Способ измерения параметров свч-транзисторов Советский патент 1974 года по МПК G01R31/26 H01L21/66 

Описание патента на изобретение SU451027A1

Изобретение относится к области радиотехнических измерений и может быть использовано при разработке и производстве мощных транзисторных усилителей и генераторов СВЧ, применяемых в различного рода радиоаппаратуре.

Известен способ измерения параметров СВЧ-транзисторов в режиме малого сигнала при подаче измерительного сигнала на транзистор со стороны его выхода, на11|)|1мер, измерение параметров рассеяния

S,2 И 82

Однако исзвестный способ непригоден для измерения указанных параметров СВЧ -транзисторов в нелинейном режиме (режиме болыиого сигнала), который имеет в MoiUHbix усилителях и генераторах. Это обусловлено зависимостью величины измеряемых параметров в мощных транзисторах от уровня входного сигнала. 11ри подаче же сигнала на транзистор только со стороны выхода и отсутствии надлежащего входного сигнала имеет место режим, резко отлича ощийся от коми-

нального. Поэтому измеренные известным способом значения указанных параметров СВЧ-транзисторов оказываются для режима большого сигнала недостаточно точными, ощибочными.

С пелью повыщения точности измерений одновременно с подачей сигнала на вход транзистора на его выход подают вспомогательный сигнал, отличающийся по частоте и амплитуде от рабочего сигнала.

Способ осуществляется следующим об разом.

Один из сигналов - рабочий - подается

.на вход транзистора и обеспечивает номинальный режим работы. Второй - вспомогательный измерительный сигнал, - несколько отличающийся от рабочего сигнала по частоте и существенно меньщий рабочего по величине, подается на транзистор со стороны выхода. Искомые параметры транзистора определяют путем регистрапии с помощью частотно-избирательной аппаратуры вспомогательного измерительного сигнала в выходной и входной СВЧ-цепях транзистора. При этом

для обеспечения высокой точности измерений мощность измерительного сигнала устанавливают такой величины, чтобы он существенно не влиял на режим работы транзистора, задаваемый рабочим сигналом, а расстройку частот измерительного и ра- ;

бочего сигналов выбирают минимальной, ; но достаточной для уверенного разрешения измерительного сигнала частотно-избирательной аппаратурой.

На чертеже схематически показан один из вариантов осуществления предлагаемого способа применительно к измерр-иию параметров рассеяния S; 22СВЧ транзисторов.

Измерение .осуществляют с помощью генератора 1 рабочего сигнала, отрезка 2

входной линии передачи, согласованной с генератором рабочего сигнала, транзистора 3 (четырехполюсник), отрезка 4 вы- | ходной линии передачи, направленного от- i ветвления 5, согласованной оконечной нагрузки 6 и генератора 7 измерительного сигнала.

С помощью генератора 1 обеспечивается заданный нелинейный режим работы транзистора 3. Направленный ответвитель ; 5 позволяет осуществить подачу на транзистор 3 измерительного сигнала от генератора 7 со стороны выхода транзистора. Таким образом, на частоте измерительного .сигнала в выходной 4 и входной 2 линиях образуется совокупность падающих и отраженных волн, необходимая для определения параметров рассеяния 5/2 22 транзистора. Соответствующие отношения падающих и отраженных волн могут быть просто измерены при помощи направленных ответвителей, включенных во входную 2 и выходную 4 линии, а также фазовращателей и частотно-избирательного прибора (измерительного приемника).

ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Способ измерения параметров СВЧ транзисторов, заключающийся в подаче на вход транзистора СВЧ рабочего сигнала, обеспечивающего требующийся режим работы транзистора и регистрации сигнала I на входе и на выходе транзистора, отли- I чающийся тем. что,с целью повышения точности измерений,дновременно с подачей сигнала на вход транзистора на его выход подают вспомогательный сигнал, отличающийся по частоте и амплитуде от рабочего сигнала.

II

Похожие патенты SU451027A1

название год авторы номер документа
Способ измерения параметров СВЧ транзисторов 1981
  • Попов Владимир Кириллович
SU1083136A1
СПОСОБ ГЕНЕРИРОВАНИЯ ШИРОКОПОЛОСНЫХ СВЧ ХАОТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ И ГЕНЕРАТОР ШИРОКОПОЛОСНЫХ СВЧ ХАОТИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ 2005
  • Дмитриев Александр Сергеевич
  • Ефремова Елена Валериевна
  • Кяргинский Борис Егорович
  • Лактюшкин Антон Михайлович
  • Панас Андрей Иванович
RU2327278C2
Способ определения полных входного и выходного сопротивлений СВЧ-транзисторов 1984
  • Индык Виталий Иванович
  • Савин Евгений Васильевич
SU1238006A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ РАССЕЯНИЯ ЧЕТЫРЕХПОЛЮСНИКА НА СВЧ 2012
  • Балыко Александр Карпович
  • Королев Александр Николаевич
  • Мякиньков Виталий Юрьевич
  • Сафонова Елена Олеговна
  • Бувайлик Елена Васильевна
RU2494408C1
МАЛОШУМЯЩИЙ ПОЛОСОВОЙ БАЛАНСНЫЙ УСИЛИТЕЛЬ СВЧ 2012
  • Григорьев Александр Анатольевич
  • Тян Владимир Ильич
  • Петров Алексей Сергеевич
RU2493647C1
Устройство для измерения параметров СВЧ-элементов 1985
  • Елизаров Альберт Степанович
  • Ревин Валерий Тихонович
  • Гришукевич Игорь Евстафьевич
SU1282023A1
СПОСОБ ГЕНЕРАЦИИ ХАОТИЧЕСКИХ СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ИМПУЛЬСОВ 2010
  • Гришин Сергей Валерьевич
  • Шараевский Юрий Павлович
  • Бегинин Евгений Николаевич
RU2421876C1
РАДИОИНТРОСКОП 1996
  • Орлов А.Б.
  • Кузнецов А.С.
  • Субботин И.Ю.
  • Денисов А.С.
  • Зорин В.В.
  • Ведерников Б.И.
  • Артамошин М.Ю.
  • Бурмистров В.М.
RU2084876C1
ПЕЛЕНГАЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО (ВАРИАНТЫ) 2010
  • Гаврилов Юрий Андреевич
  • Ландсберг Иван Леонович
  • Федоренко Иван Александрович
RU2504796C2
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ 2007
  • Рыбников Юрий Степанович
  • Александров Валерий Борисович
RU2337370C1

Иллюстрации к изобретению SU 451 027 A1

Реферат патента 1974 года Способ измерения параметров свч-транзисторов

Формула изобретения SU 451 027 A1

SU 451 027 A1

Авторы

Щербаков Виктор Всеволодович

Щербакова Нина Ивановна

Даты

1974-11-25Публикация

1971-10-05Подача