УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ФЕРРИТОВЫХОБРАЗЦОВ Советский патент 1972 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU345450A1

Изобретение относится к радиоэлектронике, радиозимерительнй технике СВЧ.

Известные сиособы и устройства для измерения параметров ферритовых образцов малых размеров (00,5-2 мм) неиригодные для измерения образцов с 0 5-10 мм. Измерение с помощью прямоугольного запредельного волновода, в котором образец помещают между петлями связи и иамагничивают внешним магнитом, требует строгой ориеитации образца относительно узких стенок волновода. Установка для измерений имеет большие габариты и вес, малый частотный диаиазон измерения.

Цель изобретения - повышение точности измерения. Достигается это тем, что запредельный ослабитель в предлагаемом устройстве выполнен цилиндрическим, а элементы возбуждения и съема, являющиеся полюсами постоянного магнита, выполнены из оксидиых магнитотвердых ферритов.

На чертен е изображен разрез предлагаемого устройства.

Устройство содержит цилиндрический запредельный ослабитель 1, входную 2 и выходную

3коаксиальные линии, элементы возбуждения

4и съема 5, катушку 6 для свипирования магнитного поля. Вход устройства снабжен СВЧ соединительным разъемом 7, выход - соединительной фишкой 8 и кристаллическим детектором 9.

Измеряемый ферритовый образец 10 помещают по оси цилиндрического запредельного ослабителя между полюсами постоянного магнита. При намагничивающем ноле, соответствующем ферромагнитному pesoiiaHcy, . запредельный ослабнтсль с ферритовым образцом нредставляют собой колебательную систему с частотной характеристикой, форма которой определяется магнитной восприимчивостью

образца. Нормированный коэффициент передачи колебательной системы запредельный ослабитель - ферритовый образец определяется соотношением

т 1 I f

+Ч: -где V - объем ферритового образца;

R - радиус запредельного ослабителя; у -диагональная компонента внешнего тензора магнитной восприимчивости.

Ширина резонансной кривой колебательной системы определяется собственными магнитными потерями в ферритовом образце, так как

нотери на излучение и потери в стенках много меньше собственных магнитных потерь. Для визуального наблюдения и измерения ширины линии ферромагнитиого резонанса при подведенной СВЧ мощности изменяют расстояние

люсами постоянного магннта), т. е. устанавливают магнитное ноле, соответствующее ферромагнитному резонансу на выбранной частоте. В катушку 6 подают пилообразный ток необходимой амплитуды, создающий линейно изменяющееся магнитное поле в окрестности ферромагнитного резонанса, вследствие чего коэффициент передачи изменяется пропорционально изменению магнитной восприимчивости ферритового образца, что можно установить с помощью осциллографа, подключенного к цени детектора 9, на экране которого получается кривая ферромагнитного резонанса.

По измеренным ширине линии, коэффициенту передачи при ферромагнитном резонансе, рассчитывают намагниченность образца:

TiR

(7р,з-1)

где 2АЯ - собственная ширина линии ферромагнитного резонанса; Трез - коэффициент передачи при резонансе.

Предлагаемое устройство позволяет измерять образцы различной формы и записывать прп этом магнитный спектр от 0,5 до 16 Ггц при одной установке образца.

Предмет м з о .6 ip е т е н и я

Устройство для измерения параметров ферритовых образцов, содержащее запредельный ослабитель с элементами возбуждения и съема, а также постоянный магнит, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, ослабитель выполнен цилиндрическим, а элементы возбуждения и съема, являющиеся полюсами постоянного магнита, выполнены из

оксидных магнитотвердых ферритов.

Похожие патенты SU345450A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса СВЧ ферритов 1983
  • Игнатьев Александр Анатольевич
  • Лепесткин Александр Николаевич
  • Стальмахов Всеволод Семенович
SU1149196A1
Способ локального измерения удельного сопротивления полупроводникового материала 1983
  • Помялов Андрей Владимирович
SU1100544A1
ЙСЕСОКЭЗНАЯiiA{imm-'::.:^-.j:mmБИБЛ^-Н,/. LiiA 1972
SU338859A1
Устройство для измерения времени задержки импульсов 1980
  • Полухин Юрий Николаевич
  • Маркелов Сергей Александрович
SU941921A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИМПУЛЬСНОЙ СВЧ-МОЩНОСТИ 1970
SU274833A1
ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫ РЕЗОНАНСНЫХ КРИВЫХ ФЕРРИТОВЫХ ОБРАЗЦОВ 1973
  • В. Н. Кокотько В. М. Митлин
SU384081A1
Вентиль СВЧ 1990
  • Кирсанов Юрий Александрович
  • Лесин Владимир Степанович
  • Колоколов Юрий Константинович
  • Соколов Александр Николаевич
SU1764105A1
ОГРАНИЧИТЕЛЬ СВЧ МОЩНОСТИ 1973
  • В. И. Чуркин Ю. Р. Шильников
SU364992A1
ВОЛНОВОДНЫЙ НАПРАВЛЕННЫЙ ФИЛЬТР 1969
  • А. В. Кисл Ковский Киевский Ордена Ленина Политехнический Институт
SU242253A1
Метод для прецизионного согласования микрополосковой СВЧ линии на участке с измеряемым образцом для ФМР характеризации 2023
  • Белотелов Владимир Игоревич
  • Ветошко Петр Михайлович
  • Буньков Юрий Михайлович
  • Кузьмичев Алексей Николаевич
  • Павлюк Егор Игоревич
RU2816558C1

Иллюстрации к изобретению SU 345 450 A1

Реферат патента 1972 года УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ФЕРРИТОВЫХОБРАЗЦОВ

Формула изобретения SU 345 450 A1

SU 345 450 A1

Даты

1972-01-01Публикация