УСТРОЙСТВО для ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1973 года по МПК G01R27/26 

1

Изобретение относится к лабораторным устройствам для электрических исследований высокоомных материалов.

Известно устройство для исследования электрофизических параметров материалов, содержащее два токовых электрода, подключенных через индикатор тока к выводам источника питания, и два потенциальных электрода, каждый из которых через соответствующий индикатор баланса соединен с источником компенсирующего напряжения.

Для повышения точности измерений в предлагаемом устройстве к выводам источника питания подключен переменный резистор, средняя точка которого соединена с одним из выводов источника компенсирующего напряжения.

На чертеже представлена схема описываемого устройства.

Устройство содержит токовые / и 2 и потенциальные 3-6 электроды, индикаторы 7 и S момента компенсации измеряемого сигнала и токов утечки, соответственно, измеритель 9 тока, источник 10 компенсирующего напряжения, резистор // баланса токов утечки, резисторы 12 и 13 развязки между токовой и потенциальной частями схемы, батарею 14 питапия и переключатель 15.

В электрической схеме устройства использован потепциальпый метод измерения с компепсациеи сигналов, соответствующих исследуемым эффектам. На токовые электроды 1 и 2 образца 16 через измеритель 9 тока подается питание от батареи 14. Сигнал, возникающнй при этом между двумя любыми потенциальными электродами, например электродами 3 и 4, компенсируется напряжением от источника 10, подключенного к ним через индикатор нулевого тока. Резистор // совместно

с образцом 16 образует одинарный мост, в диагональ которого между средней точкой резистора и одним из потенциальных электродов образца включен индикатор 8 нулевого тока (электрометр). Другой потенциальный

электрод, сигнал на котором необ.ходимо измерить, подключен к этой же средней точке резистора через источник 10 компенсирующего напряжения п индикатор 7 нулевого тока. Электрометр 9 слулчит для измерения тока.

протекающего через образец.

Компенсационная методика измерения сигналов требует, чтобы сопротивление образца между потенциальными электродами было мало по сравнению с сопротивлением всего образца. В противном случае имеет место обратная связь компенсирующего источника с токовой цепью, что приводит к ощнбочным результатам. В то же время на практике размеры образцов часто ограничены, в связи с чем

указанное требование обеспечить очень труд