Устройство для измерения нелинейности отклонения луча в электроннолучевых трубках Советский патент 1974 года по МПК H01J9/42 

Изобретение относится к области измерения параметров электроннолучевых трубок и аппаратуре с их применением. Известно устройство для измерения нелинейности отклонения электронного луча в электроннолучевых трубках, состоящее из оптической проекционной системы и регулярного механического растра, аналогичного измеряемому растру. Для контроля величины нелинейности в устройстве используется комбинационный растр, образующийся при сопряжении исследуемого растра трубки с аналогичным регулярным механическим растром, Это устройство позволяет осуществлять оперативный контроль нелинейности по всему исследуемому полю экрана трубки, однако не дает возможности определить ее точное численное значение. Цель изобретения - повышение точности, скорости и удобства изме ния нелинейности отклонения луча. Цель достигается тем, что в предлагаемом устройстве оптическая проекционная система выполнена в виде объектива с переменным фокусным расстоянием, управляющий влемент которого связан с шкалой коэффициентов оптического увеличения, непосредственно используемых для определения коэффщиента нелинейности. Предлагаемое устройство позволяет точно установить коэффициент увеличения оптической системы при использовании комбинационного растра, чем обуславливается повышение точности измерения нелинейности отклонения электронного луча. Трудоемкость измерений снижается за счет устранения необходимости детального обмера всего растра в поисках 1линимального и максимального значений расчетных величин. На чертеже изображено предлагаемое устройство, аксонометрия. Устройство содержит регулярный механический растр I, нанесенный на матированное стекло и расположенный на определенном расстояния от объектива 2 с переменным фокусным расстоянием. Шкала 3 значений коэффициента оптического увеличения связана с управляющим элементом объектива - указателем 4,

Электроннолучевая трубка 5 с исследуемым растром 6 располагается на определенном расстоянии от устройства нормально к его оптической оси. Устройство работает следуюпцам образом. Исследуемый растр проецируется с некоторым коэшфщиентом увеличения, определяемым положением управляющего элемента объектива, на механический растр, сориентированный соответственно исследуемому. При сопряжении обоих растров образуются комбинационные полосе, которые в местах равенства шагов проекции исследуемого и механического растров имеют характерные признаки муарового или обтюрационного сопряжения: в первом случае комбинационные полосы располагаются перпендикулярно к биссектрисе угла между растрами, во втором все поле данного участка однородно по плотности. Если, например, tft

-шаг механического растра, а Уг

-шаг исследуемого растра, то упомянутое сопряжение.будет иметь место при /Vi где К коэффшшент .увеличешш оптической системы. Если исследуемый растр нелинеен, то в различных его участках имеются различные значения величин пг f..B частности WZOUCK и

ATiuAO, . Для получения в этих участках муарового или обтюрационного сопряжения необходимо изменить кoэфciJИuиeнт увеличения проекционной системы таким образом, чтобы выполнялись равенства .

ЛГ, 1Схшсс /V;Lawt« и Vi /Cou /l-wiM

Известна формула для.,определения коэф1;щиента нелинейности i 9 мй,и,. /ллв/ - . которая после подстановки дает

. . л rjwa/DLi tfif .{доУ.

Таким образом, отсчитав по шкале значения наибольшего и наименьшего коэффициента увеличения, при которых возникли муаровые или обтюрационные сопршсения, можно определить.коэффициент нелинейности растра.

Данное устройство может применяться для измерения нелинейности отклонения электронного луча в электроннолучевых трубках в диапазоне от сотых долей процента до сотен процентов.

Предмет изобретения

Устройство для измерения нелинейности отклонения луча в электроннолучевых трубках, состоящее из оптической проекционной системы и регулярного механического растра, аналогичного измеряемому растру, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, скорости и удобства измерения, оптическая проекционная система выполнена в

виде объектива с переменным фокусным расстоянием, управляющий, элемент которого связан с шкалой коэффициентов оптического увеличения, непосредственно используемых

для определения коэффжщента нелинейности.