СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА Советский патент 1972 года по МПК G01N21/72 

Изобретение относится к области определения элементов ло их Спектрам излучения ,в лрикладиой спектроокапии и в чаотно сти, в пламенной фотометрии.

Известен ianooot6 количественных олределбний, сснованиый на измерении интенсивности электромагнитйог.о излучения элемента IB источнике воз.буждения. При этОМ производят отлосительные измерения, т. е. излучение элемента IB анализируемой пробе оравйивают с интеисивиостью излучейия того же элемента в idn.eiKi:poxiH,MHi4eQKH идентичных шрОбам эталонных образцах с известной концентрацией определяемого элемента.

В известном способе ,в.ьшол.ненне определений ,в широкой области (концентраций требует для достижения удовлетворительной Т0:чнюсти, (применения (большого количества эталонов с целью установлен ия математической связи излучения с концентрацией. Это обусловлено нелнней,ным характером са:мопоглощения при достаточно высоких значеН1ИЯХ онтичеокой .паотнссти зоны из-лучения.

Цель изобретения--ускорение, упрощение и повышение воспроизводимости определений.

цра, (практически одновременно нроизводят онределения сигнала, равного сум,ме (дрямого излучения, и сигнала, нропорадионального первому и вторична .пропущенному через тот же HCT04HH(ii.

Путем обработки результатов измерений находят функцию, связывающую концентрацию элемента с измеряемыми параметра ми. Ширину выходной щели при работе с монохроматором устанавливают больше, чем изображение (входной щ&чи фокальной Плоскости в.ыходното (Коллиматора (интегральное из.мерание мнтевсианоотн спектральной линии). При существенно асимметричном

источнике сигнал, нронорциональный 1пер(вому, нролу1окают через ту же зону, Которая его изл.учает.

На черггеже показана принципиальная схема одного из во3(можных вариантов установки для вькполнения анал(изов (по- предлагаемому способу нри использовании в (Качестве источника возбуждения С:ПбкТ(ров (Нламеии. Опособ состоит в следующем.

Производят юстироаку оптической системы. Все элемен)ты, расположенные (На олтичеокой скамье, устанавливают на спт1ИчеС|КОЙ оси (входно(го коллиматора диспергирующего пр(ибора /. Расстояние от источника 2 возбора 1 устанав1лква1от больше или равным ч.еты,рем фокусным расстояииям конденсора 4 и в зависимости от размеров и формы источника. Сферичеокое (параболическое, плОокое и т. д.) зеркало 5 помещают в фокальной 1П1ЛО.С1коС1ти конденсора 6. Оптическую систему, состоящую из зеркала 5 и конденсора 6, ставят на таком расстоянии от источника 2, чтобы (резко 1С1фокусироваиное изображение, лолученное от зеркала 5, лолноотью совпадало с самим источн|иком. Оптические затворы 7 и 5 устанавливают в местах, показанных на чертеже. Все элементы на оп-тйчеокой скамье обеопечивают лолно-е заполнение входного коллимато-ра, исл,равле1ны на сферическую и хроматическую абберацви, а затворы 7 и S не .виньетируют оптическое изОбражение. Установка остальных элементов в дополнительном .пояснении не нуждается, их устанавливают известным способом. Далее приступают к непосредственным изимерениям. Анализируемую яробу из диснергатора 9 вводят в пламя 2. Закрывают затвор 8 и измерительной схемой 10 определяют значение темнового тока о фотоумножителя 11. Открывают зат.вО|р 8 и при закрытом затворе 7 измеряют интенсивность излучения эле.мента to в лламени В определенном участке албктромагнитнОГо спектра. Открывают заrBiop 7 и при OTiKipbiTOM затворе 8 измеряют интенсивносггь эмиссии Для той же области спектра /о. Процесс измерения повторяют с целью усреднения единичных ошибок измерения. Электрически в блоке 10 или математически вычисляют (Параметры - о и 3 3 t /o - XQ. Если велмчина фона соизмерима с / и i, то производят его учет обычныМ способом и исправляют параметры / и i анашогично тому, как это делают для темнового тока ФЭУ И. Процесс измерения поочередно выполняют для всех эталонов и цроб данной серии. Зависимость измерения параметров I, i от концентрации элемента т аир оке и м и р у ю т у р а BiH е кие м: ), т В--Тгде А и В - постоянные. Вычисление А и В 1про1изводят ио эталонам с известной концентрацией элемента общепринятьими математическими приемами или лолучаю1Т результат непосредствейнО в единицах концентраци1и т в измерительной схеме 10 (аналоговая система .измерения с р,уч1ной устанойкой - А и В постоянные-пО методу последовательных приближений). Предмет изобретения Способ спектрального анализа возбуждения излучения (иаследуемого вещества и регистрации его интенсивности, отличающийся тем, что, 1C целью повышения точности измеРений, излучение исследуемого вещества вторично пропускают через зону возбуждения и по интен1аи1в ности толученного таким образОМ излучения и интенсивности прямого излучения судят о коицантрации исследуемого ве,щес1тва.