Известен диффереициальиый рефрактометр, содержащий коллиматор е освещаемой щелью, камерный объектив, измерительную систему и регистрирующее устройство.
Описываемый дифференциальный рефрактометр отличается от известиого тем, что с целью повышения точности измерений перед объективом коллиматора устаиовлен экран, перекрывающий иоследовательно верхнюю и нижнюю половины н,ели, а за этим объективом устаиовлеи второй экран, нропускаюиц1Й к камерному объективу свет поперемепно от каждого из пары исследуемых образцов, причем каждый экраи снабжеп приводом, задаюпдим частоту перекрытия световых потоков, превышающую времеиную разрешаюн,ую способность регистрирующего устройства.
На фиг. 1 показана схема описываемого дифференциального рефрактометра; иа фиг. 2 - вид поля зрения рефрактометра.
Описываемый прибор содержит источиик света / с коидеисатором, щель 2, экран 3, коллиматориый объектив 4, экран 5, исследуемую 6 и эталопиую 7 призмы, камериый объектив 8, измерительиую систему, иапример зеркальный оптический микрометр 9:нониалъного совмещения (на-чертеже показан условно); и окуляр с сеткой 10.
Источник / освещает входную щель 2, находящуюся в фокальной плоскости объектива 4. После объектива 4 свет параллельным пучком падает на входную грань призм fi и 7.
Объектив 8 в своей фокальной плоскости дает изображенне спектров призм 6 и 7, которое рассматривается в окуляр W. Экраны , н 5 служат для устрапе1Н я наложения сиектров на друга.
iipH ноложении экранов, изображенном иа фиг. 1, свет идет только от верхней половины щели и только через призму 7 (через окна У/ в экранах 3 и 5). При повороте экранов иа 180° свет пойдет только от иижпей половины
Н1ели и только через призму 6 (через окна J2 в экранах 3 и 5). Экраны 3 и 5 вращаются со скоростью, обеспечивающей частоту перекрытия световых пучков, превышающую временную разрешающую способность глаза.
В результате нзображения снектров от эталонного и иснытуемого образцов (см. фиг. 2) располагаются друг иод другом и не перекрывают друг друга ио высоте.
Измерение разности показателей преломлсиия материалов призм б и 7 (см. фиг. I) производится с помощью оптического зеркального
микрометра -9, который позволяет смещать
6 н 7, соответствующих одной и той же длине волны света.
Предмет изобретения
Дифференциаль 1ый рефрактометр, содержащий коллиматор с освещаемой щелью, камерный объектив, измерительную систему, например зеркальный оптический микрометр ноииальиого совмещения, и регистрирующее устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, перед объективом коллиматора установлен экран, нерекрывающий последовательно верхнюю и нижнюю половины щели, а за этим объективом установлен второй экран, пропускающий к камерному объективу свет попеременно от каждого из нары исследуемых образцов, причем каждый экран снабжен приводом, задающим частоту перекрытия световых потоков, превыщающую временную разрешающую снособность регистрирующего устройства.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Дифференциальный способ измеренияпОКАзАТЕля пРЕлОМлЕНия | 1976 |
|
SU817546A1 |
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ ПРЕЛОМЛЕНИЯ | 1972 |
|
SU326493A1 |
Коинцидентный рефрактометр | 1973 |
|
SU531069A1 |
Дифференциальный рефрактометр | 1975 |
|
SU572689A1 |
Импульсный рефрактометр | 1977 |
|
SU699403A1 |
Способ для измерения показателя преломления поглощающих сред и устройство для его осуществления | 1976 |
|
SU623143A1 |
Оптический прибор для исследования прозрачных неоднородностей | 1982 |
|
SU1059530A1 |
Рефрактометр для прозрачных пластин | 1988 |
|
SU1631373A1 |
Рефрактометр нарушенного полного внутреннего отражения | 1979 |
|
SU938109A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОКУСНЫХ РАССТОЯНИЙ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ | 2002 |
|
RU2222793C1 |
J/2 f-K/;
0
9ии
Даты
1971-01-01—Публикация