Способ контроля центрировки поверхностей оптической системы Советский патент 1976 года по МПК G01B11/26 G01M11/00 

(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЦЕНТРИРОВКИ

ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ ного устройства 2 имеет подвижку вдоль оси для фокусировки на автоколлимацио ные точки А контролируемого объектива 4. Знаком А и индексами Oi . обозначены центры кривизны сферических отражателей. Все сферические отражатели опираются на одну и ту же базу - торец корпуса автоколлимационного устройства 2, благодаря чему их центры кривизны расположены на одной прямой. Контролируемый объектив 4 и корпус автоколлимационного устройства 2 выставлены друг относительно друга таким образом, что центры криви ны двух сферических отражателей совпадают с двумя автоколлимационными точками (А, -А 2 ) контролируемого объектива 4. Несовпадение остальных автокодлимационных точек контролируемого объектива 4 с центрами кривизны сферических отреежателей свидетельствует о наличии децентрировки соответствующих поверхностей контролируемого объектива относительно оси, проходящей через точки А ;, -А , на котором расположенъ центры кривизны всех сферических отражателей. Контроль центрировки поверхностей объ ектива 4 производят следующим образом. Сохраняя неизменной взаимную ориентировку объектива 4 и корпуса автоколлимационного устройства 2, при выведенном из пучка лучей сферическом отражателе перемещают вдоль оси объектива 3 до полу чения в поле зрения окуляра 5 резкого изображения К ., марки от контролируемо объектива 4. Фиксируют поверхности N координаты Хр.. и д.. изображения. Х% После этого на торце корпуса автоколлимационного устройства 2 устанавливают сферический отражатель N центр кривизнъ которого должен совпадать с точкой / N и фиксируют по сетке 6 окуляра координаты X Q.. и YQ .J изображения марки автоколлимационного устройства 2 от этого сферического отражателя. Децентрировка контролируемой поверхности N объектива 4 определяется из выражения: CN N-VN - VH-YVN - где сК. - цена деления сетки окуляра для данного положения объектива 3 ft - увеличение части оптики объектива 4, расположенной между объективом 3 и контролируемой поверхностью N - коэффициент, учитывающий вли1шие децентрировки оптических поверхностей объектива 4, расположенных между объективом 3 и контролируемой поверхностью N Аналогичные операции выполняются ри контроле всех последующих поверхностей объектива 4. Формула изобретения Способ контроля центрировки поверхностей оптической системы, при котором автоколлимационное устройство, например, трубку Забелина, фокусируют последовательно на автокаллимационные изображения его марки от всех поверхностей контролируемой оптической системъ, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, при определении децентрировки каждой поверхности оптич еской системы в пространстве между контролируемой системой и автокоплимационным устройством вводят сменные отражатели, разность радиусов кривизны которых равна расстояниям между автоколлимационными точками контролируемой оптической системы, а направление и величину деце№трировки поверхности определяют по расположению изображенной ею марки относительно автоколлимационного изображения той же марки от отражателя. Источники информахщи, принятые во вн мание при экспертизе: JL. А. Н. Бардин Сборка и юстировка оптических приборов. Высшая школа, 1968 г., стр. 61-67. 2. Н. Т. Ельников и др. Сборка и юотировка оптико-механических прибс ов, Машиностроение, 1974 г., стр. 111-114