Устройство для измерения коэффициента отражения дифракционной решетки Советский патент 1975 года по МПК G02B5/18 G01M11/02 

Описание патента на изобретение SU469942A1

sm a + sin 3 К.П}:.

где /7 - порядок, в котором работает решетка;

, - длима волны;

К. - постоянная решетки. Свет падает на выходной объектив 4 н после прохождения его собирается «а выходпой щели 5, где строится монохроматическое 13ображение входной щели /. Лосле прохождения выходной щели 5 свет собирается па приемной площадке фотоприемнпка 6.

Благодаря повороту выходного объектива 4, выходной щели 5 и приемной площадки фотоприемпика вокруг оси, совпадающей с центром дифракционной решетки 3, можно производить измерения при любых углах дифракции. За счет вращения дифракционной решетки 3 вокруг той же оси обеспечивается возможность осуществить измерения показателя отражения при любых углах падения излучения на решетку 3.

Таким образом, предлагаемое устройство позволяет производить измерения при любых условиях работы дифракционной решетки. При установке вогнутых дифракционных решеток входной объектив 2 занимает такое положение, при котором изображение входной щели /, образованное объективом 2, совпадает с точкой, лежащей на круге Роуланда исследуемой вогнутой решетки. Для удовлетворения этих условий должно быть выдержано следующее соотношение: 2-(/7 + а) t+pRcQ,(i-(Rcos ) / 0,(I)

где f - расстояние от загнутой решетки до

объектива 2; р - база прибора, равная расстоянию

от входной шели 1 до решетки 5; / - фокусное расстояние входного

объектива 2; R- радиус испытуемой решетки 3.

При решении этого уравнения из двух решений для / выбирается то, которое является конструктивно возможным.

Аналогично выражению (I) существует математическая зависимость для определения положения выходного объектива 4 относительно испытуемой дифракционной решетки :

Г - {р -f R cos P)f-f рК cos -f

-f Л- cos p) f 0,(II)

где t - расстояние от вогнутой решетки до

выходного объектива 4; р - расстояние от выходной щели 5 до решетки 3;

f - фокусное расстояние выходного

объектива 4;

R - радиус иснытуемой решетки 3. В случае работы плоских дифракционных решетак выражения (I) и (И) упрощаются и объективы 2 4 располагаются так, что входпая щель / находится в переднем фокусе объектива 2, который, следовательно, посылает па исследуемую дифракционную решет ку 3 параллельный пучок света. Выходная щель 5 находится в заднем фокусе объектива 4 и, следовательно, пучок лучей, дифрагиро;ванный дифракционной решеткой 3, собирается на выходной щели 5.

При работе по автоко 1лимационной схеме а 3 входной объектив 2 является и выходным, т. е. выполняет роль объектива 4 и тогда

расстояние t t.

Одним из вариантов использования предложенного устройства является его работа по автоколлимационной схеме. В этом случае свет, дифрагированный испытуемой плоской или вогнутой дифракционной решеткой, БОЗвращается по тому же направлению, по которому падал на дифракциониую рещетку, выходной объектив 4 не участвует в образовании изображения входной щели / (на выходной щели 5), и изображение входной щели / строится объективом 2 на вспомогательной щели 7, закрепленной неподвижно вблизи щели /.

Таким образом, с помощью предлагаемого устройства можно измерять показатели отражения для любых (правых и левых) порядков дифракции при любых длипах волн как для плоских, так и для вогнутых дифракционных решеток.

Предмет изобретения

Устройство для измерения коэффициента отражения дифракционной решетки, содержащее поворотный держатель дифракционной решетки, неподвижную входную щель, выходную щель, источник света, установленный перед входной щелью, фотоприемник, расположенный за выходной щелью, и входной объектив, установленный между входной щелью и

держателем, отличающееся тем, что, с целью обеспечения возможности измерения коэффициента отражения как плоской, так .и вогнутой дифракционной решетки, оно снабжено выходным объективом, установленным между держателем и выходной щелью с возможностью осевого перемещения и совместного с выходной щелью поворота вокруг оси вращения держателя, а входной объектив - с возможностью перемещения вдоль его оптической оси.

J

Of

Похожие патенты SU469942A1

название год авторы номер документа
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ ВЫСОКОЭФФЕКТИВНЫЙ КР-СПЕКТРОМЕТР 2012
  • Булдаков Михаил Аркадьевич
  • Матросов Иван Иванович
  • Петров Дмитрий Витальевич
RU2492434C1
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей 1990
  • Котляр Виктор Викторович
  • Сойфер Виктор Александрович
  • Храмов Александр Григорьевич
SU1760312A1
Способ измерения фокусного расстояния объективов и устройство для его реализации 1982
  • Сойту Вячеслав Андреевич
  • Скворцов Юрий Сергеевич
  • Лысенко Александр Иванович
  • Трегуб Владимир Петрович
SU1080054A1
Спектрофотометр 1985
  • Дубатова Тамара Владимировна
  • Казакевич Юрий Ефимович
  • Ларионов Виктор Николаевич
  • Тоболов Анатолий Алексеевич
SU1286910A1
УЧЕБНО-ДЕМОНСТРАЦИОННАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ЯВЛЕНИЙ И ТЕСТ-ОБЪЕКТ ДЛЯ ЕЕ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2014
  • Алексеев Сергей Андреевич
  • Стафеев Сергей Константинович
RU2567686C1
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ СПЕКТРОМЕТР 2007
  • Лабусов Владимир Александрович
  • Зарубин Игорь Александрович
  • Саушкин Максим Сергеевич
RU2375686C2
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1996
  • Спирин Е.А.
  • Захаров И.С.
RU2094758C1
ПОЛИХРОМАТОР 1992
  • Савушкин А.В.
  • Дубровин А.Н.
  • Тверитинов М.П.
RU2054638C1
Спектральный прибор 1981
  • Александров Олег Васильевич
  • Куимов Олег Анатольевич
  • Лебедев Евгений Иванович
  • Тарасов Константин Иванович
SU1038813A1
Устройство для измерения светорассеяния отражательных дифракционных решеток 1984
  • Стожарова Кира Андреевна
SU1195316A1

Иллюстрации к изобретению SU 469 942 A1

Реферат патента 1975 года Устройство для измерения коэффициента отражения дифракционной решетки

Формула изобретения SU 469 942 A1

SU 469 942 A1

Авторы

Лобачев Михаил Владимирович

Даты

1975-05-05Публикация

1973-01-02Подача