УСТРОЙСТВО ИНФРАКРАСНОГО КОНТРОЛЕасвсоюзнА?^ I1:г.|4,"Ф • ои;-.1'гОТЕКА^SlfUM Советский патент 1972 года по МПК G01N21/35 

Изобретение относится к системам неразрушающего контроля материалов, деталей и конструкций, в частности к устройствам, предназначенным для активного контроля с использованием инфракрасного излучения.

Известны устройства инфракрасного контроля, содержащие источник для облучения исследуемого объекта, зеркальный объектив, приемник инфракрасного (ИК) излучения и механический блок перемещения источника и приемника относительно объекта.

Недостатком известных устройств является низкая разрешающая способность, малое быстродействие и невысокая точность при онределении дефекта, обусловленные механическим перемещением больших масс. Кроме того, при контроле объектов со сложным пространственным рельефом известными средствами невозможно обеснечить постоянство величины воздействия, а следовательно, высококачественный контроль состояния.

Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что оно снабжено выпуклым зеркалом, установленным под углом к потоку источника излучения, формирующим в фокальной плоскости зеркального объектива мнимое изображение источника излучения, а на объективе - действительное изображение (точку), а нриемник установлен в фокальной плоскости объектива на некотором расстоянии

от мнимого изображения источника излучения.

Такое выполнение устройства позволяет повысить точность контроля и осуществить одновременно развертку луча воздействия по объекту и синхронный съем информации с объекта, что повышает быстродействие и точность определения дефекта объектов со сложным пространственным рельефом.

На чертеже изображено предлагаемое устройство.

Устройство ИК-контроля включает источник оптического излучения (лазер) 1, зеркало 2, зерка.льный объектив 3, исследуемый объект 4, нриемник 5 ИК-излучения, пятно воздействия В и область Я, с которой снимается информация.

Устройство работает следующим образом.

Луч лазера /, отразившись от зеркала 2 выпуклой формы, через зеркальный объектив 3 направляется иа исследуемый объект 4. Тепловая энергия этого луча поглощается элементарным участком заданного диаметра В. Температура поверхности определяется теплообменом этого участка и, следовательно, зависит от наличия или отсутствия дефекта. Тепловой поток с элементарного участка Я поверхности объекта, предварительно нагретого нрошедшим по нему пятном воздействня, с помощью того же зеркального объектива 3