УСТРОЙСТВО для КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ИЗДЕЛИЙ Советский патент 1972 года по МПК G01B7/28 

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при контроле микрорельефа изделия.

По основному авт. св. № 152066 известно устройство для контроля формы изделий, однако оно не позволяет измерять проф|иль (микрорельеф) изделий, так как соответствие измеренного заряда профилю (микрорельефу) изделия зависит от формы измерительного электрода и расстояния между измерительным электродом, донолнительным электродом и деталью.

Для того чтобы измерить микрорельеф изделий (например, коллекторов ЭvтeкI pичelDKИx машин), необходимо повысить разрешающую способность при сравнительно высокой чувствительности устройства, что достигается выполнением измерительного электрода в форме полушара, радиус которого равен двойному расстоянию от изделия до дополнительного электрода, расположенного в центре шара.

На чертеже показа:на схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит измерительный электрод ), дополнительный электрод 2, нагрузочное сопротивление 3 и осциллограф 4.

трода 2 обладающего зарядом, происходит изменение по определенному закону величины потенциала поля, которое воз-никло бы, если бы на измерительный электрод / был задан

единичный потенциал, а изделие 5 заземлено. По такому же закону происходит изменение наведенного на измерительном электроде 1 заряда. При протекании в цепи наведенного тока с 1агрузочного сопротивления 3 снимается Ф апряженне, которое подается на вход осциллографа 4. На экране осциллографа 4 появляется кривая, определенным образом связанная с формой контролируемого изделия 5.

При выборе формы электрода рассмотрим следующее.

Если заряд q поместить на измерительный электрод 1, то площадь 5 съема информации

определяется всем полем измерительного электрода. Если заряд q поместить на расстояпни /о от изделия 5, меиьшем d (do - расстояние от заряжанного дoпOvaнитeльнoгo электрода до измерительного), то площадь

съема информации уменьшится, разрешающая способность увеличится, но чувствительность упадет, так как не все силовые линии будут замыкаться на измерительном электроде /. Таким образом, при согласовании нагрузочноэлектродного промежутка устройство дает увеличение разрешающей способности в тангенциальном .направлении (уменьшение площади съема информации) при уменьшении чувствительности.

а/о

Из выражения для чувствительности N-где (ф - изменение потенциала поля, определяе тся мамсималыное значение Ч1у1вст1вительности и оптимальная форма электрода.

Оптимальной формой измерительного электрода будет полущар, в центре которого располагается дополнительный электрод с зарядом q.

Для найденной формы измерительного электрода чувствительность будет наибольщей,

если /0 - do.

Предмет изобретения

Устройство для контроля формы изделий по авт. св. № 152066, отличающееся тем, что, с целью повышения разрешающей способности и чувствительности устройства, измерительный электрод выполнен в фор.ме полущара, радиус которого равен двой-ному расстоянию от изделия до дополнительного электрода, расположенного в центре шара.