Устройство для измерения степени поляризации электомагнитного излучения Советский патент 1975 года по МПК G01N21/44 

Описание патента на изобретение SU486258A1

Изобретение относится к технике поляризационного и спектрального анализа электромагнитного излучения и может быть использовано для измерения степени поляризации оптического излучения из заданных областей пространственно неоднородных источников. Ь этих условиях высокая точность измерений обеспечивается только при полной идентичности и стабильности юстировки ортогонально поляризованных пучков, что исключает применение вращающихся поляризаторов. Известно устройство, содержапд,ее неподвижный линейный двупреломляющий поляризаторанализатор, разделяющий пучки с ортогональной поляризацией. Интенсивности этих пучков измеряются одновременно независимыми фотоэлектрическими трактами. Недостатки известного устройства: влияние дисперсии анализатора на смещение в пространстве ортогонально поляризованных пучков, необходимость раздельной юстировки пучков по всему оптическому тракту, а также усложненность системы регистрации и ухудшение стабильности ее работы, вызванные разделением фотоэлектрического тракта. Цель изобретения - устранение влияния дисперсии анализатора, упрощение юстировки устройства, а также повышение стабильности работы и упрощение системы регистрации. Поставленная цель достигается с помощью дополнительного поляризатора, идентичного анализатору по оптическим параметрам и установленного относительно него под углом 180. Указанный поляризатор собирает пучки, разделенные анализатором. Оба поляризатора выполнены в виде плоскопараллельных анизотропных пластин и установлены относительно элементов фокусирующей системы так, чтобы действительные изоОражения источника излучения в лучах ортогональной поляризации полностью разделялись в пространстве между пластинами. В плоскости изображений установлен модулятор, периодически перекрывающий пучки с ортогональной поляризациеи. Модулятор расположен за задним фокусом предшествующей ему линзовой системы в плоскости, в которой размер изображения /р (/ - поперечный размер источника, р - увеличение линзовой системы) оказывается меньше расхождения ортогонально поляризованных пучков+ n,ctg -, где d - толщина анизотропных пластин, 7 - угол между нормалью к рабочим граням и кристаллографической осью этих пластин, По - показатель преломления обыкновенного луча в пластинах.

Пе-показатель преломления необыкновенного луча, распространяющегося в пластинах перпендикулярно кристаллографической оси.

При этом координата плоскости изображений задаётся величиной р. Для реальных значений d и фокусных расстояний линз указанное условие может быть выполнено только в том случае, если в плоскости установки модулятора строятся уменьшенные изображения источника излучения.

На фиг. 1 приведена оптическая и электрическая схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 построен ход лучей после анализатора.

Устройство содержит источник излучения 1, плоскопараллельную анизотропную пластинуанализатор 2, собирающую анизотропную пластину 3, спектрограф 4, фокусирующую систему, включающую диафрагму 5, линзы 6 и 7, систему регистрации излучения, включающую модулятор 8, фотоумножитель 9, широкополосный усилитель 10, блок управления 11, пересчетные приборы 12 и 13.

Устройство работает следующим образом.

Излучение источника 1 через диафрагму 5 фокусируется линзой 6 и разделяется на два ортогонально поляризованных пучка пластиной-анализатором 2. Уменьшенные изображения источника строятся в плоскости АА. Модулятор 8 поочередно перекрывает каждый из пучков. Пластина 3 собирает проходящие через нее ортогонально поляризованные пучки. Линза 7 строит совмещенное изображение источника в плоскости входной щели спектрографа. Монохроматическое излучение регистрируется с помощью фотоумножителя 9, усилителя 10 и двух пересчетных приборов 12 и 13. Блок управления согласовывает модуляцию пучков с моментом подклюления к усилителю соответствующего пересчетного прибора, задает частоту модуляции и время экспозиции.

Устройство позволяет измерять распределение поляризации излучения вдоль выделенного направления в широком спектральном диапазоне, с точностью, определяемой только точностью установки устройства относительно источника и статистическими погрешностями.

Предмет изобретения

Устройство для измерения степени ноляризации электромагнитного излучения, содержащее фокусирующую систему, неподвижный линейный двупреломляющий поляризатор-анализатор, спектральный прибор и систему регистрации излучения, отличающееся тем,

что, с целью устранения влияния дисперсии анализатора, упрощения юстировки устройства, а также повышения стабильности и упрощения системы регистрации, оно снабжено собирающим поляризатором, идентичным по

своим оптическим параметрам анализатору, установленным под углом 180° относительно последнего, причем упомянутые поляризаторы выполнены, в виде плоскопараллельных анизотропных пластин, и модулятором, установленным между поляризаторами за задним фокусом линзовой системы, расположенной до него, в плоскости, для которой выполняется условие

. Т + я ctg -I

J d

1,

где / - поперечный размер источника излучения, р - увеличение упомянутой линзовой системы в плоскости установки модулятора, 7 - угол между нормалью к рабочим граня.м и кристаллографической осью упомянутых пластин, d - толщина пластин, «о - показатель преломления обыкновенного луча в пластинах,

Пе - показатель преломления необыкновенного луча, распространяющегося в пластинах перпендикулярно кристаллографической оси.

Похожие патенты SU486258A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОРИЕНТАЦИИ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ОСЕЙ В АНИЗОТРОПНОМ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКОМ КРИСТАЛЛЕ КЛАССА 3m 2012
  • Литвинова Ман Нен
  • Криштоп Виктор Владимирович
  • Алексеева Лариса Владимировна
RU2528609C2
Приемная оптическая система 1988
  • Юрьев Валентин Федорович
  • Насонов Вячеслав Васильевич
  • Рылик Виктор Константинович
SU1659961A1
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ ИЗОТРОПНЫХ И АНИЗОТРОПНЫХ МАТЕРИАЛОВ 1991
  • Андрущак Анатолий Степанович[Ua]
RU2102700C1
УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК 2012
  • Исимару Итиро
RU2544876C1
Рефрактометр для анизотропных кристаллов 1982
  • Рокос Иржи Антонович
SU1100541A1
Эллипсометр 1988
  • Ковалев Виталий Иванович
SU1695145A1
Устройство для контроля полупроводниковых материалов 1990
  • Гамарц Емельян Михайлович
  • Дернятин Александр Игоревич
  • Добромыслов Петр Апполонович
  • Крылов Владимир Аркадьевич
  • Курняев Дмитрий Борисович
  • Трошин Олег Филиппович
SU1746264A1
ПОЛЯРИЗАТОР 1998
  • Беляев С.В.
  • Малимоненко Н.В.
  • Мирошин А.А.
  • Хан И.Г.
RU2143125C1
Устройство для определения поперечных смещений объекта 1991
  • Зацаринный Анатолий Васильевич
  • Терехов Сергей Петрович
  • Точилин Константин Эдуардович
SU1793205A1
ПОЛЯРИМЕТР ПОГРУЖНОЙ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ДОЛИ АРОМАТИЧЕСКИХ УГЛЕВОДОРОДОВ В СВЕТЛЫХ НЕФТЕПРОДУКТАХ 2020
  • Пеньковский Анатолий Иванович
  • Фаттахова Маргарита Васильевна
RU2730040C1

Иллюстрации к изобретению SU 486 258 A1

Реферат патента 1975 года Устройство для измерения степени поляризации электомагнитного излучения

Формула изобретения SU 486 258 A1

SU 486 258 A1

Авторы

Бусыгин Эдуард Петрович

Григорьянц Валерий Георгиевич

Явор Игорь Прокофьевич

Даты

1975-09-30Публикация

1972-04-19Подача