Изобретение относится к области радиотехнической промышленности, а именно к способам измерения параметров варисторов.
Известны способы измерения коэффициента нелинейности варисторов с использованием логарифмического элемента, в которых искомая величина прямо пропорциональна падению переменного напряжения на логарифмическом элементе.
Педостаток известных способов состоит в значительной погрешности измерения.
По предлагаемому способу для уменьшения погрешности измерения изменяют отношение величины напряжения источника питания постоянного тока к амплитуде переменного напряжения источника питания переменного тока таким образом, чтобы отношение тех же напряжений на различных варисторах или на одном и том же варисторе при разных напряжениях источника питания постоянного тока оставалось постоянным. Далее изменяют величину сопротивления «токового резистора так, чтобы падение напряжения на нем от постоянного тока оставалось постоянной величиной для различных значений этого тока, после чего измеряют падение переменного иапряя ения на «токовом резисторе, равное величине коэффициента нелинейности варистора.
Устройство содерл ит сопротивление / «токового резистора и параллельно включенных вольтметров; сопротивление 2 потерь схемы по постоянному току; сопротивление 3 потерь схемы по переменному току; вольтметр 4 переменного напряжения; вольтметры 5 и б постоянного напряжения; амперметр 7 постоянного тока; источник 8 питания переменного напряжения; источник 9 питания постоянного
напряжения.
Сущность предлагаемого способа заключается в следующем.
Изменяют амплитуду переменного напряжения источника синусоидального переменного
напряжения в зависимости от величины постоянного напряжения на выходе регулируемого источника питания постоянного напряжения по определенному закону, вид которого зависит от элементов схемы реализующего
устройства. В этом случае будет обеспечено постоянство отношения величины постоянного напряжения к амплитуде переменного напрял ения, подводимых к электродам варистора, что необходимо для обеспечения минимальной
погрешности измерения коэффициента нелинейности,.
Изменяют величину сопротивления «токового резистора таким образом, чтобы падение напряжения на нем от постоянного тока было постоянного тока. Значение калибровочного напряжения контролируют вольтметром 5. Отсчитывают измеряемую величину по вольтметру 4 переменного напряжения, шкала которого проградуирована в значениях коэффициента нелинейности. Предмет изобретения Способ измерения коэффициента нелинейности варисторов, основанный на одновременном приложении к варистору переменного и постоянного напряжений, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности измерения, изменяют отношение величины напряжения источника питания постоянного тока к амплитуде переменного напряжения источника питания переменного тока таким образом, чтобы отношение тех же напряжений на различных варисторах или на одном и том же варисторе при разных напряжениях источника питания постоянного тока оставалось постоянным, далее изменяют величину сопротивления «токового резистора так, чтобы падение напряжения на нем от постоянного тока оставалось постоянной величиной для различных значений этого тока, после чего измеряют падение переменного напряжения на «токовом резисторе, равное величине коэффициента нелинейности варистора.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЕРЕХОД-КОРПУС ЛОГИЧЕСКИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ | 2007 |
|
RU2327178C1 |
Способ измерения коэффициента нелинейности электропроводности материалов | 1981 |
|
SU1061064A1 |
Кондуктометр | 1982 |
|
SU1075132A1 |
Способ измерения потерь мощности от высших гармоник | 1983 |
|
SU1161888A1 |
Способ измерения нелинейности передаточной характеристики амплитудного детектора | 1987 |
|
SU1478169A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ НЕЛИНЕЙНОГО ДВУХПОЛЮСНИКА С ТЕМПЕРАТУРОЗАВИСИМОЙ ВОЛЬТАМПЕРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКОЙ | 2013 |
|
RU2545090C1 |
Устройство для измерения пробивного напряжения лавинного фотодиода | 1982 |
|
SU1033992A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОВОГО ИМПЕДАНСА СВЕРХБОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ - МИКРОПРОЦЕССОРОВ И МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ | 2012 |
|
RU2521789C2 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЕРЕХОД-КОРПУС ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ | 2014 |
|
RU2569922C1 |
СПОСОБ КОНТРОЛЯ РЕЖИМА НАСЫЩЕНИЯ ТРАНЗИСТОРНОГО КЛЮЧА | 1999 |
|
RU2156997C1 |
Е
tf 6 Q
Авторы
Даты
1971-01-01—Публикация