СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ВКЛЮЧЕНИЙ В ШИРОКОЗОННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКАХ И ДИЭЛЕКТРИКАХ Советский патент 1972 года по МПК G01N27/00 

Изобретение относится к способам определения макрочастиц металла в диэлектриках и широкозониых полупроводниках.

Спектральпым эмиссионным анализом мож- . но определять наличие малых количеств металла в средах, но этим способом нельзя определить фазу (состояние) металла.

Предложенный способ дает возможность обнаружить макрочастицы металла в окружающей среде (полупроводниках, диэлектриках) по фотоэлектрической спектральной характеристике с экспериментально определенной длинноволновой границей фотоэффекта от частиц металла в данную среду.

Наличие или отсутствие частиц металла в исследуемом материале влияет как на форму частной характеристики фототока, так и на величину последнего.

При обнаружении металлических включений предложенным способом необходимо, чтобы работа вырывания электрона из металла в окружающую среду была меньше энергетической щирины запрещенной зоны. Эта работа тем меньше, чем больше диэлектрическая проницаемость среды.

Полученные экспериментально величины фототока, рассчитанные на единицу падающей энергии, наносят на график в прямоугольной системе координат. По горизонтальной оси откладывают значения hv-ftvo в электронвольтах или других энергетических единицах (v -частота света, большая граничной частоты vo). По вертикальной оси откладывают величину фототока, соответствующую значениям

/zv-/zvo в выбранных единицах. Затем по формуле теории фотоэмиссии из металла в диэлектрик подсчитывают величину фототока с учетом диэлектрической проницаемости среды (диэлектрическая проницаемость г п , где

п--показатель преломления для красной или инфракрасной части спектра).

Теоретические величины фототоков сопоставляются с экспериментальными величинами для одинаковых световых частот v; для какого-либо одного из значений /г (v-vo) теоретическую и экспериментальную величииы фототока приводят к одному значению (совмещают), а остальные величины фототоков сопоставляются в долях условно выбранного значения фототока.

Совпадение экснернментальных и теоретических величин фототоков указывает на то, что фотоэффект иронсходит с частиц металла в окружающий фотонолупроводпик.

25

Предмет изобретения 3 тактами, отличающийся тем, что, с целью обнаружения макрочастиц металла, образец облучают электромагнитным излучением, про4зрачным для исследуемого материала, и по частотной зависимости фототока судят о наличии таких включений.