СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ АППАРАТУРЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЧАСТИЧНЫХ РАЗРЯДОВ Советский патент 1973 года по МПК G01R31/12 

Описание патента на изобретение SU406175A1

1

Предлагаемый способ относится к области высоковольтной и изоляционной техники и служит для градуировки аппаратуры, применяемой при количественных измерениях интенсивности частичных разрядов в изоляции высоковольтных вводов конденсаторного типа.

При количественных измерениях интенсивности частичных разрядов в изолядии по величине кажущегося заряда g градуировка измерительной аппаратуры осуществляется путем введения в схему испытаний градуировочного заряда qr, имитирующего кажущийся заряд.

Известен способ градуировки, при котором стандартный генератор прямоугольных импульсов, амплитуда которых равна Ur подключают параллельно емкости испытуемой изоляции Сх через малую емкость Сг, причем . При этом в схему вводится градуировочный заряд .

Для объектов с сосредоточенной емкостью при такой градуировке кажущийся и градуировочный заряды близки но величине.

При измерении частичных разрядов во вводах, имеющих изоляцию, разделенную проводящими или полупроводящими обкладками на п слоев величина кажущегося заряда q не соответствует величине градуировочного заряда 9г Оценить величину кажущегося заряда в этом случае можно лишь расчетно из соотощения q n-qr, так как емкость слоя СхПри подключении градуировочного генераора через малую емкость параллельно испыуемому объему Сх возникает ощибка измерений, зависящая от отнощения Сх/Сг и увеличивающаяся с уменьшением этого отношения. Приемлемые значения погрешности получаются при Сх/Сг существенно больше десяти. Для объектов с небольщой емкостью (например, высоковольтных вводов) выполнение условия Сх/Сг Ю может оказаться затруднительным, так как величина емкости Сг оказывается настолько малой, что существенно сказывается влияние паразитных емкостей, особенно в испытательных установках на высокие напряжения, имеющих значительные размеры.

Кроме того, применяемая градуировка практически может проводиться лишь при отсутствии на объекте высокого испытательного напряжения. После градуировки перед приложением высокого напряжения градуировочная схема разбирается. Контролировать работу измерительного тракта во время проведения испытаний, которые могут быть весьма длительными, невозможно.

Предлагаемый способ градуировки свободен

от перечисленных выще недостатков. В целях

у.меньшения погрешностей измерений при регистрации частичных разрядов в изоляции высоковольтных вводов, при градуировке аппаратуры градуировочный генератор подключают через малую емкость к измерительной обкладке ввода, к которой подсоединяют также дополнительную , причем в этом случае градуировку аппаратуры можно проводить во время испытаний высоким напряжением, приложенным к вводу.

На чертеже представлена схема осуществления предлагаемого способа градуировки.

Генератор прямоугольных импульсов Г подключается через градуировочную малую емкость Сг к измерительной обкладке ввода, служащей обычно для измерения тангенса угла диэлектрических потерь или напряжения. Параллельно емкости последней обкладки ввода С включена добавочная емкость Сд, величина которой вь1б,ирается таким образом, чтобы емкость на землю последней обкладки была равна емкости промежуточных обкладок ввода. При градуировке в результате изменения напряжения на выходе генератора Г показания измерительного прибора, подключенного к схеме градуировки через конденсатор Со, изменяются пропорционально заряду

(/г t/r- Сг.

Вводимый при этом в измерительную схему ррадуировочный заряд ql сответствует кажущемуся заряду г q, & ощибка, определяемая отнощением , существенно уменьшится, так как емкость слоя Схс много больше (в п раз) емкости ввода С.

Градуировка аппаратуры может быть проведена как перед подачей на ввод высокого напряжения, так и в ходе проведения высоковольтных испытаний ввода. В целях обеспечения безопасности обслуживания генератора прямоугольных импульсов в схеме предусмотрено щунтирующее сопротивление R. Для защиты выхода генератора от нопадания высокого напряжения при пробое градуировочного конденсатора Сг параллельно выходу генератора установлен разрядник Р.

Предмет изобретения

Способ градуировки аппаратуры для измерения частичных разрядов в изоляции высоковольтных вводов конденсаторного типа с измерительной обкладкой, основанный на создании на вводе электрического заряда, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности градуировки и обеспечения возможности градуировать аппаратуру в ходе высоковольтных испытаний без выключения испытательного напряжения, заряд созда,ют на указанной измерительной обкладке, к которой одновременно подключают дополнительную

емкость.

Похожие патенты SU406175A1

название год авторы номер документа
ИСПЫТАТЕЛЬНАЯ УСТАНОВКА ВЫСОКОГО НАПРЯЖЕНИЯ 1991
  • Аршанский И.Ш.
  • Вишневский Ю.И.
  • Кашкет М.Ш.
  • Степенков В.В.
  • Сыромятников Б.Д.
RU2010250C1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЧАСТИЧНЫХ РАЗРЯДОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1991
  • Аксенов Юрий Петрович
  • Арсентьев Виктор Михайлович
  • Головков Михаил Юрьевич
  • Ляпин Андрей Григорьевич
  • Шевцов Эдуард Николаевич
RU2019850C1
Способ градуировки аппаратуры для измерения частичных разрядов 1972
  • Баромыкин Олег Витальевич
  • Сви Павел Максович
SU446850A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ИЗОЛЯЦИИ 2011
  • Серебряков Александр Сергеевич
  • Семенов Дмитрий Александрович
RU2483312C1
Способ испытаний качества изоляции протяженных конструкций,покрытых полупроводниковым слоем 1984
  • Вдовико Василий Павлович
  • Овчинкин Сергей Михайлович
SU1257584A1
СПОСОБ И КОНТРОЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ИМПУЛЬСОВ ЧАСТИЧНОГО РАЗРЯДА ЭКРАНИРОВАННОГО КАБЕЛЯ 2018
  • Винкельманн, Эрик
RU2762249C2
ДАТЧИК ДЛЯ МОНИТОРИНГА ВЫСОКОВОЛЬТНОЙ ИЗОЛЯЦИИ 2006
  • Стьюарт Брайан Г.
  • Несбитт Алан
  • Макмикин Скотт Г.
RU2425389C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЧАСТИЧНЫХ РАЗРЯДОВ 2008
  • Вдовико Василий Павлович
RU2374657C1
Способ диагностики твердой высоковольтной изоляции 1989
  • Трипотень Илья Григорьевич
  • Вариводов Владимир Николаевич
SU1679422A1
АНАЛИЗ СОСТОЯНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО РАБОЧЕГО СРЕДСТВА 2019
  • Винкельманн, Эрик
RU2791982C2

Иллюстрации к изобретению SU 406 175 A1

Реферат патента 1973 года СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ АППАРАТУРЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЧАСТИЧНЫХ РАЗРЯДОВ

Формула изобретения SU 406 175 A1

1

1

1

i5

SU 406 175 A1

Даты

1973-01-01Публикация