Изобретение относится к технической физике и может быть применено в машиностроительной, электротехнической, электронной и некоторых других отраслях промышленности, используюш,их метод голографической интерферометрии.
При получении голографических интерферограмм известными способами точный расчет интерференционных полос очень сложен; обычно пользуются приближенными методами расчета, часто с помощью ЭВМ.
Общий метод расчета заключается в определении изменения оптических путей, происходящих из-за деформации объекта.
Для известных схем принцип, расчета поясняется фиг. 1. S - источник объектной волны; Р - плоскость фотопластинки; f(x) - поверхность объекта до деформации; g(x) - поверхность объекта после деформации; Oi и 02 - точки наблюдения.
Пусть Л {хь г/i} - координаты произвольной точки объекта до деформации, а А{х2, г/г} - координаты той же точки после деформации. При деформации расстояние SAO изменится
на 5Л0(фиг. 1). Если ,a после
деформации SAOi (2т+1)-, то в точке А
при наблюдении из точки О возникает темная полоса. Однако при наблюдении из точки 02
2
в точке А может быть светлая полоса. Так будет, если (-|-V где M SA02-SA02
(т, п, Р - целые числа). Это обстоятельство
создает дополнительные трудности при расчете, так как нет каких-либо избранных направлений или точек наблюдения.
Цель изобретения - увеличение точности расчета интерференционных полос и деформаций объекта и упрощение методики получения голографических интерферограмм.
Это достигается тем, что по предлагаемому способу объект голографирования освещают лучом оптического квантового генератора
(ОКГ), отраженным от зеркала, расположенного непосредственно за регистрирующей средой по ходу луча ОКГ.
Предлагаемый способ значительно упрощает методику получения голографических интерферограмм по сравнению с известными, существенно облегчает настройку оптической схемы и позволяет производить быстрый и точный расчет интерференционных полос и деформаций объекта.
На фиг. 2 показана схема получения голографических интерферограмм.
Луч ОКГ 1 расщиряется микрообъективом или линзой 2 и падает на фотопластинку 3. размещенную эмульсией к освещаемому лучу.
Со стороны подложки к фотопластинке прижато зеркало 4. При съемке фотопластинка с зеркалом и объект устанавливается так, чтобы луч ОКГ, отраженный от зеркала, освещал объект. Расстояние между фотопластинкой и объектом не должно превышать половины длины когерентности излучения ОКГ. Вся методика получения голограмм сводится к подбору времени экспозиции. Зазор между подложкой фотопластинки и зеркалом заполняется какой-либо иммерсионной жидкостью (например, нитробензолом). В качестве зеркала можно использовать фольгу, зеркало наружного покрытия или обычное зеркало. В последнем случае желательно, чтобы коэффициент преломления подложек зеркала и фотопластинки был одинаков. Кроме перечисленных, можно также использовать специально приготовленные пластинки, у которых с одной стороны стеклянной подложки находится зеркало, а с другой стороны - эмульсия, в процессе химической обработки, после съемки, зеркало можно удалить. Предлагаемый способ позволяет получать голографические интерферограммы любым из известных методов: двойных экспозиций, стробоголографическим и наблюдением в реальном масштабе времени. Предмет изобретения Способ получения голографических интерферограмм путем освещения объекта и записи интерференционной картины на регистрирующей среде, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности расчета интерференционных полос и деформаций объекта, объект освещают лучом оптического квантового генератора (ОКГ), отраженным от зеркала, расположенного непосредственно за регистрирующей средой по ходу луча ОКГ.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЧАСТОТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МЕХАНИЧЕСКИХ КОНСТРУКЦИЙ | 2003 |
|
RU2237884C1 |
Способ определения деформации грунтов и горных пород | 1978 |
|
SU777574A1 |
Способ голографического контроляТРЕХМЕРНОгО фАзОВОгО Об'ЕКТА СдВуХКРАТНОй эКСпОзициЕй | 1979 |
|
SU838321A1 |
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПЛОСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ | 2009 |
|
RU2406070C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГОДНОСТИ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ РЕЗОНАТОРОВ ЧАСТОТНЫХ ДАТЧИКОВ ДАВЛЕНИЯ | 2003 |
|
RU2245527C2 |
Способ определения деформаций диффузно-рассивающих поверхностей деталей | 1981 |
|
SU953456A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НОРМАЛЬНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ ТЕЛА | 2007 |
|
RU2359221C1 |
Способ голографической двухэкспозиционной интерферометрии | 1983 |
|
SU1120160A1 |
Голографическое устройство для измерения деформаций изделий | 1974 |
|
SU575475A1 |
Голографический способ преобразования пространственных изображений | 1981 |
|
SU1088529A1 |
.Уг/
Зеркала
Никроо ъектиб или rue тема линз
Точечная 8uaippoz -io
Змульсиа
Подло ка
мнерсионноя жидкость ИолылеииеА1 или )
Поа/,гчп:;о зррхоло
Авторы
Даты
1975-03-05—Публикация
1972-07-21—Подача