ОПТИЧЕСКИЙ КВАДРАНТ Советский патент 1971 года по МПК G01C1/06 

По основному авт. св. № 252632 известен оптический квадрант, содержащий лимб, оптический микрометр с индексом и окуляр, в котором оптический микрометр и индекс расположены непосредственно у лимба, а разделитель блок, выполненный из призмы и двух кл,иньев, непосредственно у окуляра.

Однако в этом квадранте вследствие размещения микрометра непосредственно у лимба отсутствует независимость изменения масщтаба изображения щкалы лимба относительно масщтаба изображения щкалы микрометра, а следовательно, и возможность устранять «реи, т. е. разность между действительной ценой деления щкалы лимба и измеренной по микрометру, обусловленная неточностью изготовления щкал и поворотной пластины, что приводит к недопустимо больщим ощибкам измерения;

отсутствует оптическая компенсация (измерение) перемещений изображения одного из диаметрально противоположных участков щкалы лимба, что также значительно снижает точность измерения прибора;

оптическую компенсацию разности хода -между лучами необходи МО вести от противоположных участков лимба из-за размещения микрометра (поворотной пластины) около единого из участков лимба.

лагаемоМ квадранте между щкалой микрометра с отсчетным индексом л блокам совмещения световых потоков от противоположных участков ли,мба установлена дополнителы ая

поворотная плоскопараллельная пласти л естко соединенная со щкалой микромет

за. При этом поворотные плоскопараллельн ые пластины выполнены из пары клиньев, об еспечивающих регулировку толщины пластин

На чертеже изображена схема предлагаемого оптического квадранта.

Квадрант содержит прозрачный лпмб| 1, оточетную систему лимба, состоящую из щчалы микрометра 2 с индексом 3, алпаадных призм 4 и 5, поворотных плоскопараллельиых пластин 6 и 7, образованных клиньями 8, блока совмещения световых потоков 9, проекционного объектива 10 и разделительный б.|ок

микрометра, образованный призмой 11 и клиньями 12 и 13; симметричный окуляр 14.

Пучки лучей, сформированные осветительной системой, осветив диаметрально противоположные участки щкалы лимба L/, щкалу микрометра 2 и отсчетный индекс 3, направляются через призмы 4 и 5, пластины 5 и 7 в блок 9 и далее через объектив 10, призму // к линии раздела, образованной границей зеркальных покрытий клиньев 12 и 13. В плостюсти линии раздела пучки лучей строят изображения делений лимба, шкалы 1микрометра и индекса, которые совместно с изображением линии раздела рассматриваются через окуляр 14.

В процессе измерения микрометром в поле зрения происходит смещение изображения шкалы 2 в результате ее механического сдвига в плоскости предметов и одновременного оптического сдвига лучей в плоскости изображений пластиной 6. Однако это не влияет на правильность и точность производства измерений, поскольку оптическому смещению подвергается одновременно и строго на одинаковую величину вся совокупность изображений предметов, расположенных в плоскости лимба, штрихи лимба, шкала .микрометра и отсчетный индекс 3.

При этом максимальна/я величина их оптического смещ-ения соответствует половине

13

видимой величины интервала между младщими штрихами шкалы лимба.

Выполнение пластин 5 и 7 из клиньев 8 позволяет устранять «реи за счет изменения ве-личины оптического смещения в поле зрения изображения штрихов лимба путем увеличения или уменьшения толщины пластин взаимным нараллельным сдвигом их клиньев.

Предмет изобретения

Оптический квадрант по авт. св. № 252632, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений и упрощения сборки и юстировки, в нем в обоих трактах, передающих изо1бражение от диаметрально противоположных участков лимба, перед блоком совмещения световых потоков установлены плоскопараллельные пластинки, жестко связанные со щкалой оптического микрометра.