ШТЕККЕРНОЕ КОММУТИРУЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО Советский патент 1973 года по МПК H01R13/26 

Известно штеккерное коммутирующее устройство, состоящее из гнездовой части, содержащей установленные в полости изоляционного корпуса нормально замкнутые контактные пары, электрически соединенные с коммутируемыми цепями, и штеккера, содержащего закрепленные на изоляционном элементе контакты разной длины, количество и расположение которых соответствует количеству и расположению контактных пар гпездовой части. Однако это устройство обеспечивает размыкание электрических цепей в той же последовательности, что и при замыкании.

Предлагаемое устройство отличается тем, что в нем, с целью получения возможности при одном движении штеккера в гнездо размыкать одни цепи и переключать другие в необходимой последовательности, указанный изоляционный элемент штеккера выполнен в виде пластины, имеющей со стороны сочленения торцовый скос, обеспечивающий определенную последовательность размыкания контактных пар гнездовой части, а контакты штеккера расположены по ширине этой изоляционной пластины на разных расстояниях относительно скоса штеккера в порядке, определяющем последовательность переключения цепей.

В качестве одного из вариантов штеккерного коммутирующего устройства представлено контактное устройство для измерения параметров транзистора.

На фиг. 1 показано гнездо описываемого штеккерного устройства, вид сбоку; па фиг. 2- то же, поперечный разрез; на фиг. 3 - штеккер описываемого устройства, вид сверху.

Гнездо штеккерного устройства содержит корпус 1, в полости которого установлен ряд фиксируемых планкой 2 пружинных контактов 3, образующих нормально замкнутые контактные пары 4, 5, 6 и 7, электрически соединенные с коммутируемыми цепями. Штеккер устройства (фиг. 4 и 5) содержит изоляционную пластину В, имеющую со стороны сочленения скос 9 в торцовой части. На одной из сторон пластины размещены пружинные контакты 10--13 разной длины, закрепленные в пазах пластины.

Процесс измерения параметров транзистора с применением контактного устройства происходит следующим образом.

Испытуемые изделия находятся в испытательном режиме. В коммутационное гнездо, электрически связанное с испытуемым изделием, вводится штеккер, при этом скос пластины разрывает цепи подачи испытательного напряжения в следующей последовательности: 4 (коллектор), 5 (эмиттер), 6 (база). При дальнейшем продвижении штеккера его пружинные контакты 10-13, находящиеся с од