Устройство для аттестации штриховых мер Советский патент 1976 года по МПК G02B27/32 

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ШТРИХОВЫХ МЕР

1

Изобретение относится к области приборостроения, а именно к устройствам для аттестации штриховых мер длины.

Известны устройства для аттестации мер длины (штриховых), содержащие регистрирующую систему с фотопрнемниками и эталонный элемент, служащий для комнарации.

Цель изобретения - упрощение конструкции устройства, повышение его точности и создание возможности аттестации щтриховых мер в процессе нарезания их на делительной мащине.

Это достигается тем, что эталонный элемент выполнен в внде диафрагмы с двумя щелямн, расстояние между которыми равно единице масштаба нарезаемой штриховой меры, а два фотоприемника регистрирующей системы установлены напротив щелей диафрагмы для регистрации положения дифракционных минимумов от щели и аттестуемого щтриха.

На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство для аттестации штриховой меры 1 содержит источник 2 монохроматического света (лазера), оптическую систему 3. В непосредственной близости от нарезаемой меры 1 параллельно ее плоскости расположена образцовая диафрагма 4, имеющая две щели 5, расстояние между которыми выдержано строго в соответствии с масщтабом нарезаемой меры и равно шагу подачи стола делительной

машины. За щелями 5 диафрагмы 4 установлены два фотоприемника 6 с частотным выходом, что обеспечивается использованием лампового мультивибратора с положительным смещением на сетке (на чертеже не показан).

Перед фотоприемниками размещены диафрагмы 7, обеспечивающие прохождение накатод (не показан) фотоприемника светового потока в зоне первого минимума дифракционной картины. Обработка сигнала с фотоприемников 6

нроисходит в дифференциальном усилителе 8 и частотомере 9.

Штриховая мера 1 перемещается вместе со столом (не показан) делительной мащины при нарезании очередного щтриха, освещается источником 2 монохроматического света. Луч лазера расширяется и коллимируется оптической системой 3. Далее фотоприемники 6 регистрируют манимумы дифракционной «артины от щели 5 и аттестуемого штриха 10.

Сигналы с фотоприемников поступают на усилитель 8 и далее на частотомер 9. Таким образом, симметричное расположение штрихов меры относительно центра диафрагмы 4 и,

кроме того, относительно центра прорезей диафрагмы соответствует номинальному размеру между штрихами, т. е. погрешность аттестованных штрихов равна 0. В этом случае сигнал на выходе системы также равен нулю. Любое смещение штриха меры в прорези диафрагмы 4 вызывает изменение дифракционной картины в плоскости диафрагмы 7, т. е. смещение порядков дифракционной картины. Это обусловливает появление на выходе системы сигнала, пропорционального данному смещению. При этом погрешность из-за нестабильности подачи стола делительной машины не влияет на точность аттестации, поскольку регистрирующая система дифференцирует смещение каждого штриха относительно своей прорези, выдавая на выход дифференциальный сигнал.

Формула изобретения

Устройство для аттестации штриховых мер, содержащее регистрирующую систему с фотоприемниками и эталонный элемент, служащий для компарации, отличающееся тем, что, с целью упрощения конструкции устройства, повышения его точности и создания возможности аттестации штриховых мер в процессе нарезания их на делительной машине, эталонный элемент выполнен в виде диафрагмы с двумя щелями, расстояние между которыми равно единице масштаба нарезаемой штриховой меры, а два фотоприемника регистрирующей системы установлены напротив щелей диафрагмы для регистрации положения дифракционных минимумов от щели и аттестуемого штриха.