Способ измерения рефрактометрических постоянных Советский патент 1976 года по МПК G01N21/46 

Описание патента на изобретение SU505942A1

Известны способы измерения рефрактометрических постоянных, при которых световой поток депят на П монохроматических пучков, модулируют их со сдвигом во времени, пропускают через дифференциальную кювету, собирают на фотоприемнике, а изменения величины сигнала измеряют электронным устройством. Эти способы не позволяют получить необходимую точность анализа. Цель изобретения - повышение точности измерения. Поставленная цель достигается тем, что группируют световые пучки из трех или четырех разных по спектру монохроматических пучков, последовательно сдви гают их во времени так, что электрические сигналы от фотоприемника, оказываются сдвинутыми по фазе на 90 , после прохождения световых пучков через образец изменяют интенсивность пучков, образующих электрические сигналы, лежащие в противо- фазе, оставляя при этом неизменной интенсивность светового пучка, образующего электрический сигнал, сдвинутый по фазе на 90 относительно указанных сигналов, В случае измерения средней или частной дисперсии и показателя преломления для любой длины волны общий световой поток делят на три световых пучка., В случае измерения дисперсиометрического коэффициен. . - 1,04 где П, - показатели преломления для линий Я„ и Я , общий световой погток делят на четыре световых пучка. При необходимости одновременного измерения нескольких рефрактометрических постоянных общий световой поток делят на П пучков, из которых создают группы, содержащие три или четьфе световь1х пучка. Деление общего светового потока на пучки производят, например, с помощью многощелевой диафрагмы, выделяют в каждом световом пучке нужные участки спектра, например, с помощью светофильтров, модулируют каждый световой пучок последовательно со сдвигом во времени так, что П-образные электрические сигналы от них, снимаемые с фотоприемника, оказываются сдвинутыми между собой по фазе на 9О . Затем все разделенные световые пучки пропускакэт через дифференциальную кювету с образцовой и исследуемой жидкостью и изменяют интенсивность тех пучков, которые образуют электрические сигналы, лежащие в противофазе, причем количество изменяемых световых пучков и их выбор зависят от решаемой задачи. Эти изменяемые по интенсивности световые пучки при изменении контролируемого продукта создают переменную составляющую результирующего электрическогю сигнала. При измерении параметра контролируемого продукта оставляют неизменной интенсивность только одного светового пучка, который образует электрический сигнал, сдвинутый по фазе на 90 или 180 относительно переменных сигналов.

И, наконец, все световые пучки собирают на одном фотоприемнике, а изменения величины амплитуды переменной составляющей или величины фазы снимаемого с него результирующего электрического сигнала, пропорциональные контролируемому параметру, измеряют обычным амплитудо- или фазоизмерительным электронным устройством. Формула изобретения

Способ измерения рефрактометрических постоянных, при котором общий световой поток делят на h монохроматических пучков, модулируют их со сдвигом во времени, пропускают через дифференциальную кювету, собирают на фотоприемнике, а изменения величины сигнала измеряют электронным устройством, отличающийся тем что, с целью повышения точности измерения, световые пучки группируют из трех или четырех разных по спектру монохроматических пучков, последовательно сдвигают их во времени так, что электрические сигналы от фотоприемника оказываются сдвинутыми по фазе на 90 , после прохождения световых пучков через образец изменяют интенсивность пучков, образующих электрические сигналы, лежащие в противофазе, оставляя при этом неизменной интенсивност светового пучка, образующего электрический сигнал, сдвинутый по фазе на 9О относительно указанных сигналов.

Похожие патенты SU505942A1

название год авторы номер документа
Автоматический рефрактометр 1968
  • Желудов Борис Алексеевич
  • Журавлев Михаил Алексеевич
SU517836A1
Способ измерения дисперсии и показателя преломления 1969
  • Желудов Б.А.
  • Журавлев М.А.
  • Орешко А.М.
  • Михеева Е.Г.
  • Иоффе Б.В.
  • Герштейн Л.М.
SU434297A1
Фотоэлектрический способ измерения концентрации вещества 1979
  • Александров Максим Леонидович
  • Кузьмин Борис Пантелеевич
  • Павленко Владимир Антонович
SU792103A1
ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ РЕФРАКТОМЕТР 1973
  • Б. И. Молочников, Б. Я. Карасик М. В. Кормер
SU405059A1
Способ определения критического угла полного внутреннего отражения света 1976
  • Пеньковский Анатолий Иванович
  • Исхаков Бронислав Омарович
  • Жданов Владимир Николаевич
SU684409A1
Устройство для измерения параметров перемещения объекта 1985
  • Аранчук Вячеслав Михайлович
  • Дрик Федор Григорьевич
  • Савилова Юлия Ивановна
SU1260685A1
РЕФРАКТОМЕТР 1972
SU335585A1
Способ определения профиля показателя преломления оптических неоднородностей и устройство для его осуществления 1990
  • Преснов Михаил Викторович
SU1777053A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1989
  • Лысенко Г.А.
SU1816082A1
Способ определения угловой скорости 1989
  • Скрипник Виктория Иосифовна
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Довгополый Анатолий Степанович
  • Кузнецов Игорь Михайлович
SU1760455A1

Реферат патента 1976 года Способ измерения рефрактометрических постоянных

Формула изобретения SU 505 942 A1

SU 505 942 A1

Авторы

Желудов Борис Алексеевич

Журавлев Михаил Алексеевич

Даты

1976-03-05Публикация

1968-06-04Подача