и арсенида галлия), общее ребро 3 с гранью куба которого дает более интенсивнее размытие соответствующего участка контура отраженного светового пучка. Предмет изобретения5 Способ определения полярности кристаллов, отличающийся тем, что, с целью ускорения и 4. упрощения лроцесса измерения, а также дли определения полярности сильнолегированных образцов, на кристалл направляют параллельный пучок света определенной формы и производят сравнение,размытия уч астков контура светового потока, рассеянного симметрично неравными ребрами кристалла.

Похожие патенты SU274417A1

название год авторы номер документа
Теневой способ контроля оптических элементов 1983
  • Демидов Евгений Витальевич
  • Живописцев Евгений Сергеевич
SU1330519A1
Уголковый отражатель 1990
  • Рудницкий Антон Сергеевич
SU1742764A1
ОПТИЧЕСКИЙ ОТРАЖАТЕЛЬ С ПОЛУОТРАЖАЮЩИМИ ПЛАСТИНАМИ ДЛЯ УСТРОЙСТВА ОТСЛЕЖИВАНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ШЛЕМА И ШЛЕМ, СОДЕРЖАЩИЙ ТАКОЕ УСТРОЙСТВО 2010
  • Потэн Лоран
  • Руз Зигфрид
  • Жерб Жан-Пьер
RU2543680C2
Способ определения концентрации активаторов люминисценции в кристаллах 1975
  • Евтропов Валерий Викторович
  • Калинин Борис Николаевич
  • Царенков Борис Васильевич
SU600425A1
МЕТАЛЛИЗИРОВАННЫЙ УГОЛКОВЫЙ РЕТРООТРАЖАТЕЛЬ ЛИСТОВОГО ТИПА, ИМЕЮЩИЙ ВЫСОКИЙ КОЭФФИЦИЕНТ ЯРКОСТИ В ДНЕВНОЕ ВРЕМЯ, И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 2006
  • Кузин Деннис И.
RU2380730C2
Поляризатор 1990
  • Шамбуров Владимир Алексеевич
  • Барта Честмир
SU1721571A1
Устройство для дистанционного измерения тепловых деформаций оптических элементов 1972
  • Кашпар Евгений Иванович
SU443250A1
ИСТОЧНИК СВЕТА 1992
  • Ахекян А.М.
  • Козловский В.И.
RU2039905C1
Способ отражения лазерных пучков с сохранением поляризации и отражатель на его основе 2021
  • Давыдов Борис Леонидович
RU2759577C1
Интерференционное устройство для контроля децентрировки линзы 1985
  • Елисеев Юрий Викторович
  • Контиевский Юрий Петрович
SU1345054A1

Реферат патента 1970 года ИЛТЕСТИО- -ц^ ^''' ТЕХНИЧЕСКАЯ БИБЛИОТЕКА

Формула изобретения SU 274 417 A1

SU 274 417 A1

Даты

1970-01-01Публикация