1
Устройство может быть использовано при изучении электрофизических характеристик диэлектр.иков с малой подвижностью свободных носителей заряда, например полимеров.
Известны устройства для измерения электрических характеристик диэлектр.иков с малой подвижностью свободных носителей заряда, содержащие камеру для установки исследуемого образца, плоско-параллельную систему высоковольтных электродов, покрытых изоляционным слоем, для возбуждения электрического поля, пропускаемого через образец, и схему измерения с контактирующими с образцом токапроводящими электродами.
Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что контактирующие электроды измерительной схемы выполнены в виде по крайней мере двух пар параллельных друг другу пластин, установленных в зазоре между высоковольтными электродами перпендикулярно их плоскостям и симметрично относительно центра камеры.
Это позволяет повысить чувствительность устройства и точность измерений при исследовании электропроводности диэлектриков с малой подвижностью свободных носителей заряда..
На чертеже изображена схема устройства.
Исследуемый образец J помещают в прямоугольную камеру 2, на торцовых сторонах которой через изоляционные слои 5 и 4 размещены высоковольтные плоские электроды 5 и 6, возбуждающие пропускаемое через образец электрическое поле. Электроизоляционный слой на электродах предотвращает протеканий но образцу тока сквозной проводимости прк подключении электродов к источнику напряжения. В предлагаемом устройстве в качестве такого слоя .использованы пластинки из плавленого кварца. Измерительная схема устройства выполнена в виде параллельных электрических цепе: 1 7, S с источниками питания 9, 10, регистрирующими приборами //, 12 и по крайней мере двумя парами контактирующих электродов 13, 14 и 15, 16 в виде параллельных друг другу пластин, установленных в зазоре между высоковольтными электродами и 6 перпендикулярно плоскостям этих электро.ДОБ и симметрично относ1 тельно центра /7 камеры.
Работает устройство следующим образом.
К электродам 5 6 подключают источни:: высокого напряжения, а к исследуемому образцу / через плоско-параллельные электро.bi 13, 14 15, 16 подводят напряжение от источников 9 и 10. При этом в цепях 7 и 8 возникают электрические токи fi и ь, регистрируемые приборами // и 12. При воздействии на образец электрического поля, создаваемого электродами, токи ii и /о, из.меняются.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения удельной проводимости высокоомных микрообразцов | 1982 |
|
SU1144059A1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАБОТЫ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА | 2024 |
|
RU2821217C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОЧНОСТИ, ВРЕМЕНИ РЕЛАКСАЦИИ И ПРОВОДИМОСТИ ИЗОЛЯЦИИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПРОВОДОВ И КАБЕЛЕЙ | 2000 |
|
RU2195002C2 |
СИСТЕМА С ЗОНДОМ КЕЛЬВИНА С ВРАЩАЮЩЕЙСЯ ВНЕШНЕЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ ЗОНДА | 2016 |
|
RU2710526C2 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ | 1993 |
|
RU2079853C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТВЕРДЫХ ИЛИ ЖИДКИХ ГЕОЛОГИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ | 2009 |
|
RU2515097C2 |
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЛИНЫ ДИФФУЗИИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИНКАХ | 2015 |
|
RU2578731C1 |
Устройство для измерения переходного электрического сопротивления | 1980 |
|
SU943563A1 |
Способ локального контроля удельного сопротивления полупроводников и устройство для его осуществления | 1990 |
|
SU1822972A1 |
Устройство для определения типа проводимости полупроводников | 1982 |
|
SU1085390A1 |
Авторы
Даты
1973-01-01—Публикация