интенсивность вторичных позитронов с энергией Е -600 мэв как функция угла поворота монокристалла. Анализ интенсивности тормозного из лучения гамма-квантов энергии U; проводят по измерению вторичных позитронов энергииЕ Ео- ш, где Ед-начальная энергия позитрона,Позитроны,ускоренны на линейном ускорителе 1 (см. фиг. 1) до энергии 1 гэв, попадают на монокристалл 2 (кристалл кремния). После излучения фотонов энергии «J вторич цые позитроны выделяются спектрометром 3 с разрешением- - 0,01 и регистрируются ионизационной камерой 4. Монокристалл 2 с толщиной 0,64 мм помещен в гониометрическую головку 5 так, чтобы направление его кристаллографической оси (110) было близко к направлению пучка позитронов, вращение монокристалла 2 осуществляется вокруг оси (001). В области углов, близких к направлению оси пучка позитронов (точнее, не превышающих так называемого критического угла каналирования позитронов наблюдается существенное уменьшение интенсивности вторичных позитронов (за счет эффекта .канала), указывающее на значительное уменьшение интенсивности тормозного излучения (см.фиг.2) Снижение интенсивности т ормозного излучения позволяет увеличить отношение Зд / т I и, кроме того, уменьшение многократного рассеяния в канале . монокристалла позволяет увеличить интенсивность аннигиляционных фотонов за счет увеличения толщины монокристалла . Формула изобретения Способ получения монохроматических гамма-квантов, основанный на аннигиляции позитронов на лету при взаимодействии пучка позитронов с мишенью, о тличающийся тем, что, с целью уменьшения относительного вклада тормозного излучения и исключения ушире ния спектра, обусловленного многократным рассеянием позитронов в мишени, пучок позитронов направляют на монокристалл, который ориентируют так, чтобы угол между осью пучка позитронов и одной из главных кристаллографических осей был меньше критического угла каналирования позитронов в данном монокристалле, а пучок позитронов формируют так, чтобы его расходимость была меньше указанного угла каналирования. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: l..-Rev. ,v.l03, p. 1055,1956. 2 iSeMwotra ei ae.Phvs Rev-, V. 121, p. 605,1961.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения фононных частот кристаллических твердых тел | 1982 |
|
SU1089493A1 |
Устройство для определения кристаллографических направлений монокристаллов | 1983 |
|
SU1176457A1 |
Источник ионизирующего излучения (его варианты) | 1982 |
|
SU1088557A1 |
Источник линейно-поляризованного гамма-излучения | 1981 |
|
SU1009234A1 |
Способ юстировки коллиматора пучка тормозного @ -излучения | 1984 |
|
SU1202490A1 |
Способ получения электромагнитного излучения | 1980 |
|
SU869496A1 |
Способ получения электромагнитного излучения | 1979 |
|
SU758933A1 |
Импульсный источник нейтронов | 1979 |
|
SU794787A1 |
Способ ориентирования монокристаллической мишени | 1981 |
|
SU976509A1 |
Способ генерации электромагнитного излучения | 1982 |
|
SU1101050A1 |
/
IIIIIIUIII 111111111 n
-5
-Ю
О
Iff в, нра9
Фиг. 2
Авторы
Даты
1978-01-05—Публикация
1972-04-24—Подача