Измерительный вспомогательный сегмент к поляризационному микроскопу Советский патент 1934 года по МПК G02B27/28 G02B21/26 

Описание патента на изобретение SU40005A1

Обычный вспомогательный сегмент служит, как известно, на столнке Федорова для предупреждения при наклонах препарата полного внутреннего отражения; предлагаемый измерительный вспомогательный сегмент служит, кроме того, для измерения сферических координат наклона препарата по отношению к оптической оси микроскопа; измерения производятся при помощи одного только ли.мба столика микроскопа. Основное свое назначение измерительный сегмент имеет для работы с полусферой на качалке, но такой сегмент может быть также использован.и на столике Федорова, изготовленном без лимбов и дужек, имеющих градусные деления.

На чертеже флг. 1-6 представляют различные формы выполнения измерительного вспомогательного сегмен;а. Неподвижный в держателе измерительный сегмент А (фиг. 1). Основными элементами измерительного сегмента А являются четыре или два диаметра, прочерченные под углом 45° на его плоскости II четыре или две дуги больших кругов, прочерченные через его i.epnjHHy по его сферической поверхности в плоскостях, перпендикулярных к диаметрам. Диаметры с.;ужат в ка(378)

честве осей для определения двух сферических координат наклона плоскостисегмента, а следовательно и плоскости щлифа 1 сследуемого кристалла по отнопенню к оптической оси микроскопа или осям вращения качалки или столика Федорова; прочерченные на сегменте дуги имееют своим назначением „оптическую установку перпендикулярности соотнетствуюашх диаметров к оптической оси микроскопа.

„Оптическая установка необходима для того, чтобы измерить на сто.1ике Л1икроскопа линейный угол между диаметром и осью качалки, соответствующий сферическому углу между полюсами их направлений на стереографической сетке. Полюс определ;1е.мой таким образом главной оптической или другой какой-либо плоскости в кристалле получается на стереографической сетке в пересечении двух малых кругов.

При наличии четырех дуг на сферической поверхности сегмента на его плоскости вместо четырех перекрещивающихся дпаметров достаточно иметь только два, под углом 90°.

Сегмент прикрепляется к металлическому держателю, который привинчивается к полусфере.

Неподвижный в держателе измерительный сегмент В (фиг. 2). Измерительный сегмент В состоит из двух склеенных ноловин. Сегмент имеет четыре под углом 45 или два под углом 90° прочерченных на плоскости диаметра и четыре соответствующих дуги больших кругов, прочерченных нод углом 45° через его вершину на его сферической поверхности. Кроме того TaFiofi сегмент имеет прочерченную линию его высоты. Послед1шя при наклоненной полусфере дает возможность определять плоскость падения ее экватора.

Сложный измерительный сегмент Са (фиг. 3). Сложный измерительный сегмент Са состоит из двух частей -впащаюш,ейся верхней, собственно сегмен:а с прочерченными четырьмя или двумя на его плоскости диаметрами г; пераендикулярными к ним прочер-енными па сф.ерической поверхности сегмента дугами больших кругов, и неподвижно в держателе нижней его части, предс|авляюш,ей крзплое предметное стекло с прочерченными по нему диаметром и радиусом. Сложный сегмент позволяет устанавливать в наиболее удобное положение по отношешю к определяемой в кристалле плоскости прочерченные на нем линии диаметров, служащие ссями координат для определения сферических координат плоскости; кроме того сложный сегмент дает возможность определять на столике микроскопа угол между линией простирания наклоненной плоскости полусферы и прочерченным на неподвижной нижней части сегмента дпаметром, соответствующим нулевому меридиану сетки Вульфа, что значительно упропдает определение сферических координат характерного в минерале вектора.

Враш,аемый сегмент R. Сегменты R, Rb и RC, аналогичные сегментам /4 и верхней части сегментов СЬ и Сс, вращаемые в круглс-м отверстии дер}кателя сегмента (фиг. 2), могут отчасти заменять сложный сегмент в его назначении. Для полной замены вращаемым сегментом R сложного сегмента необходимо иметь на полусфере прочерченным нулевой меридиан.

Сложный измерительный сегмент СЬ

(фиг. 4). Для непосредстзенного наблюдения угла падения наклонненой плоскости полусферы через микроскоп сложный измерительный сегмент СЬ имеет на сферической поверхности прочерченную через вершину сегмента дугу большого круга с трех-пятиградусными делениями; на вращающемся сегменте с прочерченной такой дугой достаточно иметь один нрочерченный на его плоскости динметр.

Сложный измерительньп сегмент Сс (фиг. 5). На сферической поверхности сложного измерительного сегмента Сс прочерчена от вершины до шяроты в 60° пунктиром спирплькзя, в один, оборот, линия; эта служит для измерения угла падения наклоненной плоскости полусферы. Угол падения измеряется при помощи столика л-икроскопа, так как каждой точке спиральной линии соответствует определепный угол азимута. Для измерении же угла лзимута л1 ;-:;п- прост| рпппя наклонеиг.ой полусфе|)Ь на таком сегменте служмт прочерченная линия его высоты, для прочерчивания которой сег-лент Илготозляется из склеенных двух его

ПОЛО13ИН.

Неподвижный в держателе измерительный сегмент D с врг.щающкг,1ся колпачком (фкг. б). Такой колпачок, изготовленпыи из ;;розрачпой пластической массы или из стекла, имеет начерченными на но.м или (Da) четырех-две дуги - или (Db) одну лугу с делениями или наконец-(Dc) спиральную линию. Колпачок вращается по краю металлического кольца, представляющего часть держате.г;я сегмента и окаймляющего сегмент широтным приэкваториальным поясом. Сегмент и--,;еет на его плоскости два диаметра NS и WO и на его сферической поверхности-пересекающиеся на его вершине две соответствующие дуги больших кругов. При иснользовании колпачка со спиралью необходимо иметь склеенный из двух ноловин сегмент с прочерченной линией его высоты.

Сегменты микроконоскопа с начерченными на них днаглетрами и дугами могут слулсить также и в качестве из.мерительных сегментов. В случае сложного измерительного сегмента углубление делается ка ни;кней стороне круг

Похожие патенты SU40005A1

название год авторы номер документа
Приспособление к столику поляризационного микроскопа для кристаллооптических измерений 1932
  • Аршинов В.В.
SU40003A1
Измерительный вспомогательный сегмент к поляризационному микроскопу 1948
  • Аршинов В.В.
SU86847A2
Приспособление к столику металлографического микроскопа или к бинокулярной лупе для измерения углов в отраженном свете и для рассматривания объектов с разных сторон 1933
  • Аршинов В.В.
SU40006A1
Приспособление к столику-гемисфере поляризационного микроскопа для направления вращения гемисферы 1944
  • Аршинов В.В.
SU81620A1
Вспомогательный сегмент-микроконоскоп для столика Федорова 1936
  • Аршинов В.В.
SU56853A2
Вспомогательный сегмент-микроконоскоп 1936
  • Аршинов В.В.
SU57795A2
Приспособление к столику поляризационного микроскопа 1944
  • Аршинов В.В.
SU69111A1
Приспособление к столику поляризационного микроскопа 1944
  • Аршинов В.В.
SU69110A2
ВСПОМОГАТЕЛЬНЫЙ СЕГМЕНТ-МИКРОКОНОСКОПА ДЛЯ СТОЛИКА ФЕДОРОВА И ЗАМЕНЯЮЩИХ ЕГО ПОЛУСФЕР К ПОЛЯРИЗАЦИОННОМУ МИКРОСКОПУ 1932
  • Аршинов В.В.
SU40004A1
Объектодержатель для микроскопа 1937
  • Аршинов В.В.
SU61800A1

Иллюстрации к изобретению SU 40 005 A1

Реферат патента 1934 года Измерительный вспомогательный сегмент к поляризационному микроскопу

Формула изобретения SU 40 005 A1

SU 40 005 A1

Авторы

Аршинов В.В.

Даты

1934-11-30Публикация

1932-03-13Подача