ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ ШТРИХА МЕРЫ Советский патент 1972 года по МПК G01B9/04 G01B11/02 

Предлагаемое устройство относится к области измерительной техники, a именно, к приборам для проверки штрихового измерительного инструмента, содержащего шкалу н индекс (нониус).

Известен фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры, содержащий оптическую систему наведения на штрих и отсчетное устройство.

Микроскоп перестанавливают для последовательного наведения на штрих шкалы и штрих-индекс с отсчетом несовпадення штрихов по перемешению самого микроскопа.

Работа с помашью известного устройства является малопроизводительной, и, кроме того, в измерение вносятся погрешности за счет установки.

Предлагаемый микроскоп позволяет измерять величину несовпадения Н1триха и штриха-индекса (нониуса) за одну установку микроскопа, что обеспечивает автоматизацию контроля.

Предлагаемый микроскоп отличается от известного тем, что оптическая система снабжена элементом, обеспечиваюшим смешение изображения в поле зрепия микроскопа вдоль направления штриха и выполненным, напри мер, в виде нлоскопараллельиой пластины, г опдей возможность новорачиваться вокруг халлельной нродольной оси меры.

На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого мпкроскона. Микроскоп содержит оптическую систему наведения на штрих, состоящую из осветителя 1, объектива 2, окуляра 3, скаиатора 4, фотоприемника 5, преобразующий блок 6 с отсчетиым устройством, плоскопараллельную пластину 7. Контролируемая мера, например, шкала S с индексом 9, изображена также на чертеже.

Работает микроскоп следуюшим образом. Свет от осветителя / освещает меру - шкалу 8 с индексом (ноииусом) 9. Отражаясь от шкалы, свет проходит через плоскопараллельную пластину 7, которая может поворачиваться вокруг осн, параллельной осп шкалы. Пройдя пластину, свет попадает в объектив 2 микроскопа п образует в плоскости сканатора 4 (еслн таковой имеется) изображение штриха, затем свет нроходнт через окуляр 3, который образует увеличенное изображение штриха в фотоприемнике 5. Полол ение штриха указывается преобразующим блоком 6 с отсчетпым устройством. Место, на которое наведен микроскоп, зависит от угла поворота пластипы 7.

Угол поворота выбирается так, чтобы в крайних положениях иластины в поле зрения микроскопа попадали штрихи только основной щкалы или штрих-индекса (нониуса). Контролируемый прибор со шкалой 8 и индексом 9 (нониусом) настраивается на измерение образцового перемещения, например, концевой меры длины. Микроскоп наводится на соответствующий штрих шкалы 8 так, чтобы отсчегное устройство показало нуль. Поворотом нластинки, не смещая микроскоп, производится наводка на индекс нониуса 9, который должен совпадать с указанным штрихом шкалы, и по отсчетному устройству определяется величина несовпадения штриха и индекса, т. е. комплексная погрендность из.мерительпого прибора.

Предмет изобретения

Фотоэлектрический микроскоп для контроля положения штриха меры, содержащий оптическую систему наведения на штрих и отсчетпое устройство, отличающийся тем, что, с целью автоматизации контроля, оптическая система сиабжсиа элементом, обеспечивающим смещение изображения в поле зрения микроскопа вдоль направления штриха, и выполненным, иапример, в виде плоскопараллельной пластины, имеющей возможность поворачиваться вокруг оси, параллельной продольной оси меры.