Способ нейтронного количественного анализа элементного состава вещества Советский патент 1982 года по МПК G01N23/00 G01V5/00 

Описание патента на изобретение SU274859A1

Изобретение отпоситея к радиометрическим еиособам определения содерл ании элементов в пробах вещества, оеЕюванным на измерении интенсивности гамма-квантов радиационного захвата медленны. нейтронов в исследуемом образце. Оно может быть применено для экспрессного количественного определения элементов, обладаю1ЦИХ резонансным характером зависимости еечения поглощения нейтронов от энергии.

Известен способ определения железа в образцах руд, заключающийся в том, что образец помещают на торцовую поверхность цилиндрического парафинового замедлителя с заключенным в нем изотопным нейтронным источником и производят непрерывную регистрацию интенсивности жесткого захватного гамма-изллчення железа сцинтилляционным детектором, размещенным над образцом. Интенсивность этого излучения сопоставляют с калибровочной кривой, составленной по результатам аналогичных измерений с использованием образцов известного содержания железа, и тем самым определяют количественное содержание этого элемента. Однако известный способ обладает ннзкой селективностью.

ментов и повыщения точности аналнза, исследуемое вещество помещают в среду тяжелого (например, евинец, железо) замедлителя и облучают его импульсным потоком быетрых нейтронов и спустя некоторое время после каждого нейтронного импульса регистрируют интенсивность импульсного захватного гамма-излучения и вещеетва. Время регистрации выбирают

таким образом, чтобы быстрые нейтроны успели замедлиться до энергии резонансного поглощения определяемого элемента. Длительность нейтронного импульса доллчна быть короче минимального временного

интервала между пиками импульсного захватного гамма-нзлучения присутствующих в веществе элементов.

Таким образом, в предлагаемом способе используется явление резонансного поглощения в анализируемом веществе нейтронов определенных энергий, что становится возможным в результате применения тяжелого замедлителя имп льсного источника нейтронов и временной селекции захватного

гамма-излучения.

В качестве импульсного источника нейтронов может использоваться импульсный генератор нейтронов, либо импульсный реактор на быстрых нейтронах. Использоваронах нецелесообразно из-за большой длительности импульса. Поскольку выход иен тронов меняется от имнульса к имнульсу, то соответствующие флуктуации будут наблюдаться и в выходе захватного гаммаизлучения из анализируемого образца. Для того, чтобы исключить эту неонределенность, Т1елееообразио относить нитенсивность захватного гамма-нзлучения, измеренную датчиком гамма-излучения, к скорости счета, зарегистрированной счетчиком медленных нейтронов за этот же интервал времени. Построив серию калибровочных кривых, представляющих зависимость отношеиня ннтенсивностей гамма- и нейтронного излучения от содержання резонансных поглотителей, можно с их помощью проводить анализ иа различные элементы, обладающие нейтронными рсзонансами.

По нредлагаемому способу можно определить элементы, нмеющие высокие резонансные параметры, а именно: родий, палладии, серебро, индий, сурьму, цезий, тантал, вольфрам, рений, нриднй, плaтин5 золото, уран и больщннство редкоземельных элементов.

274859

4 Формула изобретения

Способ нейтронного количественного анализа элементного состава вещеетва нутем облучения носледнего потоком нейтронов н последующей регистрации интенсивности захватного гамма-излучения, отлич а ю щ и и с я тем, что, с целью повыщения селективиости анализа, вещество пометцаюг

в среду тяжелого замедлителя, напрнмер свинца нли железа, который затем облучают нмнульсным нотоком быстрых нейтронов, и с задержкой иосле каждого нейтронного импульса регистрируют интенсивиость

импульсного захватного гамма-излучения облученного вещества, причем задержку выбирают равной времени замедления быстрых нейтронов до энергии резонансного поглощения оиределяемого элемента, а д,тнтельность нейтронного импульса не должна превыщать минимального временного интервала между никами импульсного захват1ЮГО гамма-нзлучения нрнсутствующих в лен естве элементов.

Похожие патенты SU274859A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ВЗРЫВЧАТЫХ ВЕЩЕСТВ, УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ), КАМЕРА ДЛЯ УСТРОЙСТВА ОБНАРУЖЕНИЯ ВЗРЫВЧАТЫХ ВЕЩЕСТВ 1994
  • Морозов О.С.
RU2079835C1
Способ определения концентрации элементов при каротаже скважин 1972
  • Крапивский Е.И.
  • Брем А.А.
  • Егоров Э.В.
  • Соколов Е.А.
SU434834A1
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ СОДЕРЖИМОГО КОНТЕЙНЕРОВ 2005
  • Обручков Александр Иванович
RU2297623C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ И ЭЛЕМЕНТНОГО СОСТАВА СБОРКИ, СОДЕРЖАЩЕЙ ДЕЛЯЩЕЕСЯ ВЕЩЕСТВО 1994
  • Данилов М.М.
  • Катаржнов Ю.Д.
  • Кушин В.В.
  • Недопекин В.Г.
  • Плотников С.В.
  • Рогов В.И.
  • Чувило И.В.
RU2130653C1
СПОСОБ ЭЛЕМЕНТНОГО АНАЛИЗА СРЕД И РЕАЛИЗУЮЩЕЕ ЕГО УСТРОЙСТВО 2011
  • Леонова Оксана Олеговна
  • Ульяненко Степан Евгеньевич
  • Трыков Олег Алексеевич
  • Хачатурова Нелля Гарниковна
  • Горячев Игорь Витальевич
  • Семенов Владислав Петрович
  • Кривелев Сергей Евгеньевич
  • Лычагин Анатолий Александрович
RU2478934C2
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕЛЯЩИХСЯ МАТЕРИАЛОВ В ОБЪЕКТЕ 2003
  • Головков В.М.
  • Чахлов В.Л.
  • Штейн М.М.
RU2249201C1
Способ оценки полного сечения взаимодействия материала с тепловыми нейтронами 2024
  • Надараиа Константинэ Вахтангович
  • Сучков Сергей Николаевич
  • Маркин Никита Сергеевич
  • Имшинецкий Игорь Михайлович
  • Иванников Сергей Иванович
  • Устинов Александр Юрьевич
  • Машталяр Дмитрий Валерьевич
  • Синебрюхов Сергей Леонидович
  • Гнеденков Сергей Васильевич
RU2825431C1
ИМПУЛЬСНЫЙ НЕЙТРОННЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЛАЖНОСТИ МАТЕРИАЛОВ 2015
  • Микеров Виталий Иванович
  • Кошелев Александр Павлович
RU2582901C1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ВЗРЫВЧАТОГО ВЕЩЕСТВА В КОНТРОЛИРУЕМОМ ПРЕДМЕТЕ 2001
  • Ольшанский Ю.И.
  • Филиппов С.Г.
  • Гжибовский Н.Э.
RU2206080C1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ И ИДЕНТИФИКАЦИИ ВЗРЫВЧАТЫХ ВЕЩЕСТВ 2004
  • Диянков Олег Владимирович
  • Черчес Юрий Ильич
  • Карабашев Сергей Генрикович
  • Степанян Григорий Арнольдович
RU2283485C2

Реферат патента 1982 года Способ нейтронного количественного анализа элементного состава вещества

Формула изобретения SU 274 859 A1

SU 274 859 A1

Авторы

Гамбарян Р.Г.

Казаченков Ю.Н.

Штань А.С.

Даты

1982-02-28Публикация

1967-10-26Подача