sm a + sin 3 К.П}:.
где /7 - порядок, в котором работает решетка;
, - длима волны;
К. - постоянная решетки. Свет падает на выходной объектив 4 н после прохождения его собирается «а выходпой щели 5, где строится монохроматическое 13ображение входной щели /. Лосле прохождения выходной щели 5 свет собирается па приемной площадке фотоприемнпка 6.
Благодаря повороту выходного объектива 4, выходной щели 5 и приемной площадки фотоприемпика вокруг оси, совпадающей с центром дифракционной решетки 3, можно производить измерения при любых углах дифракции. За счет вращения дифракционной решетки 3 вокруг той же оси обеспечивается возможность осуществить измерения показателя отражения при любых углах падения излучения на решетку 3.
Таким образом, предлагаемое устройство позволяет производить измерения при любых условиях работы дифракционной решетки. При установке вогнутых дифракционных решеток входной объектив 2 занимает такое положение, при котором изображение входной щели /, образованное объективом 2, совпадает с точкой, лежащей на круге Роуланда исследуемой вогнутой решетки. Для удовлетворения этих условий должно быть выдержано следующее соотношение: 2-(/7 + а) t+pRcQ,(i-(Rcos ) / 0,(I)
где f - расстояние от загнутой решетки до
объектива 2; р - база прибора, равная расстоянию
от входной шели 1 до решетки 5; / - фокусное расстояние входного
объектива 2; R- радиус испытуемой решетки 3.
При решении этого уравнения из двух решений для / выбирается то, которое является конструктивно возможным.
Аналогично выражению (I) существует математическая зависимость для определения положения выходного объектива 4 относительно испытуемой дифракционной решетки :
Г - {р -f R cos P)f-f рК cos -f
-f Л- cos p) f 0,(II)
где t - расстояние от вогнутой решетки до
выходного объектива 4; р - расстояние от выходной щели 5 до решетки 3;
f - фокусное расстояние выходного
объектива 4;
R - радиус иснытуемой решетки 3. В случае работы плоских дифракционных решетак выражения (I) и (И) упрощаются и объективы 2 4 располагаются так, что входпая щель / находится в переднем фокусе объектива 2, который, следовательно, посылает па исследуемую дифракционную решет ку 3 параллельный пучок света. Выходная щель 5 находится в заднем фокусе объектива 4 и, следовательно, пучок лучей, дифрагиро;ванный дифракционной решеткой 3, собирается на выходной щели 5.
При работе по автоко 1лимационной схеме а 3 входной объектив 2 является и выходным, т. е. выполняет роль объектива 4 и тогда
расстояние t t.
Одним из вариантов использования предложенного устройства является его работа по автоколлимационной схеме. В этом случае свет, дифрагированный испытуемой плоской или вогнутой дифракционной решеткой, БОЗвращается по тому же направлению, по которому падал на дифракциониую рещетку, выходной объектив 4 не участвует в образовании изображения входной щели / (на выходной щели 5), и изображение входной щели / строится объективом 2 на вспомогательной щели 7, закрепленной неподвижно вблизи щели /.
Таким образом, с помощью предлагаемого устройства можно измерять показатели отражения для любых (правых и левых) порядков дифракции при любых длипах волн как для плоских, так и для вогнутых дифракционных решеток.
Предмет изобретения
Устройство для измерения коэффициента отражения дифракционной решетки, содержащее поворотный держатель дифракционной решетки, неподвижную входную щель, выходную щель, источник света, установленный перед входной щелью, фотоприемник, расположенный за выходной щелью, и входной объектив, установленный между входной щелью и
держателем, отличающееся тем, что, с целью обеспечения возможности измерения коэффициента отражения как плоской, так .и вогнутой дифракционной решетки, оно снабжено выходным объективом, установленным между держателем и выходной щелью с возможностью осевого перемещения и совместного с выходной щелью поворота вокруг оси вращения держателя, а входной объектив - с возможностью перемещения вдоль его оптической оси.
J
Of
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ ВЫСОКОЭФФЕКТИВНЫЙ КР-СПЕКТРОМЕТР | 2012 |
|
RU2492434C1 |
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей | 1990 |
|
SU1760312A1 |
Способ измерения фокусного расстояния объективов и устройство для его реализации | 1982 |
|
SU1080054A1 |
Спектрофотометр | 1985 |
|
SU1286910A1 |
УЧЕБНО-ДЕМОНСТРАЦИОННАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ЯВЛЕНИЙ И ТЕСТ-ОБЪЕКТ ДЛЯ ЕЕ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2014 |
|
RU2567686C1 |
МНОГОКАНАЛЬНЫЙ СПЕКТРОМЕТР | 2007 |
|
RU2375686C2 |
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО | 1996 |
|
RU2094758C1 |
ПОЛИХРОМАТОР | 1992 |
|
RU2054638C1 |
Спектральный прибор | 1981 |
|
SU1038813A1 |
Устройство для измерения светорассеяния отражательных дифракционных решеток | 1984 |
|
SU1195316A1 |
Авторы
Даты
1975-05-05—Публикация
1973-01-02—Подача