Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано в экспериментальной газовой динамике, при изучении прозрачных неоднородных сред, при контроле оптических деталей. Известные теневые способы измерения кривизны световой волны состоят в измерении с помощью теневого прибора направления лучей света и в последующем дифференцировании полученной таким образом эмпирической зависимости. Недостатком этих способов является необходимость предварительного определения промежуточной величины (направления лучей света) и малая точность результатов, что связано с дифференцированием эмпирической функции. Изобретение позволяет с более высокой точностью непосредственно измерять кривизну световой волны путем помещения в фокальную плоскость оптической системы приемной части теневого прибора нити или системы параллельных нитей рещетки. Направление нити выбирают перпендикулярным тому плоскому сечению, в котором измеряется кривизна световой волны, затем выводят «ить из фокальной плоскости (расфокусируют). Расфокусировку производят при измерении положительной кривизны (сходящаяся вол«а) против хода лучей, при измерении отридательной кривизны (расходящаяся волна) - по ходу лучей. Фотографируют теневую картину от расфокусированной нити (решетки) и на полученной фотографии находят вершины теней от нитей: точки, в которых прямые, перпендикулярные нити, касательны к середине тени. В точках, совпадающих с верщинами теней, определяют кривизну сечения поверхности световой волны плоскостью, перпендикулярной нити. Для теневого прибора с зеркально-менисковой системой (серийный теневой прибор ИАБ-451) кривизна К определяется по формуле:/.-Л(5-/)) где f -второе фокусное расстояние зеркальио-менисковой системы; А - расфокусировка нити ( при расфокусировке против хода лучей); 5 - отрезок, определяющий положение плоскости предмета относительно первой главной плоскости. Для теневого прибора с линзовым объективом кривизна К определяется по формуле:
где f - второе фокусное расстояние линзового объектива;
Д - расфокуси;ровка нити ( при расфокусировке по ходу лучей);
S - отрезок, олределяющий положение плоСКости предмета относительно первой главной нлоскости.
Предмет изобретения,1. Способ измерения кривизны световой волны произвольной формы с помощью теневого прибора с визуализирующей диафрагмой в виде расфокусированной нити, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измеренця, Ндть расфокусируют в направлении, зависящем от знака кривизны волны, фотографируют теневую картину от нити, на фотографии находят вершину тени от нити и по известным из эксперимента параметрам определяюткривизну световой волны в вершине тени. 2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что
с помощью расфокусировКуИ нити, получают фотографии теневых картин с различным расположением вершины тени от нити и по фотографиям определяют кривизну световой волны по всему полю.
