СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВОЙ ДИСПЕРСИИ НАМАГНИЧЕННОСТИ ТОНКИХ МАГНИТНЫХ НЛЕНОК Советский патент 1971 года по МПК G01R33/12 

Изобретение относится к области магнитных измерений.

Известные способы измерения угловой дисперсии намагниченности тонких магнитных пленок путем воздействия на пленку высокочастотным магнитным -полем, приложенным в ллоскосги пленки перпендикулярно оси легкого намагничивания, не позволяют измерять угловую дисперсию пленок с остаточной доменной структурой.

Ио предлагаемому способу вращают пленку относительно приложенных Полей и измеряют угол, в пределах которого возникает параметрический резонанс, по значению которого судят об иско.мой величине.

Благодаря этому расширяется диапазон измеряемых значений.

На чертеже приведена блок-схема устройства для проведения измерений ло описываемому способу.

Колебания высокой частоты с генератора / поступают в контур 2, настроенный в резонанс на частоту подводимого напряжения. В катушке индуктивности контура 2 создается высокочастотное поле накачки //р. Постоянное магнитное поле Но создается в катушках Гельмгольца 5, подключенных к источнику постоянного тока 4. Поля Яр и Но на-правлены перпендикулярно оси легкого намагничивания тонкой магнитной пленки 5 и приложены в ее плоскости. Величины нолей .соответствуют значениям, при которых в контуре 6 возникают параметрические колебания, наблюдаемые на осциллографе 7. Пленку вращают внутри системы катушек и отсчитывают утлы, при которых исчезают лара.метрические колебания. Удвоенное значение угла, в пределах которого наблюдаются параметрические колебания, численно равно угловой дисперсии Намагниченности пленки.

Предварительная ориентация оси легкого намагничивания пленки перпендикулярно направлению действующих полей осуществляется путем подачи на контур 6 колебаний частоты, равной частоте параметрических колебаний, от генератора 8 напрял ения с частотой 50 гц в катушки Гельмгольца 3. При этом реализуются условия ферромагнитного резонанса.

Па низкочастотном осциллографе 9 наблюдают продетектирОВанную детектором кривую дифференциальной магнитной восприимчивости, по форме которой производят соответствующую ориентацию нленки.

25

тем воздействия на пленку переменным и постоянным магнитными полями, приложенными Е- ПЛОСКОСТИ пленки, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазола измере 1ий|

пленку относительно приложенных полей и измеряют угол, Б пределах которого возникает параметрический резонанс, по значению которого судят об искомой величине.