СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ ПОЛУПРОЗРАЧНОГО МАТЕРИАЛА Советский патент 1974 года по МПК G01B15/02 G01N9/24 

1

Изобретение относится к области линейных измерений, которая использует тепловое (инфракрасное излучение) контролируемого материала.

Известный способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала, например стеклянной ленты в процессе ее изготовления, заключается в том, что о толщине материала судят по результату анализа потока .инфракрасного излучения, идущего от него.

Недостатком известных -способов является их невысокая точность, определяемая нестабильностями нагрева и конечной величиной коэффициента температуропроводимости.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что, с целью повышения точности, измеряют поток излучения от участка контролируемого материала на фоне квази абсолютно чер.ного тела и поток излучения от участка контролируемого материала на фоне отражающей поверхности с известным коэффициентом отражения и о толщине контролируемого материала судят ио величине отношения этих потоков.

Предлагаемый способ иллюстрируется чертежом, где 1 - контролируемый материал, 2 - корпус, 3 - приемник инфракрасного (ИК) излучения, 4 - приемник ИК излучений, 5 - квази абсолютно черное тело, 6 - отражающая поверхность

Предлагаемый способ осуществляют в следующей последовательности.

Контролируемый материал 1 движется между корпусом 2, в котором скопированы приемНИКИ 3, 4 инфракрасного излучения, квази абсолютно черным телом 5 ,и отражающей поверхностью 6.

Приемник 3 регистрирует не только прямое излучение материала, но и излучение контролируемого материала 1, отраженное от отражающей поверхности 6 и прошедшее через контролируемый материал 1. Приемник 4 регистрирует только прямое излучение контролируемого материала. Измеряют величину отножения этих потоков, по которой л судят о толЩИне контролируемого материала I.

Формула, связывающая толщину контролируемого материала 1 и величины, характеризующие оптические свойства контролируемого материала 1, лмеет вид:

(l-r)Vi

х - п к f

А

J

2

где А; - толщина контролируемого материала 1

г - коэффициент отражения ИК излучения от отражающей поверхности fi

г-коэффициент отражения ИК излучения от поверхности контролируемого материала I,

/С - коэффициент поглощения ИК излучения в контролируемом материале 1.

Предмет изобретения

Способ измерения толщины слоя полупрозрачного материала, например стеклянной ленты в процессе ее изготовления, заключающийся в том, что анализируют поток инфракрасного излучения, идущего от материала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, измеряют лоток излучения от

участка контролируемого материала на фоне квази абсолютно черного тела и поток излучения от участка контролируемого материала на фоне отражающей поверхности с известным коэффициентом отражения и о толщине

контролируемого материала судят по величине отнощения этих потоков.

X