Электромагнитный дефектоскоп Советский патент 1975 года по МПК G01N27/86 

(54) Э/ШКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

I Изобретение относится к средствам элек тромагнитной структуроскопии изделий и может -быть использовано для контроля и сортировки протяженных электропроводящих материалов. Известен электромагнитный дефектоскоп содержащий токовихревой преобразователь и связанный с ним входом анализатор сигналов по длительности и амплитуде. Однако производительность контрольносортировочных операций при применении известного дефектоскопа недостаточная. Се лектор сигналов по длительности и амплитуде в известном дефектоскопе выполнен в виде последовательно связанных триггеров и генератора счетных импульсов. Целью изобретения является повышение производительности контрольно-сортировоч ных операций при дефектоскопии движущих сяизделий. Для этого анализаторсигналов по длительности и амплитуде выполнен в виде ре щающего блока, связанных с ним выхода- I ми амплитудного дискриминатора и блока сравнения, один вход которого соединен с входом амплитудного дискриминатора, нодключенных к другому входу задатчика временных интервалов и преобразователя скорости движения изделия в электрический сигнал и счетчиков дефектов, соединенных с выходами решающего блока. На чертеже приведена структурная электрическая схема дефектоскопа. Электромагнитный дефектоскоп содержит генератор 1, соединенный с ним токовихревой преобразователь 2, с которым связан через детектор 3 анализатор сигналов по длительности и амплитуде, состоящий из амплитудного дискриминатора 4, связанного входом с одним из входов блока сравнения 5, с вторым входом которого соединен задатчик 6 временных интервалов, рещающего блока 7, связанного входами с амплитудным дискриминатором 4 и блоком сравнения 5, а выходами - со счетчиками 8, 9, 10 дефектов, преобразователя 11 скорости движения изделия в электрический сигнал, соединенного выходом с задатчиком 6 временных интервалов. j Дефектоскоп работает следующим обра-1

I Генератор 1 возбуждает преобразоватепь 2, выходной сигнал последнего nocTjпает на детектор 3, На-выходе детектора 3 выделяется огибаю1дая и подается на дискриминатор 4 и блок 5 сравнения. На другой вход блока S подаются импульсы от задатчика 6 временных И11тервалов. В зависимости от длительности сигнала, поступающего с детектора 3, появляется сигнал на одном из выходов блока 5. На входы решающего блока 7 поступают сигналы с дискриминатора 4 и блока 5. Блок 7 посылает импульсы тока в один из счет чиков 8, 9, 1О в зависимости от глубины

дефекта.

Блок 7 представляет собой дешифратор, который выдает сигналы, эквивалентные зависимостям параметров сигнала преобразователя 2 от протяженности и глубины дефектов. Задатчик 6 временных интервалов управляется преобразователем 11.

Таким образом распознавание дефектов по глубине ведется с учетом их длины и

{независимо от скорости перемещения изделия.

Формула изобретения

V Электромагнитный дефектоскоп, содержащий токовихревой преобразователь и связанный с ним входом анализатор сигналов по длительности и амплитуде, jO тличающийся тем, что, с целью повышения производительности контрольносортировочных 1операций при дефектоскопии движущихся изделий, анализатор сигналов по длительности и амплитуде выполнен в виде решающего блока, связан|ных с ним выходами амплитудного дискриминатора и блока сравнения, один вход которого соединен с входом амплитудного дискриминатора, подключенных к другому входу задатчика временных интервалов

и преобразователя скорости движения изделия в электрический сигнал и счетчиков дефектов, соединенных с выходами решающего блока.