Способ интерференционного измерения показателя преломления прозрачных твердых тел Советский патент 1977 года по МПК G01N21/46 

Описание патента на изобретение SU553525A1

Для однбвременного измерения локального абсолютного значения показателя преломления в любой точке образца последний вьтолняют со скошениой гранью. Близость показателей преломления иммерсии, эталона и среднего показателя преломления образца, а также плавно изменяющаяся геометрическая толщина образца и эталона приводят к тому, что интерференционное поле практически не имеет разрьша на границах образец - иммерсия и эталон - иммершя, что позволяет определить показатель преломления в любой точке образца по отноцюнию к показателю преломления иммерсии, показатель преломления иммерсии по отношению к показателю преломления эталона и, следовательно, показатель преломления в любой точке образца по отношению к показателю преломления эталона, согласно формуле

А К, АдК Л

J

d

где rt - показатель преломления образца в любой точке;

Пз- показатель преломления эталона; X - дш1на волны света; Д Кэ-смещение интерференционного поля на границе эталон-иммерсия,

А К - смещение интерференционного поля в выбранной точке образца относительно интерференционного поля иммерсии.

Процесс измерения сводится к фотографированию интерференционной картины и последующему измерению расстояния между соответствующими точками. В процессе измерений показатель преломления иммерсил плавно измегяют, например, путем нагревания. В тот момент, когда показатель преломления иммерсии Становится равным

показателю преломления образца в некоторой точке и соответствующая интерференционная полоса проходит через эту точку, не отклоняясь, фотографируют интерференционную картину.

Так как показатель преломления эталона может быть измерен с точностью до Мб, точность метода в наибольщей степени определяется наличием градаента температуры внутри кюветы и точностью регистрации сдвига интерференционных полос в поле образца и эталона.

Формула изобретения

Способ интерференционного измерения показателя преломления прозрачных твердых тел путем пропускания светового потока через иммерсию с помещенными в нее образцом и эталоном со скоцвнными гранями и создания интерференционного поляполос равной толщины, отличающийся тем что, сцельюповыщения точности измерения локальны абсолютных значений показателя преломления образца для света с заданной длиной волны, образец и эталон располагают так, чтобы их скощенные грани пересекали полосы интерференционного поля, и о значении показателя преломления образца судят по величине сдвига полос интерференционного поля в выбранной точке образца относительно интерференционного поля эталона.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1. Авторсасое свидетельство № 144304, кл. G 01 п.21146, 1960.

2. НЛСапани, Волоконная оптика. Изд. Мир, М, 1964,с. 180 (прототип). ,

Похожие патенты SU553525A1

название год авторы номер документа
ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2004
  • Калашников Евгений Валентинович
  • Рачкулик Светлана Николаевна
  • Михайлова Алла Геннадьевна
RU2275592C2
Способ определения показателя преломления оптически прозрачных слоев 1977
  • Бандура Мирослав Петрович
  • Пашкуденко Валерий Петрович
  • Прохоров Валерий Анатольевич
SU739383A1
Устройство для определения показателя преломления 1990
  • Александров Сергей Алексеевич
  • Черных Игорь Валентинович
SU1755125A1
СПОСОБ СКАНИРУЮЩЕЙ ДИЛАТОМЕТРИИ И ДИЛАТОМЕТР ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2020
  • Ходунков Вячеслав Петрович
RU2735489C1
Способ измерения профиля поверхности оптических деталей с помощью лазерной фазосдвигающей интерферометрии 2019
  • Голяева Анастасия Юрьевна
  • Лобанов Петр Юрьевич
  • Мануйлович Иван Сергеевич
  • Сидорюк Олег Евгеньевич
RU2722631C1
Способ измерения толщины тонкой пленки и картирования топографии ее поверхности с помощью интерферометра белого света 2016
  • Киселев Илья Викторович
  • Сысоев Виктор Владимирович
  • Киселев Егор Ильич
  • Ушакова Екатерина Владимировна
  • Беляев Илья Викторович
  • Зимняков Дмитрий Александрович
RU2641639C2
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ДИЛАТОМЕР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТКЛР МАЛОРАСШИРЯЮЩИХСЯ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ 1993
  • Аматуни А.Н.
  • Компан Т.А.
  • Тагабилев Г.Х.
  • Шувалов В.И.
  • Мочалов В.В.
RU2089890C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ РАЗНОСТИ ФАЗ 1990
  • Скрипник Ю.А.
  • Замарашкина В.Н.
  • Скрипник И.Ю.
RU2028577C1
Способ определения координат изменения структуры клетки по фазовым изображениям 2021
  • Левин Геннадий Генрихович
RU2761480C1
Устройство для измерения фотоупругих постоянных материалов 1989
  • Кульбенков Владимир Матвеевич
  • Редько Всеволод Петрович
  • Штейнгарт Леонид Моисеевич
SU1762206A1

Иллюстрации к изобретению SU 553 525 A1

Реферат патента 1977 года Способ интерференционного измерения показателя преломления прозрачных твердых тел

Формула изобретения SU 553 525 A1

.1

SU 553 525 A1

Авторы

Ильин Владимир Глебович

Полянский Михаил Николаевич

Грязнова Ирина Петровна

Даты

1977-04-05Публикация

1975-07-22Подача