Способ отсчета по линейной шкале Советский патент 1976 года по МПК G01B11/00 

Описание патента на изобретение SU532001A1

хов 4 (изображенных схематично на чертеже), 3 результате чего на выходе фотодатчнка появляется последовательность измерительных импульсов f/ng. Одновременно с началом сканирования запускают генератор опорных импульсов и on, которые используются как эквпваСленты индекса, и генератор занолняюгцих импульсов УЗ. Считая число :V имнульсоа Us, генерируемое в промежутке времени между опорным Uon и измерительным t/из сигналами, нроизводят отсчет, определяюп1,ий расстояние межд индексом Uou и штрихом 4, или, например, царапиной 2. Кроме величипы N в процессе измерения непрерывно определяют число М заполняющих импульсов (Уз между всеми находящимися в поле зрения соседними парами измерительных импульсов L/,,3. Результат текущего отсчета величины М Л1тек сравнивают с наибольщим из предшествующих

М Мыакс. Если , ТО форМИруЮТ импульс запрета, с помощью которого на выход системы регистрации не пропускают отсчет Л , полученный в промежутке, где фиксировали уИтск. Если же Л4тек Л4макс, ТО его запоминают и используют в качестве Ломаке, с которым сравнивают все полученные впоследствии значения Мтек.

Таким образом, ошибка в измерении поз можна тол1)КО в том случае, когда все интервалы шкалы, находящиеся в момент отсчета в ноле зрения, имеют цараиины 2 или инородные включения 3, вероятность чего весьма мала.

Формула изобретения

Способ отсчета ло линейной шкале, заключаюндийся в определении положения индекса относ1ггельио одного из иттрихов шкалы, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности отсчета, сравнивают между собой величины интервалов, образованных соседними штрихами, находят наибольший из интервалов и измеряют расстояние от индекса до одного из штрихов, ограничивающих этот иитервал.

Источники информации, нрииятые во внимаиие при экснертизе:

1.Ю. Л. Полупов «Фотоэлектрические микроскопы и автоколлиматоры в машиностроении, изд. НИИМащ, М., 1971 г.

2.Авторское свидетельство N° 374494 но М. Кл.2 G 01В 11/02, 73 г. (нрототип).

Похожие патенты SU532001A1

название год авторы номер документа
Фотоэлектрический способ контроля положения рабочего органа станка 1974
  • Кацнельсон Леонид Борисович
  • Коган Федор Исаакович
SU511162A1
Устройство для поверки стрелочных приборов с круговой шкалой 1981
  • Сихарулидзе Важа Михайлович
  • Войцицкий Валерий Васильевич
SU1106985A1
Устройство для поверки стрелочных приборов с круговой шкалой 1981
  • Сихарулидзе Важа Михайлович
  • Войцицкий Валерий Васильевич
SU1259106A1
ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ОТСЧЕТНОГО КРУГА УГЛОМЕРНОГО ИНСТРУМЕНТА 1992
  • Привер Л.С.
RU2082087C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ И ПЕРЕМЕЩЕНИЯ ОБЪЕКТА 1999
  • Данилов В.А.
  • Маламед Е.Р.
  • Петров Ю.Н.
  • Новоселецкая С.А.
RU2220402C2
Измеритель радиусов сферических оптических поверхностей 1981
  • Скворцов Юрий Сергеевич
  • Волков Борис Павлович
  • Голод Семен Давидович
  • Данилевич Фридрих Моисеевич
  • Киваев Анатолий Александрович
  • Элькинд Соломон Абрамович
SU1048308A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛА НАКЛОНА ПОВЕРХНОСТИ 2013
  • Артемов Алексей Дмитриевич
  • Бадальян Георгий Андроникович
  • Михайловский Аркадий Евгеньевич
  • Петров Валерий Васильевич
  • Комбаров Михаил Сергеевич
RU2548575C2
Фотоэлектрическая система измерения ширины диафрагмы 1989
  • Борисюк Леонид Васильевич
  • Коваленко Владимир Анатольевич
  • Осьмак Александр Николаевич
SU1763888A1
ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЙ ШИРОКОДИАПАЗОННЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ЛИНЕЙНЫХ СМЕЩЕНИЙ 1993
  • Привер Л.С.
RU2069309C1
Устройство для измерения размера объектов 1978
  • Назаренко Виталий Георгиевич
SU827974A1

Иллюстрации к изобретению SU 532 001 A1

Реферат патента 1976 года Способ отсчета по линейной шкале

Формула изобретения SU 532 001 A1

SU 532 001 A1

Авторы

Кацнельсон Леонид Борисович

Коган Федор Исаакович

Даты

1976-10-15Публикация

1974-04-12Подача