Фотосопротивление Советский патент 1976 года по МПК H01L31/00 H01S3/00 

Описание патента на изобретение SU457407A1

(54) ФОТОСОПРОТИВЛЕНИЕ

Похожие патенты SU457407A1

название год авторы номер документа
Измеритель мощности ик-излучения 1974
  • Валов П.М.
  • Гончаренко К.В.
  • Марков Ю.В.
  • Рывкин Б.С.
  • Рывкин С.М.
  • Ярошецкий И.Д.
SU475907A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 1996
  • Чупис В.Н.
  • Иванов С.В.
RU2124733C1
СПОСОБ ДЕТЕКТИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2012
  • Арапкина Лариса Викторовна
  • Сторожевых Михаил Сергеевич
  • Чиж Кирилл Всеволодович
  • Чапнин Валерий Алексеевич
  • Юрьев Владимир Артурович
RU2503090C1
КВАНТОВО-РАДИОИЗОТОПНЫЙ ГЕНЕРАТОР ПОДВИЖНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА И ФОТОНОВ В КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКЕ ПОЛУПРОВОДНИКА 2015
  • Войтович Виктор Евгеньевич
  • Гордеев Александр Иванович
  • Думаневич Анатолий Николаевич
RU2654829C2
СПОСОБ ЛАЗЕРНОГО ОТДЕЛЕНИЯ ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПЛЕНКИ ИЛИ СЛОЯ ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПЛЕНКИ ОТ РОСТОВОЙ ПОДЛОЖКИ ЭПИТАКСИАЛЬНОЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ СТРУКТУРЫ (ВАРИАНТЫ) 2011
  • Шретер Юрий Георгиевич
  • Ребане Юрий Тоомасович
  • Миронов Алексей Владимирович
RU2469433C1
Материал на основе InGaAs на подложках InP для фотопроводящих антенн 2016
  • Галиев Галиб Бариевич
  • Климов Евгений Александрович
  • Клочков Алексей Николаевич
  • Мальцев Петр Павлович
  • Пушкарев Сергей Сергеевич
  • Китаева Галия Хасановна
RU2657306C2
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МНОГОСЛОЙНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР НА ПОЛУИЗОЛИРУЮЩИХ ПОДЛОЖКАХ 1994
  • Принц В.Я.
RU2094908C1
Способ определения подвижности неосновных носителей заряда (его варианты) 1983
  • Болгов Сергей Семенович
  • Ботте Виктор Александрович
  • Липтуга Анатолий Иванович
  • Малютенко Владимир Константинович
  • Пипа Виктор Иосифович
  • Яблоновский Евгений Иванович
SU1160484A1
Способ контроля качества полупроводниковых структур 1990
  • Бочарова Ирина Александровна
  • Рыжков Михаил Петрович
SU1823036A1
Модулятор добротности резонатора лазера инфракрасного диапазона 1979
  • Зубаков А.В.
  • Линник Л.Ф.
  • Липтуга А.И.
  • Малютенко В.К.
SU822724A1

Реферат патента 1976 года Фотосопротивление

Формула изобретения SU 457 407 A1

1

Изобретение относится к технике измерения временных и энергетических характеристик импульсов инфракрасного излучения СО и СО лазеров ( Я 10,6 мкм и 5,3 мкм соответственно) различной дли- тепьности вплоть до длительности 5 .,

Известны различные устройства для измерения временных и энергетических характеристик импульсов инфракрасного излучения СО и СО лазеров. Одними из наиболее распространенных являются устройства, датчики которых работают на принципе измерения межзонной или примесной фотопроводимости.

Однако такими устройствами невозможно измерять импульсы ивлучения длительностью короче 10 сек, а также их датчику часто требуется принудительное охлаждение. Так например, наиболее быстрые из известных в настоящее вреьет фотоприемников для СО -лазера - фотосопротивления на основе + 5Ь требуют принудительного охлаждения и имеют разрешение не лучше 10 сек.

Для измерения временных и энергетических характеристик импульсов инфракрасного излучения СО и СО лазеров с длительностью вплоть до 5-10 сек и обеспечения возможности работы при комнатной температуре предлагаемое фотосопротивпение, служащее датчиком излучения, вьшолнено из дырочного материала с шириной запрещенной зоны, более чем в два раза превышающей энергию кванта излуче ния, примесные центры которого ионизированы, фотосопротивление для получения наилучщей чувствительности при регистрации излучения СО -лазера может быть выполнено из дырочного германия, легированного элементами Щ группы, например Gtt или I п .

Работа фотосопротиБления, выполненного из материала, примесные центры которого ионизированы, основана на явлении разогревной уМ -фотопроводимости, характеристическое время которой - 10 сек. При этом для разогрева носителей предполагается использовать, как наиболее эф фективные, квантовые фотопереходы между подаонами валентной аоны дырочных материалов. Под действием света, падающего на фотодатчик, меняется, вспедствие изменения подвижности, его сопротивление, что приводит к изменению тока в цепи. Это из- менение тока регистрируется по .изменению напряжения, снимаемого с нагрузочного сопоотивпения. Размеры площади датчика могут варьироваться в зависимости от величины пятна падающего на него излучения Концентрация свободных носителей материа фотосопротивления не должна в случае СО, лазера превышать уровень в , так как при более высоких концентрациях существует опасность появления тепловых сигна лов, конкурирующих с сигналами фотопроводимости. Оптимальной концентрацией с точки зрения чувствительности для длины волны 10,6 мкм является концентрация 6 10 см , Эксперимент при длительности лазерного импульса 10 сек для этой концентрации следующую величину относительной фотопроводимости О,1 при интенсивности падающего на образец света 1 МВТ/СМ, что неплохо согласуется с теоретическими оценками. Формула изобретения 1. Фотосопротивление для измерения временных и энергетических х актеристик инфракрасного излучения, выполненное ив по« лупроводника с шириной запрещенной зоны более чем в два раза превышающей энергию кванта излучения, отличающееся тем, что, с целью повышения временного разрешения и обеспечения возможности ра боты при комнатной температуре, фотосопро тивление выполнено из дырочного полупроводника с ионизированными примесными центрами. 2. Фотосопротивление по п. 1, о т л и чающееся тем, что оно выполнено из оырочного германия, легированного элементами 111 группы, например G-a , I п .с концентрацией свободных носителей в диапазоне 10 -

SU 457 407 A1

Авторы

Валов П.М.

Рывкин Б.С.

Рывкин С.М.

Ярошецкий И.Д.

Даты

1976-08-25Публикация

1973-04-02Подача