Многолучевой интерферометр Советский патент 1977 года по МПК G01J3/26 G01B9/02 

(54) МНОГОЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР - В: аругом варианте исполнения с делью утузеяьшения числа оптических а1ементов отра жаюшиА и поверхностями в первом случае могут служить повергсности поляризаторов с нанесенными на них отрахкакзщимй покрытиями, а во вторО1«4 случае - поверхности пластин и поляризатора с отражающими покрытиями. На фиг. 1-4 показаны различные модификации многолучевого интерферометра. Интерферометр содержит пластины 1 с от ражающими noKpbiTHSJMK 2, пластину 3, вращающую плоскость пол53ризации, к поляризаторы 4 и 5,; Приншш работы интерферометра заключается в следующем, Благодаря дисперсии вращения плоскости поляризапии пропускание интерфероме -ра .называется максимальным только в тех интерференпионньк порядках, для которых, вращение плоскости поляризации в плacтшie . 3 соответствует углу между, главными осями пйчяризаторов 4 и 51 интерференционные порядки эффективно ослаблязотся благодаря наличию поляризаторов. Настройха максимума пропускания интерферометра : на требуемую длину волны cyщecтвJ яe1cя изменением угла между главными осями по- ляризаторов 4 и 5, Область дисперсии интер ферометра определяется, из условия: f (А ,):: к Ti, как D / Д - Я ., , / .4к - 1 где tf - угол вращения плоскости поляризации для излучения с длиной волны X , К - целое положительное , определяемое толщиной пластины 3, Полуширина максимума пропускания определяется жением: где f - оптическая толщина зазора между отрезающими покрытиями. В зависимости от толщины пластины 3 и дисперсии вращения плоскости поляризации в ней отношение п /д,, D/o DO может изменяться от нескольк1-зх может изменяться от нескольких десятков до нескольких тысяч. На фиг. 2 изображена схема интерферометра, в котором с целью получения разяичных характеристик пропускания (невзаимности) при прямом и обратном прохождении нз / учения один из поляризаторов 5 расположей внутри, а второй 4 « вне зазора интерфер1 метра. (Обозначения: на фаг, 2 те же, что и на фиг. 1). При этом его характеркстнаа .пропускания шиеет вид:; ( cos f « ) .. „.зГ 4 00524 г Т H-Rcos2) Г i где Т с оответствует падению излучения на i ИЕтерферометр в upsiwoM направлении (слева) и в числителе берется знак (), а Т соответствует обратному направленшо распространения светового щгчка н в числителе б& рется знак (+); Ъ -оптическая толщина зазора между . зеркалами, 1 - козффиЕиент отражения зеркал интерферометра,; yroji разворота поляризатора 4 по отношению к поляризатору 5, f угол невзаимного вращения плоскостиполягризации пластиной 3. Как следует из приведенного выражения, . разность пропускания интерферометра в пря MDM и обратном направлениях (амплитудная невзаимность) определяется как: -i-S) 2-1 4Rcos2if „.,,, ,,„ SiTT Схема интерферометра, изображенного на фиг, 2, облагает тег-л преимуществом по срав- нению с предыдущей, что позволяет произвелднть настройку максимума гфопускания на требуемую волны tij-TeM вращения поляризатора, раслолэжеиного вне зазора интерферометра, что не приводит к; разъюстировке последнего. На фиг. 3, 4 изображены схемы интерферометров, Б которых,с целью уменьшения числа элементов., отражающие покрытия нанесены непосредственно ив поверхности поляризаторов, и пластины, вращающей плоскость поляризации. (Обозначения на фиг. 3, 4 те же, что и на . 1). Очевид.но, что схема на фиг, 3 соответствует схеме фиг. 1, а схема на фиг, 4 схеме на фргг. 2. Таким образом, предлагаемый интерферометр по сравнению с известными обладает существеш 0 более высоким отношением об, ласти дисперсии к полуширине шп-ерферен - .- J i- t-f ционного максимума пропускания. Формула изобретени s 1. Многолучевой .интерферометр с двумя отражающими поверхностями, отличающийся тем, что, с делью повышения его селективности за счет увеличения отношения области дисперсии к полуширине полосы пропускания, интерферометр содержит пластину, вращающую плоскость поляриза ЦЕН, установленную между отражающимЕ поверхностями, и два попзризатЪра, причем пластина расположена между поляризаторами. 2. Интерферометр по п, 1, отличающий с я тем, что, с цеушю получения

; невзаимности характеристики лрсжусханиа а: yNfeHbJtieHas раз-ысстиронЕи при его перестройке, один из поляризаторой расположен. снаружи от отражающих поверхностей, а второй - между пластиной и отрб;кающей поверхностью.,

3. Интерферометр по п. 1, отлича;о щ я и с я тем, что в качестве отражающих поверхностей служат поверхности ползфнзаторов с нанесенными на них этражающтчй

HOJKpblTHSMH.

4. Интерферометр шзп. 2, отличающийся тем, что в гачестве отражанушпх поверхностей слуасат поверхности пластины н поляризатора с нанесенными на них отражающими покрытиями.

Источники ин|)орма1ши, принятые во внимание при экспертизе:

1 Скоков И. В. Многолучевые интерферометры , М., 1969, 22.

2, Оптика и cneKTpocKonEsf, 1971, 31, 766 (прототип).

/х

L1

S 2

23

V-AГ/