ПАТЕНТНО-ТГК?и'- ;'ШБЛИС Советский патент 1971 года по МПК G01K5/00 

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности, к области исследования излучательных свойств материалов.

В настоящее время при определении излучательной способности материалов используют способ, основанный на тепловом балансе электрической мощности, затраченной на нагревание тела, и тепла, излучаемого с поверхности нагретого тела.

Этот способ, связанный с предварительной градуировкой системы, наличием неравномерного температурного поля по длине образца и радиального градиента температур от металлической нити к наружной поверхности исследуемого материала, приводит к снижению точности измерения интегральной излучательной способности материалов.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что два одинаковых по размерам и чистоте поверхности термоприемника, покрытых исследуемыми материалами, погружают в нагретый прозрачньш газ, измеряют температуру газа и термоприемников и по измеренным параметрам определяют относительную излучательную способность исследуемых материалов.

Сущность способа заключается в том, что изготавливают два одинаковых по размерам и чистоте поверхности термоприемника (в качестве термоприемников используют термопары или термосопротивления, чистые или покрытые путем напыления исследуемыми материалами). Термоприемники помещают в нагретый прозрачный газ, однородный в районе установки термоприемников, и измеряют температуру газа и термоприемников. Для правильного измерения относительной излучательной способности конструкцию термоприемников подбирают так, чтобы исключить влияние на их показания всех факторов, кроме потерь энергии на излучение. Так как разность между температурой газа Тг и температурой тер.моприемников Т и TZ обусловливается разным количеством энергии, излучаемой нагретыми телами с разной излучательной способностью ei и ЕЗ, то

Т Т - /т -г 1

0) - г - - 1 - (Ti - TcW

21

т,-т, -(т1-П,),

(2)

коэффициенты

tti, iy.2 - соответствующие теплоотдачи.

Для заданных постоянных параметров газа и

% TZ(3)

4 уп4

Гг-Го 1 1-/ст

Таким образом, уравнение (3) позволяет определить относительную интегральную излучательную способность двух материалов, а при наличии эталонного термоприемника с известной излучательной способностью нетрудно определить абсолютное значение излучательной способности исследуемого материала.

Предмет изобретения

Способ определения относительной интегральной излучательной способности материалов путем измерения температуры нагретых тел с разной излучательной способностью, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, два одинаковых по размерам и чистоте поверхности термоприемника, покрытых исследуемыми материалами, погружают в нагретый прозрачный газ, измеряют температуру газа и термоприемников и по измеренным параметрам определяют искомую величину.